L’appropriation des potentialités du dispositif de formation Moodle entre : investissement engagé et résistance des étudiants en contexte algérien

Résumé : Il est indéniable que la numérisation a profondément bouleversé et métamorphosé le paysage de l’enseignement au supérieur. L’adoption de l’E Learning a influé considérablement la vocation des enseignants ainsi que celle des étudiants, ces derniers sont désormais appelés à assurer un nouveau statut. La situation sanitaire imprévue a accentué le recours aux TIC qui est devenue un quasi- impératif dans le secteur pédagogique. Parmi ces diapositifs numériques l’adoption de la plateforme pédagogique Moodle à l’université constituait une issue pour maintenir la continuité des cours et faire face aux défis posés par le passage soudain au nouveau scénario pédagogique. Ce choix avait pour objectif d’améliorer l'expérience d'apprentissage des étudiants et promouvoir leur réussite académique. La présente contribution vise à démontrer l’intérêt accordé par les étudiants de français de l’université Larbi Ben M’Hidi d’Oum El Bouaghi au dispositif de formation Moodle. Pour ce faire, nous avons lancé une enquête par questionnaire en ligne destinés aux étudiants pour recueillir des données sur leurs usages, leurs difficultés et notamment leurs perceptions de l'utilisation de la plateforme Moodle. Mots-clés : TIC, étudiants, plateforme Moodle, dispositif, formation universitaire en ligne

A New Hybrid Cryptosystem Involving DNA,Rabin, One Time Pad and Fiestel

Information security is a crucial need in the modern world. Data security is a real concern, and many customers and organizations need to protect their sensitive information from unauthorized parties and attackers. In previous years, numerous cryptographic schemes have been proposed. DNA cryptography is a new and developing field that combines the computational and biological worlds. DNA cryptography is intriguing due to its high storage capacity, secure data transport, and massive parallel computing. In this paper, a new combination is proposed that offers good security by combining DNA, the Rabin algorithm, one time pad, and a structure inspired by Fiestel. This algorithm employs two keys. The first key is a DNA OTP key which is used for only one secure communication session. The second key, which combines the public and private keys, is a Rabin key. Additionally, by using a Feistel inspired scheme and randomness provided by DNA, the ciphertext is made harder to obtain without the private key.Comment: 11 page

Multiphase induction motor drives - a technology status review

The area of multiphase variable-speed motor drives in general and multiphase induction motor drives in particular has experienced a substantial growth since the beginning of this century. Research has been conducted worldwide and numerous interesting developments have been reported in the literature. An attempt is made to provide a detailed overview of the current state-of-the-art in this area. The elaborated aspects include advantages of multiphase induction machines, modelling of multiphase induction machines, basic vector control and direct torque control schemes and PWM control of multiphase voltage source inverters. The authors also provide a detailed survey of the control strategies for five-phase and asymmetrical six-phase induction motor drives, as well as an overview of the approaches to the design of fault tolerant strategies for post-fault drive operation, and a discussion of multiphase multi-motor drives with single inverter supply. Experimental results, collected from various multiphase induction motor drive laboratory rigs, are also included to facilitate the understanding of the drive operatio

Suppression of Stochastic Domain Wall Pinning Through Control of Gilbert Damping

Finite temperature micromagnetic simulations were used to investigate the magnetisation structure, propagation dynamics and stochastic pinning of domain walls in rare earth-doped Ni80Fe20 nanowires. We first show how the increase of the Gilbert damping, caused by the inclusion rare-earth dopants such as holmium, acts to suppress Walker breakdown phenomena. This allows domain walls to maintain consistent magnetisation structures during propagation. We then employ finite temperature simulations to probe how this affects the stochastic pinning of domain walls at notch-shaped artificial defect sites. Our results indicate that the addition of even a few percent of holmium allows domain walls to pin with consistent and well-defined magnetisation configurations, thus suppressing dynamically-induced stochastic pinning/depinning phenomena. Together, these results demonstrate a powerful, materials science-based solution to the problems of stochastic domain wall pinning in soft ferromagnetic nanowires

Développement de la microscopie interférométrique pour une meilleure analyse morphologique des couches minces et épaisses des matériaux semiconducteurs et optiques

Les techniques d'interférométrie microscopiques, basées sur le principe de l'interférence lumineuse, ont connu un développement considérable au cours des dernières années. On distingue deux familles de techniques : la microscopie à saut de phase (PSM) bien adaptée pour l'analyse de défauts peu profonds à l'échelle nanométrique et la microscopie à sonde de faible cohérence (CPM) pour permettre la mesure de reliefs beaucoup plus profonds.Le but de cette étude porte sur l'amélioration des performances du montage de l'interféromètre microscopique en termes de sa précision, de sa résolution, de son contrôle automatique et de son utilisation dans la caractérisation des couches minces et épaisses utilisées dans la microélectronique et dans l'optique. En particulier, de nouveaux algorithmes de contrôle, de traitement et d'analyse ont été conçus pour faciliter la caractérisation des couches, et pour corriger certaines erreurs dans les méthodes PSM et CPM.Pour mieux cerner les performances et les limites du système, nous avons effectué des études comparatives entre nos propres mesures en PSM et en CPM et les mesures faites avec d'autres techniques (stylet, AFM, MEB et microscopie confocale) à travers trois applications. Nous avons montré dans la première application que la PSM pourrait être utilisée pour l'étalonnage quantitatif du procédé de recuit laser des couches de Si-poly pour les écrans plats d'une manière souple, non-destructive et beaucoup plus rapide que les méthodes classiques. Dans la deuxième application, nous avons montré que l'utilisation de la CPM pourrait contribuer à un prototypage rapide des Éléments Optiques Diffractifs (EODs) en raison de sa rapidité, de sa précision et de sa capacité de profiler correctement des couches transparentes épaisses. Dans la troisième et dernière application, une nouvelle technique interférométrique non-destructive a été développée pour caractériser les interfaces enterrées sous une couche transparente.Interference microscopy techniques, based on the principle of optical interference, have gone through considerable development during the last few years. Two families of techniques can be distinguished : Phase Stepping Microscopy (PSM), which is well adapted for the analysis of nanometric surface roughness, and Coherence Probe Microscopy (CPM) for the measurement of deeper micronic surface relief.The aim of this work is to improve the performance of the interference microscopy system, in terms of its precision, resolution, automatic control and use in the characterization of thin and thick layers used in microelectronics and optics. In particular, new algorithms for controlling the system and for processing and analysing the data have been developed to facilitate the characterization of layers, and to correct certain errors in the PSM and CPM measurements.To better understand the performances and limits of the system, some comparative studies were carried out between PSM and CPM measurements and those made with other techniques (stylus, SEM, AFM, and confocal microscopy) through three applications. We have shown in the first application that PSM could be used for the quantitative optimisation of the laser annealing process of poly-Si layers for flat panel displays in a flexible, non-destructive and faster manner than by using classical methods. In the second application, we have shown that the use of CPM could contribute to a new method of rapid prototyping of Diffractive Optical Elements (DOEs) due to its rapidity, precision, and ability to correctly profile thick transparent layers. In the third and last application, a new non-destructive interference technique has been developed for characterizing interfaces buried under a transparent layer

Développement de la microscopie interférométrique pour une meilleure analyse morphologique des couches minces et épaisses des matériaux semiconducteurs et optiques

Les techniques d'interférométrie microscopiques, basées sur le principe de l'interférence lumineuse, ont connu un développement considérable au cours des dernières années. On distingue deux familles de techniques : la microscopie à saut de phase (PSM) bien adaptée pour l'analyse de défauts peu profonds à l'échelle nanométrique et la microscopie à sonde de faible cohérence (CPM) pour permettre la mesure de reliefs beaucoup plus profonds.Le but de cette étude porte sur l'amélioration des performances du montage de l'interféromètre microscopique en termes de sa précision, de sa résolution, de son contrôle automatique et de son utilisation dans la caractérisation des couches minces et épaisses utilisées dans la microélectronique et dans l'optique. En particulier, de nouveaux algorithmes de contrôle, de traitement et d'analyse ont été conçus pour faciliter la caractérisation des couches, et pour corriger certaines erreurs dans les méthodes PSM et CPM.Pour mieux cerner les performances et les limites du système, nous avons effectué des études comparatives entre nos propres mesures en PSM et en CPM et les mesures faites avec d'autres techniques (stylet, AFM, MEB et microscopie confocale) à travers trois applications. Nous avons montré dans la première application que la PSM pourrait être utilisée pour l'étalonnage quantitatif du procédé de recuit laser des couches de Si-poly pour les écrans plats d'une manière souple, non-destructive et beaucoup plus rapide que les méthodes classiques. Dans la deuxième application, nous avons montré que l'utilisation de la CPM pourrait contribuer à un prototypage rapide des Éléments Optiques Diffractifs (EODs) en raison de sa rapidité, de sa précision et de sa capacité de profiler correctement des couches transparentes épaisses. Dans la troisième et dernière application, une nouvelle technique interférométrique non-destructive a été développée pour caractériser les interfaces enterrées sous une couche transparente.Interference microscopy techniques, based on the principle of optical interference, have gone through considerable development during the last few years. Two families of techniques can be distinguished : Phase Stepping Microscopy (PSM), which is well adapted for the analysis of nanometric surface roughness, and Coherence Probe Microscopy (CPM) for the measurement of deeper micronic surface relief.The aim of this work is to improve the performance of the interference microscopy system, in terms of its precision, resolution, automatic control and use in the characterization of thin and thick layers used in microelectronics and optics. In particular, new algorithms for controlling the system and for processing and analysing the data have been developed to facilitate the characterization of layers, and to correct certain errors in the PSM and CPM measurements.To better understand the performances and limits of the system, some comparative studies were carried out between PSM and CPM measurements and those made with other techniques (stylus, SEM, AFM, and confocal microscopy) through three applications. We have shown in the first application that PSM could be used for the quantitative optimisation of the laser annealing process of poly-Si layers for flat panel displays in a flexible, non-destructive and faster manner than by using classical methods. In the second application, we have shown that the use of CPM could contribute to a new method of rapid prototyping of Diffractive Optical Elements (DOEs) due to its rapidity, precision, and ability to correctly profile thick transparent layers. In the third and last application, a new non-destructive interference technique has been developed for characterizing interfaces buried under a transparent layer.STRASBOURG-Sc. et Techniques (674822102) / SudocSudocFranceF

Effet des acides gras n-3 sur la synthèse des lipides chez le lapin

National audienc