41 research outputs found

    Surface Topography and Texture Restoration from Sectional Optical Imaging by Focus Analysis

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    International audienceThis chapter focused on image restoration of both topographical and textural information of an observed surface from a registered image sequence acquired by optical sectioning through the common concepts of Shape-From-Focus (SFF) and Extended Depth-of-Field (EDF). More particularly, the essential step of these complementary processes of restoration: the focus measurement, is examined. After a brief specialized review, we introduced novel evolved focus measurements that push the limits of state-of-the-art ones in terms of sensitivity and robustness, in order to cope with various frequently encountered acquisition issues

    Modeling and applications of the focus cue in conventional digital cameras

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    El enfoque en c谩maras digitales juega un papel fundamental tanto en la calidad de la imagen como en la percepci贸n del entorno. Esta tesis estudia el enfoque en c谩maras digitales convencionales, tales como c谩maras de m贸viles, fotogr谩ficas, webcams y similares. Una revisi贸n rigurosa de los conceptos te贸ricos detras del enfoque en c谩maras convencionales muestra que, a pasar de su utilidad, el modelo cl谩sico del thin lens presenta muchas limitaciones para aplicaci贸n en diferentes problemas relacionados con el foco. En esta tesis, el focus profile es propuesto como una alternativa a conceptos cl谩sicos como la profundidad de campo. Los nuevos conceptos introducidos en esta tesis son aplicados a diferentes problemas relacionados con el foco, tales como la adquisici贸n eficiente de im谩genes, estimaci贸n de profundidad, integraci贸n de elementos perceptuales y fusi贸n de im谩genes. Los resultados experimentales muestran la aplicaci贸n exitosa de los modelos propuestos.The focus of digital cameras plays a fundamental role in both the quality of the acquired images and the perception of the imaged scene. This thesis studies the focus cue in conventional cameras with focus control, such as cellphone cameras, photography cameras, webcams and the like. A deep review of the theoretical concepts behind focus in conventional cameras reveals that, despite its usefulness, the widely known thin lens model has several limitations for solving different focus-related problems in computer vision. In order to overcome these limitations, the focus profile model is introduced as an alternative to classic concepts, such as the near and far limits of the depth-of-field. The new concepts introduced in this dissertation are exploited for solving diverse focus-related problems, such as efficient image capture, depth estimation, visual cue integration and image fusion. The results obtained through an exhaustive experimental validation demonstrate the applicability of the proposed models

    Methods for the acquisition and analysis of volume electron microscopy data

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    Review : Deep learning in electron microscopy

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    Deep learning is transforming most areas of science and technology, including electron microscopy. This review paper offers a practical perspective aimed at developers with limited familiarity. For context, we review popular applications of deep learning in electron microscopy. Following, we discuss hardware and software needed to get started with deep learning and interface with electron microscopes. We then review neural network components, popular architectures, and their optimization. Finally, we discuss future directions of deep learning in electron microscopy

    Image formation with plasmonic nanostructures

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    En 1873, Ernst Abbe concluy贸 que debido a la difracci贸n de la luz el l铆mite de resoluci贸n de un sistema 贸ptico es aproximadamente la mitad de la longitud de onda de trabajo. Este l铆mite, llamado el l铆mite de difracci贸n produce porque las ondas evanescentes no contribuyen a la formaci贸n de la imagen. En cualquier sistema 贸ptico formado por materiales presentes en la naturaleza los detalles espaciales del objeto que sean m谩s peque帽os que el l铆mite de resoluci贸n son transportados por ondas evanescentes. Normalmente estas ondas se pierden debido a la fuerte atenuaci贸n que experimentan viajando del objeto a la imagen. // En 1968, Veselago mostr贸 que un material con permitividad y permeabilidad negativa, es decir, con 铆ndice de refracci贸n negativo (NIM), exhibe una serie de fen贸menos poco comunes, tales como el efecto Doppler inverso, radiaci贸n de Cerenkov inversa y refracci贸n negativa. Este 煤ltimo fen贸meno permite a una l谩mina de NIM actuar como si de una lente convergente se tratase, produciendo una imagen real de objeto luminoso situado frente a la l谩mina. Tres d茅cadas des-pu茅s, Pendry descubri贸 que las lentes formadas con NIMs pueden tener un l铆mite de resoluci贸n muy por debajo de la longitud de onda. Es decir, estas lentes pueden producir im谩genes perfectas en ausencia de p茅rdidas si la impedancia coincide con la del medio en el que est谩n sumergidas. Idealmente, las lentes formadas por NIMs producen im谩genes perfectas, propagando las ondas homog茅neas y amplificando las evanescentes por medio de los polaritones excitados en la superficie del NIM. Esta amplificaci贸n de las ondas evanescentes compensa su decaimiento fuera del metamaterial. Llamaremos superlentes a este tipo de lentes as铆 como cualquier otra capaz de generar im谩genes cuyo l铆mite de resoluci贸n sea menor que el l铆mite establecido por la difracci贸n. // La capacidad superresolvente de las lentes de 铆ndice de refracci贸n negativo descubierta por Pendry fue cuestionada tanto te贸ricamente como usando simulaciones num茅ricas. La discusi贸n versaba sobre la amplificaci贸n de los modos evanescentes que hace matem谩ticamente no integrables a los campos electromagn茅ticos en el plano imagen de la superlente. Si se tienen en cuenta las p茅rdidas en el NIM el problema desaparece. De hecho, los NIMs realistas siempre tienen p茅rdidas que no pueden ser ignoradas en los c谩lculos. En consecuencia, la amplificaci贸n de las ondas evanescentes en las interfases de un NIM viene siempre acompa帽ada de la disipaci贸n de estas dentro del mismo, impidiendo su completa recuperaci贸n en el plano imagen. // Adem谩s de las p茅rdidas existen otros par谩metros que determinan el ancho de banda espacial transmitido y por consiguiente, el poder de resoluci贸n del sistema 贸ptico. Por ejemplo, es posible aumentar la resoluci贸n con una lente plana de inmersi贸n eligiendo una configuraci贸n asim茅trica con una constante diel茅ctrica alta en el medio que incluye el plano imagen. // Tambi茅n se ha demostrado que cuando las permeabilidades y permitivides no son exactamente iguales (salvo signo) se pueden producir resonancias que ayudan a aumentar la resoluci贸n de la superlente. Tambi茅n es posible aumentar la resoluci贸n mediante la reestructuraci贸n de la lente. Sin embargo se cree que la introducci贸n de materiales con ganancia es el enfoque m谩s eficiente. // La primera demostraci贸n experimental de un NIM en el rango de las microondas la realizaron Smith et al. Se observ贸 el fen贸meno de la refracci贸n negativa utilizando un NIM compuesto por una matriz de celdas unidad con un tama帽o de una longitud de onda. Cada celda unidad conten铆a un resonador anular abierto y un hilo met谩lico. Posteriormente se ha mejorado este montaje usando una versi贸n refinada de los anillos resonadores. Este tipo de medio s贸lo es eficaz para la fabricaci贸n de superlentes en el rango de microondas e infrarrojo debido a la fuerte absorci贸n que experimenta a frecuencias m谩s altas. Adem谩s, no poseen un 碌 negativo para frecuencias m谩s all谩 del infrarrojo. Para frecuencias mayores una estructura tipo 'fishnet' puede sustituir a la matriz de anillos resonadores. // Todos los NIMs que se han desarrollado hasta hoy se obtienen juntando dos materiales estructurados de los cuales uno muestra permitividad negativa y el otro permeabilidad negativa. La mayor铆a de los estudios de metamateriales se ha centrado en conseguir un 铆ndice de refracci贸n negativo en una banda estrecha de frecuencias, aunque tambi茅n hay estudios en bandas dobles, en multibanda e incluso metamateriales sintonizables. Tambi茅n se ha observado la refracci贸n negativa para un amplio espectro angular en dos dimensiones a trav茅s de montajes con segmentos en forma de prisma. // En campo cercano, es decir para frecuencias espaciales muy altas, las respuestas el茅ctrica y magn茅tica de los materiales est谩n desacopladas. Por tanto, para ondas con polarizaci贸n transversal magn茅tica (TM), s贸lo se necesita una permitividad negativa para formar im谩genes sub-位. Los metales nobles, tales como la plata, satisfacen esta nueva condici贸n y por tanto son candidatos naturales para el dise帽o de superlentes en el rango 贸ptico. A frecuencias 贸pticas la permitividad de estos metales, en m贸dulo, puede ser comparable a la permitividad del diel茅ctrico que lo rodee, lo que permite la excitaci贸n de plasmones polaritones de superficie (SPPs) en la interfase entre el metal y el diel茅ctrico. Los detalles sub-位 de la fuente se transmiten a trav茅s del sistema acopl谩ndose a los SPPs. // En particular, se han realizados experimentos que prueban la amplificaci贸n de ondas evanescentes a trav茅s de una l谩mina de plata. Los experimentos mostraron que estas ondas se amplifican hasta un espesor de las l谩minas que depende de la longitud de onda. Para espesores mayores la absorci贸n tiene mayor peso y las ondas evanescentes se aten煤an en lugar de amplificarse dentro del material. Sin embargo, es posible reducir los efectos de la absorci贸n introduciendo materiales activos o exfoliando la l谩mina original en pel铆culas m谩s finas y distribuy茅ndolas entre los planos objeto e imagen como si de una matriz de superlentes elementales se tratase. Las ondas evanescentes incidentes excitan resonancias plasm贸nicas que a su vez transfieren estas ondas inhomog茅neas por efecto t煤nel resonante, tambi茅n llamado efecto t煤nel plasm贸nico. Al amplificarse en menor medida las ondas evanescentes en cada capa se reduce la absorci贸n en los metales, y por tanto, cuando estas estructuras se usan en formaci贸n de im谩genes, este efecto contribuye a mejorar el poder de resoluci贸n del sistema. // Las superlentes compuestas por pel铆culas id茅nticas de metal dispuestas entre separadores diel茅ctricos son medios 1D metal-diel茅ctrico peri贸dicos (PLMs). En estos medios encontramos fen贸menos de naturaleza plasm贸nica tales como la refracci贸n negativa y la formaci贸n de im谩genes superresolventes. Adem谩s, la refracci贸n negativa y la amplificaci贸n de las ondas evanescentes no son requisitos necesarios para formar im谩genes sub-位 en estos dispositivos. Los PLMs pueden dise帽arse para mostrar unas curvas de isofrecuencia planas. En este caso la superlente se comporta como una gu铆a de ondas. Este r茅gimen, llamado canalizaci贸n, ha sido investigado por numerosos autores. // Desde que los PLMs fueron propuestos como candidatos para crear superlentes ha habido un gran inter茅s en extender su rango de funcionamiento al espectro visible. La principal dificultad en el dise帽o de estos dispositivos son las grandes p茅rdidas por absorci贸n y dispersi贸n. Para lidiar con este problema se han realizado algunas propuestas que incluyen nuevas geometr铆as aperi贸dicas. Por ejemplo, considerar una serie de gu铆as de onda met谩licas con diferentes tama帽os del orden de los nan贸metros y que est茅n fuertemente acopladas. La atenuaci贸n en esta estructura es considerablemente menor que en un PLM tanto para ondas propagantes como evanescentes. // En 2006 se propuso y posteriormente se demostr贸 experimentalmente un nuevo tipo de superlentes denominadas superlentes de campo lejano. 脡stas lentes se basan en introducir una red de difracci贸n en la superficie de salida de una superlente metal-diel茅ctrico. A diferencia de las superlentes convencionales, adem谩s de amplificar las ondas evanescentes las convierten en ondas propagantes en la superficie de salida. Al dise帽ar este tipo de lentes es crucial dotarlas de una funci贸n de transferencia que permita num茅ricamente reconstruir sin ambig眉edades las imagenes sub-位. Se requiere de un dise帽o de la funci贸n de transferencia complejo y una intensa computaci贸n num茅rica para reconstruir la imagen ya que en estas lentes no se puede recuperar la imagen directamente con una red de difracci贸n. Adem谩s, estas superlentes no pueden magnificar la imagen. Por esta raz贸n su aplicaci贸n en los sistemas 贸pticos convencionales se ve limitada, ya que la imagen ha de tener las mismas dimensiones que el objeto. // En estas mismas fechas tambi茅n se propuso un nuevo tipo de superlentes que pueden aumentar el tama帽o de la imagen: las hiperlentes. Est谩n formadas por capas de lentes cil铆ndricas metal-diel茅ctrico y son capaces de producir im谩genes sub-\lambda magnificadas en el campo lejano mediante la conversi贸n de las ondas evanescentes en propagantes. Espec铆ficamente, las hiperlentes dispersan radialmente la luz permitiendo transportar casi punto a punto una imagen hasta la superficie de salida. A las primeras propuestas de hiperlentes les siguieron desarrollos experimentales en el rango 贸ptico. Desde entonces se han propuesto hiperlentes en las que se sustituye la geometr铆a cil铆ndrica por la esf茅rica, matrices c贸nicas de hilos met谩licos y otros dise帽os singulares. // M谩s adelante se desarroll贸 otro nuevo tipo de superlentes basadas en metamateriales, conocidas como metalentes. Una metalente se crea mediante la combinaci贸n de un metamaterial multicapa y un mecanismo de compensaci贸n de fase que enfoca una onda plana en un punto. Una limitaci贸n importante de las que comparten con las hiperlentes es el efecto de las p茅rdidas que limita la resoluci贸n de la lente as铆 como la transmisi贸n de la se帽al. Es posible corregir el efecto de las p茅rdidas de varias formas: a帽adiendo ganancia a los diel茅ctricos que conforman la superlente, dise帽ando la estructura de bandas con mejores materiales plasm贸nicos, dopando los ya existentes, o mediante aleaciones. Adem谩s, el objeto tiene que estar colocado en el campo cercano de la lente para que las superlentes sean capaces de interaccionar con las ondas evanescentes. A todo esto hay que sumarle que los dise帽os actuales para hiperlentes y metalentes tienen un campo de visi贸n muy limitado debido al tama帽o de sistema 贸ptico. Por todo ello el dise帽o de este tipo de lentes es un campo de estudio donde a煤n se pueden proponer nuevos dise帽os que mejoren sus caracter铆sticas optogeom茅tricas. // Las superlentes son dispositivos muy prometedores en aplicaciones tales como la microscop铆a o la litograf铆a 贸ptica a escala nanom茅trica. Esta 煤ltima es clave a la hora de reducir el tama帽o de los circuitos integrados. El almacenamiento 贸ptico y magn茅tico y los biosensores tambi茅n pueden beneficiarse de la capacidad de estas lentes, permitiendo escribir o leer informaci贸n dentro de vol煤menes cada vez m谩s peque帽os y por tanto aumentando la densidad de almacenamiento y la resoluci贸n de las medidas. // OBJETIVOS Esta tesis se centra en la formaci贸n de imagenes superresolventes utilizando NIMs y PLMs. Para ello, en primer lugar se derivar谩 una respuesta impulsional (PSF) 3D con el fin de definir sin ambig眉edades el campo difractado por una lente plana en el volumen imagen. Por medio de la transformada de Fourier 3D, se introducir谩 la funci贸n de transferencia generalizada con el fin de entender mejor el poder de resoluci贸n de los elementos 贸pticos de una superlente. Estas herramientas junto con la respuesta dipolar el茅ctrica se aplicar谩n para evaluar la resoluci贸n de los NIMs con absorci贸n moderada al mismo tiempo que se analiza su capacidad para discriminar objetos con profundidad. // Tambi茅n se explorar谩 la posibilidad de mejorar la resoluci贸n en el campo lejano solapando a una lente plana de NIM un material con un 铆ndice de refracci贸n alto. Se analizar谩n desde el punto de vista de la 贸ptica geom茅trica las aberraciones producidas en este tipo de lentes asim茅tricas. Estas aberraciones pueden da帽ar la imagen y reducir el poder de resoluci贸n de la superlente. A trav茅s de un an谩lisis de aberraciones est谩ndar se optimizar谩 la configuraci贸n asim茅trica de las superlentes basadas en NIMs. // Gran parte de esta tesis se centra en los PLMs. Se pretende se帽alar las limitaciones existentes en la formaci贸n de im谩genes 3D con lentes planas basadas en NIMs adem谩s de investigar la reducci贸n significativa en el l铆mite de resoluci贸n mediante la divisi贸n de las superlentes planas en pel铆culas ultrafinas. As铆 mismo se estudiar谩 c贸mo afecta esta redistribuci贸n de las lentes a la profundidad de campo. // Tambi茅n se explorar谩 un dise帽o de superlente resultante de unir dos PLMs que difractan la luz de manera opuesta y complementaria. En este dispositivo tanto las ondas propagantes como un ancho de banda significativo de ondas evanescentes se transforman en ondas de Bloch propagantes dentro de cada PLM. La difracci贸n producida en una parte del dispositivo es corregida por la difracci贸n negativa de la otra parte. // Las propiedades 贸pticas de los PLMs ser谩n tambi茅n analizadas para el r茅gimen de permitividades efectivas pr贸ximas a zero (ENZ), siendo este r茅gimen un concepto derivado de la aproximaci贸n de medio efectivo. En este r茅gimen los PLMs pueden canalizar sin difractar la luz emitida por emisores puntuales o producir la doble refracci贸n de la luz para una 煤nica polarizaci贸n. Para este segundo caso se propondr谩 una variaci贸n de la aproximaci贸n de medio efectivo y con ella una ley de la refracci贸n generalizada que describa las dos refracciones simultaneamente. Tambi茅n se pretende analizar la distribuci贸n de flujo energ茅tico en las se帽ales refractadas y la reflejada. // Por otro lado se propondr谩 un m茅todo para deducir la PSF tanto en intensidad como en fase de una superlente formada por un PLM. Para ello se considerar谩 el patr贸n de intensidad producido por una m谩scara de metal con aberturas calibradas colocada a la entrada de la superlente y se procesar谩 el patr贸n de intensidad medido a la salida con una variaci贸n del algoritmo de deconvoluci贸n ciega. // Aunque las superlentes basadas en PLMs est谩n generalmente dise帽adas para controlar la difracci贸n de haces convencionales, su uso no est谩 restringido a 茅stos. Se pretende demostrar la existencia haces Bessel sub-位 en estructuras multicapa y medios con hilos met谩licos. En ambos casos, se estudiar谩 el fen贸meno de superresoluci贸n producido por la interacci贸n plasm贸nica entre la materia y la luz. Los patrones de intensidad producidos en estas nanoestructuras tambi茅n se analizar谩n para su uso potencial en la formaci贸n de im谩genes. // Los haces Airy son tambi茅n candidatos para trasportar informaci贸n sub-位 a trav茅s de nanoestructuras. Para concluir presentaremos un breve tratamiento te贸rico de este tipo de haces incluyendo el importante papel que desempe帽a en ellos la fase Gouy.In this Thesis we focus on the superlensing phenomena using either NIM or PLM. More specifically, we deeply examine the image formation process. First, we derive a nonsingular, polarization-dependent, 3D impulse response that provides unambiguously the wave field scattered by a layered lens and distributed in its image volume. By means of a 3D Fourier transform, we introduce the generalized amplitude transfer function in order to gain a deep insight into the resolution power of the optical element. With these tools and the point dipole spread function we show that NIMs with moderate absorption are appropriate for subwavelength resolution keeping a limited degree of depth discrimination. We also found out-of-focus imaging limited by the polariton resonances in the subwavelength image formation process. // By considering flat NIM lenses we report on a procedure to improve the resolution of far-field imaging using a neighbouring high-index medium coated with a NIM. Based on negative refraction, geometrical aberrations are considered in detail since they may cause a great impact in this sort of diffraction-limited imaging by reducing its resolution power. Standard aberration analysis is employed to refine the asymmetric configuration of metamaterial superlenses. A great part of this Thesis focuses on layered media. We point out the existing limitations of NIM flat lenses in the formation of 3D images. In addition we investigated the significant reduction of the limit of resolution by exfoliating NIM flat lenses into ultrathin layers. This super-resolving effect has its counterpart in the reduction of the depth of field. // Regarding PLMs, we show a procedure to manage the subwavelength diffracted wave fields inside multilayered plasmonic devices to achieve ultra-resolving lensing. Both homogeneous waves and a broad band of evanescent waves are transformed into propagating Bloch modes by means of a metal-dielectric superlattice. Beam spreading is subsequently compensated by means of negative refraction. // Optical properties of nanostructured PLMs are also studied under the epsilon-near-zero regime, a concept derived from the effective-medium approach. The PLM may exhibit either superlensing driven by broadband canalization from point emitters or single-polarization double refraction, and conventional positive as well as negative, even at subwavelength regimes. For the latter case, we formulated a modified effective medium approximation (EMA), and subsequently a generalized refraction law, that describes both refractive behaviours concurrently. We analyse the energy-flow concerning both positive and negative refraction as well as the reflectance. // While the most conventional way to achieve superresolution is by diffraction-managed nanostructures, new avenues arise by direct manipulation of the wave fields. We will demonstrate the existence of subwavelength nondiffracting Bessel beams propagating in both layered and wire media. In both cases the superresolution phenomena provided by the plasmonic interaction between matter and light is studied. Intensity patterns produced in these nanostructures are also analysed with a view to the imaging formation. // Airy beams are also candidates to transport subwavelength information through nanostructures. We introduce a brief theoretical treatment of this sort of beams including the important role of the Gouy phase. Finally, Airy beams propagating inside plasmonic nanostructures are developed in the same way as we did previously using Bessel beams
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