9 research outputs found
Continuous EDTA Titrations at Low Concentrations.
- Author
- Publication venue
- 'American Chemical Society (ACS)'
- Publication date
- Field of study
The Configuration of Contamination Enclaves from Refuse Disposal Sites on Floodplainsa
- Author
- Publication venue
- 'Wiley'
- Publication date
- Field of study
Incidence of secondary components in the suspended particles of the caracas air
- Author
- Publication venue
- 'Elsevier BV'
- Publication date
- Field of study
Plankton Ecology in Relation to Flushing Rate in Four Newfoundland Ponds
- Author
- Allen
- American Publ. Health Assoc.
- Blouin
- Brook
- BĂžrsheim
- Damman
- Davis
- Davis
- Dickman
- Dillon
- Gliwicz
- Gliwicz
- Gulati
- Hach Chemical Co.
- Hadas
- Hadas
- Harris
- Hessen
- Holmgren
- Idler
- JĂ€rnefelt
- Lampert
- Lean
- McCauley
- Murray
- O'Connell
- O'Connell
- O'Connell
- Pejler
- Roberts
- Roberts
- Roberts
- Ryan
- Saunders
- Scavia
- Schindler
- Schindler
- Schoenberg
- Schwoerbel
- Scruton
- Thompson
- Vyhnalek
- Welch
- Publication venue
- 'Wiley'
- Publication date
- 01/01/1987
- Field of study
Instruments, Equipment and Supplies
- Author
- A-Tek Co.
- AC magnetic (resonant Westinghouse Electric Corp.
- ACS
- ALTEX
- American Instrument Co.
- Arthur H. Thomas Co.
- Arthur H. Thomas Co.
- Atomergic Chemetals Corp.
- Atomic Products Corp ACOUSTIC
- B/R Instrument Corp.
- Barnstead Co.
- Blue M Electric Co.
- Brabender Instruments C. W.
- Cable
- Chemicals Kontes
- Chicago
- CHROMATOGRAPHY
- CIRCLE
- Cole-Parmer Instrument Co.
- Corion Corp
- Corlon Corp.
- Cuiliaan International Co.
- D.
- Dionex Corp.
- Div Kimble
- Div Separation
- Dynalab Corp.
- E. I. du Pont de Nemours &
- E. I. du Pont de Nemours &
- E. I. du Pont de Nemours &
- Engelhard Minerals &
- Fisher Scientific Co.
- Fisher Scientific Co.
- Floridin Co.
- FX Systems Corp.
- Galileo Electro-Optics Corp. A. Gallenkamp and Co. Ltd.
- General Electric Co.
- General Electric Co.
- Glass Scientific
- Government Systems Div RCA
- Hach Chemical Co.
- Hampshire Controls Corp.
- Hewlett-Packard Co.
- Houston P.O.
- Hughes Aircraft Co.
- Hughes Aircraft Co. Hewlett-Packard Co. (Calif.) The Jewett Refrigerator Co.
- Inc.
- Industries Spectrum Medical
- Instrument Co H-B
- Instrumentation Laboratory Inc.
- Instruments Lab-Line
- Instruments Lab-Line
- Instruments Wild Heerbrugg
- IRRADIATION
- J.
- Jasco Inc.
- Kontes Vineland OT.M.
- Koslow Scientific Co.
- Leeds &
- Ltd Phase Separations
- MAIN STREET
- Manufacturing Chemists MCB
- Mfv «r
- Micromeritics Instrument Corp.
- Myron L Co.
- N.J.
- Nalge Co.
- Northrup Co Leeds
- Nuclear Research Corp.
- Nuclide Corp.
- Nuclide Corp.
- Nuclide Corp.
- Nuclide Corp.
- Nuclide Corp. QuadRex Corp.
- Orion Research Inc.
- Perkin-Elmer Corp.
- Perkin-Elmer Corp.
- Pierce Chemical Co.
- PolyScience Corp.
- Raytheon Co.
- Raytheon Co.
- Raytheon Co.
- Raytheon Co.
- REFRIGERATORS
- REGULATORS Perkin-Elmer Corp.
- Rheem Mfg. Co.
- Sargent-Welch Scientific Co.
- Sargent-Welch Scientific Co.
- Sargent-Welch Scientific Co.
- Sargent-Welch Scientific Co.
- Schott America Graphic Controls Corp.
- Schott Jenaer Glaswerk
- Schott Jenaer Glaswerk
- Service Scientific Specialties
- Shimadzu Corp.
- Siemens Corp.
- Sigma Chemical Co.
- SPECTRA IR
- Sunshine Scientific Bench Scale Equipment Co.
- Technology Lion
- Telex
- The Ealing Corp.
- The Speed Vac MAXIMUM CONCENTRATION OF SAMPLE
- The Superior Electric Co.
- Toyo Kagaku Sangyo Co. Ltd. U. S.
- Treatment Co Illinois Water
- Tudor Scientific Glass Co.
- U.
- Union Carbide Corp.
- Union Carbide Corp.
- United Electric Controls Co.
- United Technical Corp.
- Xenon Corp.
- Publication venue
- 'American Chemical Society (ACS)'
- Publication date
- Field of study
Instruments, Equipment and Supplies
- Author
- Acco
- Airflow Developments
- American Instrument Co.
- American Instrument Co.
- American Ultraviolet Co.
- Arthur H. Thomas Co.
- Arthur H. Thomas Co.
- Associates Varian
- Associates Varian
- Atomergic Chemetals Corp.
- Atomergic Chemetals Corp.
- Atomergic Chemetals Corp.
- Atomergic Chemetals Corp.
- Box P.O.
- Cambridge Thermionic Corp.
- Cans
- Chrono-Log Corp. Inc.
- Co Utopia Instrument
- Conrac Corp.
- Control Equipment Corp.
- Control Equipment Corp.
- Del Electronics Corp. Equipment Corp.
- Digital Equipment Corp. Dynatech R/D Co.
- Div Avondale
- Div Control
- Div Nikon Instrument
- Div Products
- Duke Scientific Corp.
- Dynalab Corp.
- Dynascan Corp.
- E
- Edwin
- Electrical Syntex Analytical Instruments The Hickok
- Fischer &
- Fisher Scientific Co.
- Fisher Scientific Co.
- Frequency Labs Lepel High
- Frequency Labs Lepel High
- GAUZE
- Glass Scientific
- Glass Scientific
- GRINDERS
- Hach Chemical Co.
- Hewlett-Packard Co.
- Hewlett-Packard Co.
- Hewlett-Packard Co.
- Hughes Aircraft Co.
- Hughes Aircraft Co. Inteco Corp.
- Inc.
- Industries Ltd Rank Precision
- Instrument Co.
- Instruments Lab-Line
- Instruments Lab-Line
- Itek Corp.
- Itek Corp.
- Japan Spectroscopic Co.
- Kaisha Toyo Roshi
- Kaisha Toyo Roshi
- Kaisha Toyo Roshi
- Leeds &
- Leeds &
- Ltd Buehler
- Ltd Pye Unicam
- Ltd Pye Unicam
- Ltd Pye Unicam
- Ltd Pye Unicam
- magnetic memories Cambridge Thermionic Corp.
- McCrone Associates Walter C.
- Meetings-Two
- Monsanto Co.
- National Environmental Fisher Scientific Co.
- National Spectrographic Corning Glass Works Laboratories Ino.
- Nicolet Instrument Corp.
- Nicolet Technology Corp.
- Nuclear Equipment Chemical Wale Apparatus Co.
- Nuclear Equipment Corp.
- Nuclear Equipment Corp.
- Nuclide Corp.
- Nuclide Corp.
- Nuclide Corp.
- Nuclide Corp.
- Nuclide Corp. Instrument Co.
- Nuclide Corp. U. S.
- Ollier
- ORTEC Incorporated Fischer &
- Perkin-Eimer Corp.
- Perkin-Elmer Corp.
- Perkin-Elmer Corp.
- Pittsburgh
- Princeton Applied Research Dynalab Corp. Raytheon Co.
- Raytheon Co.
- Raytheon Co.
- Sargent-Welch Scientific Co.
- Sargent-Welch Scientific Co.
- Sargent-Welch Scientific Co.
- SCRUBBERS
- Seisakusho Shimadzu
- Services Chemical Research
- sine-wave Galileo Electro-Optics Corp. Fish-Schurman Corp.
- Spellman High-Voltage PRESSURE CONTROLLERS Electronics Corp.
- Sub-Zero Products Cincinnati
- The Carborundum Co.
- The Carlson Co.
- The Ealing Corp. Inc.
- The Hickok
- The Hickok Electrical Instrument Co. U. S.
- The Narda Microwave Corp. GLASS
- The VirTis Co.
- Theall Engineering Co.
- Thermovac Industries Corp.
- Toyo Kagaku Sangyo Co. Ltd.
- Union Carbide Corp.
- Union Carbide Corp.
- Union Carbide Corp.
- Utopia Instrument Co.
- Voland Corp.
- Wale Apparatus Co.
- Westinghouse Electric Corp.
- Westinghouse Electric Corp.
- x-ray Fisher Scientific Co.
- Publication venue
- 'American Chemical Society (ACS)'
- Publication date
- Field of study
Nutrient loading to cook bay of lake Simcoe from the Holland river watershed
- Author
- Ahl
- Beeton
- Bently
- Biggar
- Black
- Burns
- Chapman
- Church
- Coulson
- Day
- Edmondson
- F. W. P. C. A.
- Frere
- Gachter
- Giskin
- Golterman
- HACH CHEMICAL Co.
- Harvey
- Heath
- Hetling
- HOLLAND VALLEY CONSERVATION REPORT
- Hortenstine
- Hynes
- Johnson
- Leach
- Likens
- Lorenzen
- Maccrimmon
- Matheson
- Menon
- Michalski
- Milway
- Mortimer
- Mortimer
- Moskal
- Neil
- Nicholls
- Nicholls
- Ohle
- Owen
- Petalas
- Richards
- Sawyer
- Schiindler
- Schindler
- Shannon
- Smith
- Solorzano
- Sonzogni
- Strickland
- Strilaeff
- Sylvester
- Taylor
- Thomas
- Timmons
- Troshicheva
- Vollenweider
- Vollenweider
- Webber
- Weibel
- Weidner
- Welch
- Willrich
- Wondrausch
- Publication venue
- 'Wiley'
- Publication date
- 01/01/1975
- Field of study
Ultraviolet and light absorption spectrometry
- Author
- Abdul-Hug G.
- Ackerman G.
- Adamovich L. P.
- Adams M. J.
- Agrawal Y. K..
- Akaiwa H.
- Akimov V. K.
- Akimov V. K.
- Alexaki-Tzivanidou H.
- Alexaki-Tzivanidou H.
- Alexandrov A.
- Allerov E. A.
- Alverez Jimenez M. D.
- American Society for Testing and Materials
- Anderson L.
- Andrews L.
- Anisimova L. G.
- Antonovich V. P.
- Apostolescu M.
- Aral N.
- Arias
- Arrington J.
- Aruscavage P.
- ASTM
- Asuero A. G
- Asuero A. G
- Baca P.
- Baczo G.
- Bag S. P.
- Bag S. P.
- Bag S. P.
- Bagdasarova I. Ya.
- Bagdasarova K. N.
- Bagdasarova K. N.
- Bakal G.
- Bakurdzhieva D.
- Balica G.
- Balica G.
- Balyatlnskaya L. N.
- Barker A. M.
- Basadre-Pampln I.
- Basargin N. N.
- Bass A. M.
- Batista M.
- Beadle B. C.
- Beaupre P.
- Beaupre P. W.
- Beaupre P. W.
- Belousova V. V..
- Berger S. A.
- Betteridge D.
- Betteridge D.
- Bhaskare C. K.
- Bidder G. M.
- Bilobran S.
- Blank R. E.
- Blyum I. A.
- Boltz D.
- Boltz D. F.
- Bonilla Simon M.
- Bosch Relg F
- Bosch Relg F.
- Brittain H. G.
- Bukhteeva L. N.
- Burgess C.
- Burke R W
- Burke R. W.
- Busch K. W.
- Bykhovtsova T. T..
- Cahen D.
- Camara Rica C..
- CapitĂĄn F.
- CapitĂĄn F.
- CapitĂĄn F.
- CapitĂĄn F.
- Caramlau M.
- Castleden S. L.
- Ceba M. R.
- Cham S.
- Chariot G.
- Chaudhary
- Chaudhary R. C.
- Chem
- Chemical Society
- Chemical Society Analytical Methods Committee
- Chemova R. K.
- Chemova R. K.
- Chkanikova O. K.
- Ciesielski H.
- Claspy P.
- Clyde D. D.
- Conners K. A.
- Cremonesi P.
- Crummett
- Crummett W. B.
- Danet A. F.
- Dasgupta P.
- Dave D. P.
- Debal Eâ
- Deguchi M.
- Deguchi M.
- Deshmukh B. K
- Deshmukh B. K.
- Dhond P.
- Dias Fâ
- Dima F.
- Dimitrova A.
- Dittrich
- Dittrich
- Dolgorev A. V.
- Dolgorev A. V.
- Dolmanova I. F.
- Dolmanova I. F.
- Dolmanova I. F.
- Donaldson E. M.
- Douglas L. A.
- Dragusin E.
- Driscoll W. G.
- Dublnina L. V.
- Dublnlna L. F.
- Dubois P.
- Dubois P.
- Dubrovkin I. M.
- DuPont E. I.
- Dzhashl D. O.
- Eaton E.
- Eaton Eâ
- Eaton Eâ
- Efstathiou C.
- ElamĂn B.
- Elton-Bott R. R.
- Falanga E.
- Federgrun L.
- Fedin A. V.
- Fedin A. V.
- Fernandez Gomez E.
- Fernandez Gomez E.
- Fernelius N. C.
- Fisher Scientific Corp.
- Flaschka H.
- Fox J. B. Jr.
- Freidenzon L. N.
- Fritz D. F.
- Fujinuma H.
- Fujiwara A.
- Furukawa M.
- Gadia K.
- Gadia K.
- Gallego M.
- Gambarov D. G.
- Gandhe S.
- Gangopadhyay P. K.
- Garcia Asuero A.
- GarcĂa-Vargas M.
- Genestar C.
- Gholse S. B.
- Goncalves A. C.
- Gonzalez
- Gonzalez Bala ÂĄron M.
- Gonzalez Diaz V.
- Goto K.
- Gow-Mac Instrument Co.
- Gowda H. S.
- Gowda H. S.
- Gowda H. S.
- Gowda H. S.
- Gowda H. S.
- Gowda H. S.
- Grabiec-Koska W.
- Gregorowicz Z
- Gregorowicz Z.
- Guseinov I. K.
- Gusev S. I.
- Ha Iasi R.
- Hach
- Haegele W.
- Hansen E. H.
- Hawthorne A. R.
- Hawthorne A. R.
- Hayashi K.
- Hayashi K.
- Hayashi K.
- Hayashi Kâ
- Hewlett-Packard Co
- Higgins J. W.
- Hirt R. C.
- Hirt R. C.
- Hitachl Scientific Instruments
- Hlral Y
- Hoffman R. M.
- Honjo T.
- Horlick G.
- Hoshi S.
- Howell J. A.
- Huber W.
- Hummel R. A.
- Humphrey R. E.
- IchinĂłse N.
- Igarashi S.
- Igarashi S.
- Igov R.
- Indo J.
- Ingman F.
- Ishii
- Ishii R
- Ishii R
- Ishii R
- Ito S.
- Ito S.
- Ivanov
- Ivanov Nâ
- Izquierdo A
- J. A. Howell
- Jablonski B. B.
- Jain P.
- Janik
- Janlca K.
- Jercan E.
- Jezbrek J. R.
- Johansson A.
- Kakac B.
- Kalenchenko T. Ya.
- Kalinina V.
- Kalyanaraman S.
- Kamil F.
- Kanstad S. O.
- Karayannis I.
- Karpova O. I.
- Kaslina N. A.
- Kasterka B.
- Kato T.
- Kawamoto S.
- Kawamura F.
- Kawashima T.
- Kaya A.
- Kettrup A.
- Khalaf R
- Kim S.
- Kirkbright G.
- Kirschenbaum D. M.
- Kirschenbaum D. M.
- Kirschenbaum D. M.
- Kirsten W. J.
- Kleckova Z.
- Klein R Jr.
- Klika Z.
- Koblizkova V.
- Koh T.
- Koh T.
- Koh Tâ
- Kolthoff I. M.
- Konusova V. V.
- Korany M. A.
- Korenaga T.
- Korenman I. M..
- Korobkov E.
- Kostromina N. A.
- Kotelyanskaya L. I.
- Kotrly S.
- Kotsuji K.
- Krakowskl J.
- Krelngol'd S. U.
- Krishna R. R.
- Kritchman E.
- Krlchevskaya A. M.
- Krzek J.
- Krzyzanowska M.
- Kudryavtseva L. M.
- Kurzawa Z.
- Kuwada K.
- Kuwada K.
- L. G. Hargis
- Laboratory Data Control
- Labyntsev V. V.
- Lachat Chemicals
- Lai K.
- Lam C. F.
- Lambert J. L.
- Lang L.
- Lazarev A. I.
- Lazarou L. A.
- Levin R.
- Li J.
- Lin C. L.
- Lin J. W.
- Litsov N I.
- Lopez Fernandez J. M.
- Luc P.
- Lukovskaya N. M.
- Mahgoub A. E.
- Malakhova N. M.
- Malone J. P.
- Maltl Bâ
- Mamuliya S. G.
- Mandal S. K.
- Marczenko Z.
- Marczenko Z.
- Marczenko Z.
- Marczenko Z.
- Mathur S. P.
- Matsusakl K.
- Mazzucotelli A.
- Mc
- Mellon M
- Mellon M. G.
- Men'kova A. A.
- Michalowski T.
- Mieling G.
- Minami T.
- Minczewski J.
- Mirza
- Mirzoyan F. V.
- Mitra Mâ
- Miura J.
- Mizunlwa T.
- Mlcromerltlcs Instrument Corp.
- Mlrzoyan F. V.
- Mlrzoyan F. V.
- Mojskl M.
- Mori I
- Mori I.
- Mori I.
- Motomizu S.
- Munemori M.
- Murray L. A.
- Murti V. R.
- Murti V. R.
- Murti V. R.
- Murti V. R.
- Nagashima S.
- Nagorski B.
- Nakano S.
- Nakashima K.
- Nakashima K.
- Nakashima K.
- Namigohar F.
- Nath
- National Bureau of Standards (U. S.)
- Navaratna M. R.
- Navopoltseva V. M.
- Nazarenko A. Yu.
- Nazarenko V. A.
- Nazarenko V. A.
- Nazarenko V. A.
- Nazarenko V. A.
- Nazarenko V. A.
- Nenova P.
- Neves E. A.
- Nikoleis D. P.
- Nishlda H.
- Noonan J. A.
- Norwitz G.
- Norwltz G.
- Norwltz Gâ
- Norwltz Gâ
- Nunn W. G.
- Nunn W. G.
- O'Haver T. C.
- Obtemperanskaya S. I.
- Oda S.
- Oda S.
- Odashima T.
- Ohmori T.
- Okura Y.
- Olenovich N. L.
- Opasova R. G.
- Otomo M.
- Ozawa T.
- Pacific Precision Instruments
- Pande K. R.
- Pangarova R.
- Pao Y. H.
- Parczewski A
- Patratli Yu. V.
- Patratli Yu. V.
- Pelletier O.
- Perez-Bendito D.
- Perkin-Elmer Corp.
- Perkin-Elmer Corp.
- Perkin-Elmer Corp.
- Perkin-Elmer Corp.
- Perkin-Elmer Corp.
- Peshkova V. M.
- Pilipenko A. T.
- Pilipenko A. T.
- Pilipenko A. T.
- Pilipenko A. T.
- Pinaeva S. G.
- Pleniceanu M.
- Poirier J. M.
- Poirier J. M.
- Pontachrome Azure Blue B
- Popa G.
- Pouradler J..
- Prakash I.
- Prakash O.
- Puri B. K.
- Puri B. K.
- Pustovar P. Y.
- Puzanowska-Tarasiewicz H.
- Pye Unicam Ltd
- Qmenotto N.
- Radii V.
- Radushev A. V.
- Raines S. D.
- Ramakrishna T. V.
- Rao G. N.
- Rao G. R.
- Rao P. V. K.
- Ratzlaff K.
- Ratzlaff K. L
- Ratzlaff K. L
- Ratzlaff K. L
- Ratzlaff K. L.
- Rawat J.
- Rawat J. P.
- Rawat J. P.
- Ray Hâ
- Reddy T.
- Reddy T. S.
- Reeves R. R.
- Research
- Rim S. K.
- Roa G. N.
- Robin B.
- Roebisch G.
- Roman C. M.
- Roman C. M.
- Rosenbaum E. J.
- Rosenberg S.
- Rosencwaig A.
- Rosencwaig A.
- Sahal R.
- Saitoh K.
- Sakai T.
- Sakai Y.
- Sakamoto M.
- Salto T.
- Sandell E. B.
- Sane R. T.
- Sane R. T.
- Sanke G. H.
- Sanz-Medel A.
- Satake M.
- Satake M.
- Satake M.
- Sataki M.
- Satyanarayana K.
- Sawin S. B
- Sawin S. B.
- Sawin S. B.
- Sawin S. B.
- Sawlcki E.
- Saxberg B. E. H.
- Schmidt U.
- Schoene K.
- Selig W.
- Sergeev G. M.
- Shanghai Institute of Organic Chemistry
- Shimada K.
- Shkarupa V. S.
- Shtokalo I.
- Shtokalo Iâ
- Sidran
- Sierra Jimenez F.
- Sikorska-Tomicka
- Silva M.
- Silva M.
- Singh A.
- Singh A. K.
- Singh R. B.
- Singh R. B.
- Smock P. L.
- Snell F. D.
- Sol C.
- Soloniewicz R.
- Sommer L.
- Sommer L.
- Sonoda K.
- Spectra Physics
- Speranskaya E. F.
- Spurlin S.
- Stefancu E.
- Steinfeld J. I.
- Stolyarov K P.
- Sugawara M.
- Suzuki M.
- Sychev A. Ya.
- Szetey E.
- Takagi M.
- Talipov Sh. T.
- Talmi
- Talmi Y.
- Talsky G.
- Talsky G.
- Talsky G.
- Tamhina B.
- Tamhina B.
- Tanaka H.
- Tanaki T.
- Tarafdar S. A.
- Tarbet
- Tataev O. A.
- Tataev O. A.
- Tataev O. A.
- Tatcbe F.
- Thomas L. C.
- Tikhonov V. N
- Tikhonov V. N
- Tikhonov V. N.
- Tobia S. K.
- Toei K.
- Toei K.
- Toullec J.
- Trimble L E.
- Tsuchiya M.
- Tsukahara I.
- Tsukahara I.
- Turner Associates
- Turner Associates
- Tyson J. F.
- Uesugi K.
- Uhlemann E.
- Usatenko Y. I.
- Utsumi S.
- Utsumi S.
- Uttawar R M.
- Uttawar R.
- Uttawar R. M.
- VarĂan Instrument Division
- VarĂan Instruments
- Vasilikiotis G. S.
- Verma B. C.
- Verma Y. S.
- Vilkova O. M.
- Vinarova L. I.
- Wakamatsu Y.
- Wand H
- Watanabe H.
- Watanabe H.
- Watanabe K.
- Watanabe K.
- Welcher F. J.
- Wong K. Y.
- Wyganowski C.
- Wyganowski C.
- Yamamoto K.
- Yamamoto T.
- Yamamoto T.
- Yamamoto Y.
- Yamamoto Y.
- Yamane T.
- Yatirajam V.
- Yeole V. V.
- Yeole V. V.
- Yokoyama Y.
- Yoshio M.
- Yoskimura C.
- Yusupov M. Yu.
- Zenki M.
- Zenki M.
- Zuchi Gâ
- Publication venue
- 'American Chemical Society (ACS)'
- Publication date
- Field of study
Light Absorption Spectrometry
- Author
- Adamovich L. P.
- Allen E.
- Am
- Anales
- Anderson B.
- Andrew T. R.
- Andrus S.
- Andruze R. A.
- Annau E.
- Aoki D.
- Aoki F.
- Arnold R.
- Ayers O. W.
- Ayres G. H.
- Ayres G. H.
- Babkin R. L.
- Babko A. K.
- Bacon A.
- Bacon A.
- Baghurst H. C.
- Bandelin F. J.
- Bandyopadhayay D.
- Banerjee D. K.
- Banerjee G.
- Banks C. V.
- Banks O. V.
- Banks O. V.
- Banks V.
- Barlot J.
- Barrera P. A.
- Beck
- BednĂĄr J.
- Beers R. F. Jr.
- BelohlĂĄvek O.
- Bergamiii C.
- Berman S.
- Berntsson S.
- Bertolacini R. J.
- Billman J. H.
- Bisby H.
- Blackwell A. T.
- Blet G
- Bloch L.
- Bobtelsky M.
- Bobtelsky M.
- Bobtelsky M.
- Boltz D. F.
- Bonnier J. M.
- Bousez A.
- Brice B. A.
- Briggs D. R.
- Brown E. G.
- Bruno S.
- Buchanan E. B.
- Burchfield P.
- Burriel F.
- Burton J. D.
- Bussmann A.
- Butt L. T.
- Buzzetti A.
- BĂ©res T.
- Cahn L.
- Calant H.
- Caldin E. F.
- Calkins R. C.
- CalĂł A.
- Caneniwa N.
- CarĂĄscony D.
- Catoggio J. A.
- Cellini R. F.
- Cheng K. L.
- Cheng K. L.
- Claassen A.
- Clinch J.
- Cline R. E.
- Cogbill E. C.
- D. F. Boltz
- Dubois M.
- Dumazert C.
- Duysens
- Easteiwood M.
- Eberle A. R.
- Eder A.
- El Dorado Electronics Co
- Ellis G. C.
- Elwel
- Elwel
- Englis D. T.
- Epstein J.
- Erdey L.
- Erkama J.
- Eswaranavaya N.
- Fainberg S. V.
- Fairing J D.
- Falhclt W.
- Favrn J.
- Feinstein I.
- Feldman D. H.
- Feldstein M.
- Fellegi J.
- Fenwick M. L.
- Fernando Q.
- Finkel'shteln D. N.
- Flaschka H.
- Flaschka H.
- Flaschka H.
- Fletcher H.
- Focht R. L.
- FotometrĂa
- Fournier R. M.
- Frank A. J.
- Frear D. S.
- Freeland M. Q.
- Freund H.
- Fulton J. W.
- Gagliardi B.
- Gann W.
- Garcia F. C.
- Gassner IC.
- Gate
- Gehauf B.
- Geiger F. E. Jr.
- Geilman W.
- Gerhardt P. B.
- Ges
- Ghe A. M.
- Giese A. T.
- Ging N. S.
- Ginzburg L. B.
- Gladyshev V. P.
- Glegg R. E.
- Glew D. N.
- Goddau R. F.
- Golay M. S. E.
- Goldenberg H.
- Golterman H. L.
- Goodhan A. E.
- Gorbach G.
- Gordon L.
- Gorsuch T. T.
- Goto H.
- Goto H.
- Goto IC.
- Gran G.
- Grat-Cabana
- Greenberg P.
- Grimaldi F. S.
- Grob R. L.
- Groot C.
- Grunwald E.
- GrusovĂĄ E.
- Guerin B. D.
- GĂŒbeli O.
- Hach Chemical Co
- Hahn R. B.
- Hamada H.
- Hancock W.
- Hanson M. W.
- Hariharan
- Harrop D.
- Haywood F. W.
- Haywood L. J. A.
- Helbert J. R.
- Henicksman A. L. U. S.
- Henning G. J.
- Hershenson B. M.
- Hershenson M.
- Higashiro T.
- Hill D. L.
- Hill U. T.
- Hirano S.
- Hirano S.
- Hirano S.
- Hluchåñ E.
- Ho
- Hojman J. M.
- Holleran E. M.
- Horhammer L.
- Horton A. D.
- Hunter R. S.
- Hynek R. J.
- Ibid
- Ibid
- Iijima S.
- Ingamells C. O.
- Ishibashi M.
- Iwasaki I.
- Jacques J. A.
- Jambor B.
- Jamieson A.
- Jan J.
- Janicek G.
- Jean M.
- Jean M.
- Jeffery P. G.
- Johannesson J. IC.
- Jones L. A.
- Jones L. R.
- Jones L. R.
- Jones L. R.
- Jones R. N.
- Jungblut F.
- Kakita Y.
- Kallmann S.
- Karasek F. W.
- Karvonen M. J.
- Kawaguchi H.
- Kenyon D. A.
- Kertes S.
- Kertes S.
- Khovyakova R. F.
- Kida S.
- Kimura K.
- Kimura K.
- King R. W.
- Kingdon F. J.
- Kiselev B. A.
- Kiss A. I. Z.
- Kitagawa H.
- Knight S. B.
- Kodama K.
- Kokorin A. I.
- Kolling O. W.
- KolSek J.
- KortĂŒm G.
- Kovalenko P. N.
- Krochta W. G.
- Krumholz P.
- Kuemmel D. F.
- Kuhns L. J.
- Kuk-Meiri S.
- Kul'berg L. M.
- Kul'berg L. M.
- Kul'berg L. M.
- Kul'berg L. M.
- Kuznetsov V. I.
- Kuznetsov V. I.
- Kuznetsov V. I.
- Lambert J. L.
- Lange B.
- Lasiewicz K.
- LaSorsa M.
- Laughland D. H.
- Lear J. B.
- Lee J. E. Jr.
- Lemberg R.
- Lench A.
- Levine V. E.
- Liberman A.
- Liska K.
- Lister M.
- Loomis W. F.
- Lothe J. J.
- Lothian G. F.
- Lueck C. H.
- Luke
- Luke C. L.
- Lundgren P. J.
- Lyons E.
- M. G. Mellon
- Ma T.
- MacAdam D. L.
- MacLean H.
- MacNevin W. M.
- MacNulty B. J.
- MacNulty B. J.
- Malik L. C.
- Malmstadt V.
- MalĂĄt M.
- Mann C. K.
- Mann C. K.
- Manning D. L.
- Manning D. L.
- Margerum D. W.
- Marple T. L.
- Marple T. L.
- Martinet J.
- Martinez F. B.
- MartĂ F. B.
- Masonero M.
- Mather A. P.
- Mathers A. P.
- Matsuo Y.
- Maute R. L.
- Mazurek J.
- McCall K. B.
- McComb E. A.
- Meijer A. E. F. H.
- Mellon M. G.
- Mellon M. G.
- Meloche V. W.
- Menis O.
- Meskcheryakov A. M.
- Meyer A. S. Jr.
- Micha
- Michelsen O. B.
- Mielenz K. D.
- Mikherjee A. K.
- Miller R. R.
- Milner O. I.
- Miyada D. S.
- Mizukami S.
- Mizukami S.
- Moahchev R.
- Moeller T.
- Montag G.
- Moor H.
- Moore F. L.
- Moore W. A.
- Morachevski Y. V.
- Morrison G. H.
- Morton C.
- Motojima K.
- Mukherji A.
- Mullin J. B.
- Mundy R. J.
- Murphy J.
- Musha S.
- Nagase Y.
- Nazarchuk T. N.
- Nazareuko V. A.
- Nelson IC. H.
- Neto B. M.
- Newhall S. M.
- Newman L.
- Nielsch W.
- Nielsch W.
- Nietzel O. A.
- Nimeroff I.
- Nishida H.
- Noebels H. J.
- Nozaki T.
- Odier I.
- Oka Y.
- Oka Y.
- Oka Y.
- Oka Y.
- Oka Y.
- OkĂĄc A. Y.
- Onishi H.
- Onishi H.
- Opler A
- Oulman C. S.
- Page F. M.
- Patterson G. D. Jr.
- Peach S. M.
- Pennec L.
- Peregud E. A.
- Perlman D.
- Perzyna J. O.
- Peterson R. E.
- Petzold I..
- Pflaum B. T.
- Pickering W. F.
- Pietsch R..
- Pilipenko A.
- Pilipenko A. T.
- Pohl F. A.
- Pollock J. E.
- Ponomarev A. N.
- Pontet M.
- Pridham J. B.
- Quinlan K. P.
- Rabourn W. J.
- Radosavljevic S. D.
- Rao B. R. L.
- Rao K. V. S.
- Rasin-Streden R.
- Reissig J. L.
- Remain P.
- Rhodes
- Rice R. G.
- Ring S. A.
- Rinick E.
- Roberson C. E.
- Roberts V. J.
- Rockland L. B.
- Romine
- Roseman S.
- Rosenkrantz H.
- Ross W. J.
- Rowley IC.
- Ruf E.
- Rulfs C. L.
- Rulfs G. L.
- Ryahchikov D. I.
- Sabon F.
- Saier E. L.
- Sakaguchi T.
- Salee E. M.
- Salvesen B.
- Sargent R.
- Sarma D. V. N.
- Sarma T. P.
- Sass S.
- Sathe V.
- Sathe V.
- Scaife J. F.
- Scapp A.
- Schafer
- Schall E. D.
- Scheunemann J. Jr.
- Scheuner P. G.
- Schilt A. A.
- Schilt A. A.
- Schramm M.
- Seim H. J.
- Senegacnik M.
- Seto T. A.
- Shakhova Z. F.
- Shchukarev S. A.
- Shimura H.
- Shipley T.
- Shipman W. H.
- Shnalderman S. K.
- Short H. G.
- Silberstein O. O.
- Silverman L.
- Silverman L.
- Silverman L.
- Simonson S. H.
- Slein M. W.
- Sogani N. C.
- Sommer A. H.
- Sonnenshan W.
- Sorbo B. H.
- Stark J. B.
- Stenius A. S.
- Stipanits P.
- Straus W.
- Struszynski M.
- Sugawara K.
- Sugawara K.
- Sunderasan M.
- Sundheim B. R.
- Susano C. D.
- Svach
- Svach M.
- Svensson G.
- Swann H.
- Swann H.
- Swann H.
- Swietoslawska J.
- Szalkowski C. R.
- Szarvas P.
- Takano S.
- Takemoto T.
- Takeuchi T.
- Tanaka M.
- Tanaka M.
- Tarenko I.
- Taylor C. G.
- Taylor L. W.
- Thiels A.
- Thomas M. D.
- Thomason P. F.
- Tillu M.
- Tompsett S. L.
- Torii T.
- Tourky A. R.
- Trezzi F.
- Troll W.
- Trujillo R.
- Tsap M. L.
- Tunnicliff D. D.
- Udy D. C.
- Umenoto S.
- Underwood A. L.
- Usatenko Y. I.
- Utsumi S.
- Van Cauwenberghe H.
- Van Etten C. H.
- Vandenbelt J. M.
- Vareille L.
- Vecera M.
- VendĂ V. P.
- Venkateswarlu K. S.
- Vieira J. A. R.
- Vignoli L.
- ViVarelli S.
- Von Schelling H.
- Vonesch E. E.
- Voskresenskaya N. T.
- Wagner E.
- Walker P. M. P.
- Ward N.
- Waterburg G. R.
- Weiser H. J. Jr.
- West P. W.
- West P. W.
- West P. W.
- Westland A. D.
- Whealy R. D.
- White J. C.
- Widtman V.
- Wingfield H. C.
- Wise W. W.
- Wright W. B. Jr.
- Wyman G. M.
- Xavier J.
- Yamamoto S.
- Yana M.
- Yoe J. H.
- Yokosuko S.
- Zak Bâ
- Zalkox
- Zall D. M.
- Zall D. M.
- Zehner J. M.
- Zhivopistsev V. P.
- Ziegler M.
- Ziegler M.
- Zill L. P.
- Ăgren A.
- Publication venue
- 'American Chemical Society (ACS)'
- Publication date
- Field of study