Determination of AlGaN/GaN power transistor junction temperature for radar applications

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Determination of the self-heating temperature of AlGaN/GaN HEMTs in radar operation

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Utilisation de micro-thermomètres Raman pour la mesure de la température d’échauffement de transistors de la filière GaN

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Innovative submicron thermal characterization method for AlGaN/GaN power HEMTs with hyperspectral thermoreflectance imaging

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Chap 2. Aging Power Transistors in Operational Conditions

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Chap 2. Aging Power Transistors in Operational Conditions

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