42 research outputs found

    Barcelona Nanotechnology Cluster Bellaterra (BNC-b)

    Get PDF

    Centre Nacional de Microelectr貌nica- CSIC

    Get PDF

    La labor de los Centros P煤blicos de Investigaci贸n

    Get PDF
    El autor aborda, desde una perspectiva hist贸rica, el papel jugado por centros tecnol贸gicos, parques cient铆ficos y empresas de base tecnol贸gica para transferir conocimiento a la sociedad y promover la competitividad de la econom铆a. El trabajo incluye ejemplos de 茅xito de empresas de base tecnol贸gica creadas desde organismos p煤blicos de investigaci贸n, en muchos casos con la universidad

    Placa homogeneizadora de temperatura para microdispositivos t茅rmicamente aislados

    Get PDF
    Referencia OEPM: P9601571.-- Fecha de solicitud: 12/07/1996.-- Titular: Consejo Superior de Investigaciones Cient铆ficas (CSIC).Placa homogeneizadora de temperatura para microdispositivos t茅rmicamente aislados (ver figura en archivo de texto adjunto). El objeto de la presente invenci贸n es el desarrollo de una microestructura t茅rmicamente aislada con zonas de temperatura muy homog茅nea y controlada. Dichas estructuras son la base de distintos tipos de sensores microelectr贸nicos ya existentes, en los que un cierto material o elemento sensible se deposita sobre una estructura t茅rmica que debe trabajar a una temperatura conocida. Es aplicable a sistemas de medida microelectr贸nica basados en microsensores de silicio.Peer reviewe

    A Critical Look at the Spanish University of the 1970s: The Editorial Analysis of Didascalia Magazine (1970-1975)

    Get PDF
    La revista de innovaci贸n educativa Didascalia, que inici贸 su andadura en la d茅cada de 1970, compartiendo acta de nacimiento con la nueva Ley de Educaci贸n espa帽ola, fue una publicaci贸n pionera e injustamente olvidada por la historiograf铆a reciente. Por sus p谩ginas no solo pasaron las figuras m谩s pujantes y granadas de la psicopedagog铆a, la educaci贸n y la psicolog铆a aplicada espa帽olas, sino que pretendi贸 convertirse en gu铆a para una necesaria renovaci贸n psicoeducativa, herramienta de difusi贸n profesional, e inspiraci贸n de nuevos proyectos. Metodol贸gicamente, el trabajo se ci帽e a las t茅cnicas de investigaci贸n hist贸rica y sigue un enfoque de an谩lisis documental centrado preferentemente en el estudio de la l铆nea editorial de la publicaci贸n, as铆 como en el desarrollo hist贸rico y normativo de la aplicaci贸n de la reforma educativa de la 茅poca en el contexto universitario. Se confronta la realidad de la Universidad Espa帽ola de la 茅poca y su gesti贸n con el sentir de los profesionales del momento. Se muestra que muchos de los problemas a煤n vigentes en esta materia, como el del acceso a la Universidad, son cuestiones de largo recorrido nunca resueltas satisfactoriamente a causa de las contradicciones internas con las que se gestaron y regularon inicialmente. Didascalia fue una publicaci贸n 煤nica en su inter茅s profesionalizador. Dedic贸 espacio toda suerte de tem谩ticas educativas, tratando de convertirse en la primera publicaci贸n destinada por entero a la informaci贸n y actualizaci贸n del profesional educativo, hecho que la llev贸 a menudo a confrontar con las Autoridades ministeriales de las postrimer铆as del R茅gimen Franquista. En sus p谩ginas la candente y compleja situaci贸n de la Universidad Espa帽ola de la 茅poca tuvo un espacio propio, especialmente con relaci贸n al acceso a los estudios universitarios, que vino a poner de manifiesto las dificultades del sistema para gestionarse con eficiencia, y que ya anticipa otros problemas posteriores

    Barcelona Nanotechnology Cluster Bellaterra (BNC-b)

    No full text

    Evoluci贸n Cient铆fico T茅cnica

    No full text
    47 diapositivas.-- Trabajo de divulgaci贸n cient铆fica presentado en el XXV Aniversario de la creaci贸n del CNM.Peer reviewe

    Medidor de caudal de elemento estrangulador con microsensor de presi贸n incorporado

    Get PDF
    Referencia OEPM: P9602679.-- Fecha de solicitud: 18/12/1996.-- Titulares: Consejo Superior de Investigaciones Cient铆ficas (CSIC), COPRECI, Sociedad Cooperativa Ltda, S.A.Medidor de caudal de elemento estrangulador con microsensor de presi贸n incorporado (ver figura en archivo de texto adjunto). Est谩 basado en la medida de la presi贸n diferencial existente entre la entrada y la salida de un elemento estrangulador de flujo, mediante un microsensor de presi贸n incorporado en el mismo elemento. La ventaja principal que presenta el nuevo medidor consiste en la integraci贸n de diversos elementos en un 煤nico dispositivo, a diferencia de los medidores convencionales que consisten en un elemento primario que crea la diferencia de presi贸n y uno secundario que mide dicha presi贸n. Como consecuencia de la integraci贸n de los distintos elementos, el nuevo dispositivo se monta f谩cilmente en la tuber铆a haciendo innecesaria la utilizaci贸n de tuber铆as adicionales y/o v谩lvulas entre los dispositivos primario y secundario.Peer reviewe

    Aceler贸metro triaxial

    Get PDF
    Referencia OEPM: P9701154.-- Fecha de solicitud: 28/05/1997.-- Titular: Consejo Superior de Investigaciones Cient铆ficas (CSIC).Aceler贸metro triaxial que combina en su fabricaci贸n tecnolog铆as de micro mecanizaci贸n en volumen de silicio con tecnolog铆as de micro mecanizaci贸n superficial, utilizando obleas tipo BESOI (Bond and Etch Back Silicon On Insulator), y con una estructura que consiste en dos masas unidas por uno o varios puentes entre si y cada una de las cuales unidas al marco del dispositivo por dos puentes exteriores, colocando piezoresistencias en los puentes centrales y exteriores que formen un puente de Wheatstone, y siendo los puentes exteriores perpendiculares a los dos puentes que unen las masas. Aplicaciones en medicina, navegaci贸n y campos relacionados.Peer reviewe

    Estructura de test para la medida del desalineamiento entre niveles en tecnolog铆as microelectr贸nicas, basada en transistores MOS con puerta triangular

    Get PDF
    Referencia OEPM: P8900452.-- Fecha de solicitud: 30/10/1991.-- Titular: Consejo Superior de Investigaciones Cient铆ficas (CSIC).Estructura de test para la medida del desalineamiento entre niveles en tecnolog铆as microelectr贸nicas, basada en transistores MOS con puerta triangular (ver figura en archivo de taxto adjunto). La estructura de test para la medida del desalineamiento entre niveles de tecnolog铆as microel茅ctricas, basada en transistores MOS con puerta triangular, es un dispositivo microelectr贸nico compuesto de cuatro transistores MOS con la puerta triangular, dispuestos formando 90潞 entre s铆, con los terminales de fuente unidos, sensible al desalineamiento entre los niveles de puerta y 谩reas activas en tecnolog铆as autoalineadas. El desalineamiento se obtiene a partir de la medida de la corriente de canal en cada uno de los transistores, polarizando los mismos en la zona lineal o en la de saturaci贸n.Peer reviewe
    corecore