Étude par diffraction des rayons X des transformations de phase d'un alliage à mémoire de forme équiatomique TiNi en fonction du taux de déformation et du traitement thermique

Nous avons étudié par diffraction des rayons X l'influence du taux de déformation et du traitement thermique sur les transformations R, martensitique et austénitique et leurs fractions volumiques dans des fils d'alliage TiNi équiatomique recuits à différentes températures. A 450°C et 510°C, la fraction volumique de martensite diminue lorsque le taux de déformation croit. Un comportement différent est observé à 570°C et 600°C attribué au processus de recristallisation. Pour la phase austénitique, à 450°C et 510°C la fraction volumique d'austénite croit avec le taux de déformation. Le comportement est différent pour un taux de déformation supérieur à 10% et pour des températures de recuit supérieures à 510°C. Contrairement aux fractions volumiques de la martensite et de l'austénite, la fraction volumique de la phase R augmente lorsque le taux de déformation croit et la température de recuit décroît. Ce phénomène est attribué à l'existence des contraintes résiduelles internes dans l'alliage à mémoire de forme.The influence of the deformation rate and of the heat treatment on R, martensitic and austenitic transformations and their volume fractions in equi-atomic TiNi shape memory alloy (SMA) wires, annealed at different temperatures has been investigated by X-ray diffraction. At 450°C and 510°C, the volume fraction of martensite decreases as the deformation rate increases. This behavior is different from that observed at 570°C and 600°C, which is attributed to recrystallization . At 450°C and 510°C, for the austenite phase, the volume fraction of austenite increases with the increase deformation rate. The behavior is different for a deformation over 10% and at temperature over 510°C. Unlike the volume fractions of martensite and austenite, the volume fraction of R-phase increases as the deformation rate increases and the heat treatment temperature decreases. This phenomon is attributed to the existence of residual internal stresses inside the SMA

Zwitterionic 1-{(E)-[(2-methylphenyl)iminiumyl]methyl}naphthalen-2-olate

The title Schiff base, C18H15NO, crystallizes in its zwitterionic form and an N—H...O hydrogen bond closes an S(6) ring. The dihedral angle between the aromatic ring systems is 36.91 (10)°. Weak aromatic π–π stacking occurs in the crystal [minimum centroid–centroid separation = 3.7771 (15) Å]