Fracture Investigation of Wood under Mixed Mode I/II Loading Based on Maximum Shear Stress Criterion

Рассматривается применение нового критерия разрушения для прогнозирования направления инициирования и роста трещин в деревянных образцах при смешанной моде нагружения I/II. Данный критерий учитывает распределение максимальных касательных напряжений в окрестности вершины трещины. Его главное преимущество по сравнению с другими известными критериями – более точный учет влияния зоны повреждения на разрушение дерева. Изменение податливости поврежденного материала, связанное с ростом микротрещин, учитывается с помощью специального коэффициента повреждаемости. Предложенный критерий применяется в случае разрушения образцов с произвольной ориентацией трещин относительно ортотропных осей материала. Установлено, что такой подход хорошо описывает механизм разрушения деревянных образцов. Приведено сравнение расчетных результатов с известными экспериментальными.Розглядається використання нового критерію руйнування для прогнозування напрямку ініціювання і росту тріщин у дерев’яних зразках за змішаної моди навантаження І/ІІ. Даний критерій враховує розподіл максимальних дотичних напружень в околі вістря тріщини. Його головна перевага порівняно з іншими відомими критеріями – більш точне врахування впливу зони пошкодження на руйнування дерева. Зміна піддітливості пошкодженого матеріалу, пов’язана з ростом мікротріщин, враховується за допомогою спеціального коефіцієнта пошкодженості. Запропонований критерій використовується у випадку руйнування зразків із довільною орієнтацією тріщини відносно ортотропних осей матеріалу. Установлено, що такий підхід добре описує механізм руйнування дерев’яних зразків. Наведено порівняння розрахункових результатів із відомими експериментальними

320x240 GaAs pixel detectors with improved X-ray imaging quality

We report on gain and offset corrections for GaAs X-ray pixel detectors, which were hybridised to silicon CMOS readout integrated circuits (ROICs). The whole detector array contains 320 x 240 square-shaped pixels with a pitch of 38 mum. The GaAs pixel detectors are based on semi-insulating and VPE grown substrates. The ROIC operates in the charge integration mode and provides snapshot as well as real time video images. Previously we have reported that the image quality of semi- insulating GaAs pixel detectors suffer from local variations in X-ray sensitivity. We have now developed a method to compensate for the sensitivity variations by applying suitable offset and gain corrections. The improvement in image quality is demonstrated in the measured signal-to-noise ratio of flood exposure images