Low-cost dc bist for analog circuits: a case study

This paper presents a DC analog testing technique based on a simple voltage comparison of the highest sensitivity node, which is found by simulation. The technique is a structural, fault driven testing approach and can be applied to any analog circuit with very few extra added circuitry. A proof of concept has been implemented in a 65nm low-voltage transconductor, showing good fault coverage for both catastrophic and parametric faults.Fil: Petrashin, Pablo. Universidad Nacional de Córdoba. Facultad de Ciencias Exactas Físicas y Naturales. Carrera de Ingeniería Electrónica; Argentina.Fil: Dualibe, Carlos. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería. Laboratorio de Microelectrónica; Argentina.Fil: Lancioni, Walter. Universidad Cátólica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentina.Fil: Toledo, Luis. Universidad Católica de Córdoba; Argentina.Otras Ingeniería Eléctrica, Ingeniería Electrónica e Ingeniería de la Informació

Identificación de fallas en CI y sistemas tolerantes a fallas en tecnologías nanométricas con aplicación en detectores de radiación de bajo coste

Este proyecto es la continuación dentro de una línea de trabajo relacionada con el testing de Circuitos Integrados (CI) y sistemas robustos. Se han obtenido resultados en los proyectos previos acerca de técnicas para testear CI analógicos, con defectos por radiación [2-6]. En el área digital, se han estudiado configuraciones de celdas de memoria con inmunidad a la radiación. Asimismo, se han presentado ideas orientadas a la implementación de un microporcesador elemental con características de tolerancia a fallas.En el presente proyecto se pretende el estudio de técnicas económicas de sensado de radiación y su robustez, incluida vida útil y campos de aplicación. En particular se pretende realizar un estudio del MOSFET (transistor de efecto de campo) como sensor y dosímetro de radiación ionizante. Esto permitirá contar con un sensor barato en comparación con los dispositivos comerciales.La señal eléctrica utilizada como parámetro dosimétrico es la tensión umbral. La funcionalidad de estos componentes se basa en la ionización inducida por radiación en SiO2, que da como resultado un aumento de la carga positiva atrapada en el SiO2 y las trampas de interfaz en Si-SiO2, conduce a un cambio en el voltaje umbral.Fil: Petrashin, Pablo Antonio. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentin

Test de circuitos integrados VLSI y sistemas robustos

El objetivo general será la búsqueda de arquitecturas circuitales que permitan el fácil testeo del chip, la robusticidad ante daños por radiación y su implementación en tecnologías CMOS.Fil: Petrashin, Pablo Antonio. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentin

Oscillation-based test in a CCII-based bandpass filter

Oscillation based testing (OBT) has proven to be a simple yet effective VLSI test for numerous circuit types. In this work, OBT is applied to test Second-generation Current Conveyor (CCII) based filters for the first time. Adopting a CCII-based band pass filter as a case study, it is shown that OBT can be implemented with a minimally intrusive switched feedback loop to establish the oscillator. Exhaustive fault simulation indicates 98.11% detection of possible short circuit and 100% detection of possible open circuit faults in the circuit under test, in both 0.35μm and 1.2μm CMOS technology nodes.Paper presented at the 8th Latin American Symposium on Circuits and Systems (LASCAS), Bariloche, Argentina, 20-23 February 2017.The Argentina – South Africa Research Cooperation Programme, as administered by the Ministry of Science, Technology and Productive Innovation in Argentina and the National Research Foundation in South Africa.hb201

A new CMOS voltage reference scheme based on Vth- difference principle

Abstract-a new CMOS voltage reference, which takes advantage of the temperature dependence of NMOS and PMOS threshold voltages, is presented. Due to the circuit architecture the mobility factor is completely cancelled. It does not use resistors and all transistors works in strong inversion. The circuit is simple, opamp-less and can be implemented in a standard CMOS process. When the input power supply changes from 1.8V to 2.1V and the temperature changes from -20 to 80ºC, simulations for the reference circuit using the proposed architecture shows an output voltage of 1.184V and a T FC of 100 ppm/ºC

Oscillation-based test applied to a wideband CCII

Oscillation-based testing (OBT) has been proven to be a simple, yet effective VLSI test for numerous circuit types. This paper investigates, for the first time, the application of OBT verification for second generation current conveyors (CCIIs). The OBT is formed by connecting the CCII into a simple Wien bridge oscillator and monitoring both the amplitude and frequency of oscillation. The fault detection rate, taking into account both the open and short circuit fault simulation analyses, indicates 96.34% fault coverage using a combination of amplitude and frequency output sensing in all technology corners. The only nondetected faults are short circuits between and , which can be detected using other techniques such as IDDQ testing. This method is found to be sensitive to resistor and capacitor process variation in the Wien bridge oscillator, but mitigating test steps are proposed.The Argentina-South Africa Research Cooperation Programme, as administered by the Ministry of Science, Technology and Productive Innovation in Argentina and the National Research Foundation in South Africa.https://www.hindawi.com/journals/vlsiElectrical, Electronic and Computer Engineerin

Diseño de celdas analógicas embebidas en sistemas en un chip (SOC)

La metodología actual de diseño de celdas analógicas embebidas se basa en una tecnología CMOS fija, no teniendo dichos módulos características de reutilización y de migración hacia otras tecnologías. Para avanzar a un mayor nivel de productividad en el diseño se necesita un cambio de paradigma. Este cambio en la metodología necesita reducir tiempo y esfuerzo en el desarrollo, incrementar la predictibilidad y reducir el riesgo involucrado en el diseño y la fabricación de complejos sistemas en un chip (SOC). Las celdas digitales embebidas se han aplicado al diseño VLSI digital debido a que la síntesis a través de lenguajes de descripción de hardware (HDL) permite mapear complejos algoritmos en una descripción sintáctica digital, la cual puede luego ser automáticamente colocada e interconectada (place&route). Sin embargo, dada la falta de automatización del diseño electrónico en el dominio analógico, como así también por factores como el ruido, el corrimiento y falta de apareamiento, el uso de los circuitos analógicos ha sido muy bajo en la medida de lo posible, por lo que las celdas analógicas embebidas son ahora un cuello de botella en el diseño de SOC. Por lo expuesto, en el proyecto que se propone se planea diseñar celdas analógicas embebidas con características de: bajo consumo, reutilización, bajo costo y alta performance para satisfacer el notable crecimiento del mercado de los sistemas portables alimentados por batería y el de sistemas de identificación remotamente energizados (RFID). Conjuntamente con el Área de Comunicaciones, se propone un generador de tensión de alimentación a partir de una señal de RF.Fil: Toledo, Luis Eduardo. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; ArgentinaFil: Lancioni, Walter José. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentin

Experiencias en el desarrollo de laboratorios virtuales con TIC en Ingeniería a distancia

El presente trabajo tiene por objetivo describir experiencias y resultados alcanzados en el transcurso del Proyecto de Investigación denominado “Desarrollo e implementación de un Prototipo de Laboratorios Virtuales para la Enseñanza de la Ciencias Básicas en Educación a Distancia”, a los fines de validar el uso de plataformas virtuales en la enseñanza de materias con alto contenido práctico. Se presentará: la arquitectura y metodología de desarrollo, los criterios para la selección de simulaciones de laboratorio, las herramientas de Tecnologías de la Información y Comunicación (TIC) utilizadas, los estándares investigados y bajo los que se trabaja, las dificultades durante el desarrollo, la mitigación de contingencias, el estado actual del proyecto, y la proyección a futuro.Área: Tecnología en Educación.Red de Universidades con Carreras en Informática (RedUNCI

Diseño de celdas analógicas embebidas en sistemas en un chip (SOC)

La metodología actual de diseño de celdas analógicas embebidas se basa en una tecnología CMOS fija, no teniendo dichos módulos características de reutilización y de migración hacia otras tecnologías. Para avanzar a un mayor nivel de productividad en el diseño se necesita un cambio de paradigma. Este cambio en la metodología necesita reducir tiempo y esfuerzo en el desarrollo, incrementar la predictibilidad y reducir el riesgo involucrado en el diseño y la fabricación de complejos sistemas en un chip (SOC). Las celdas digitales embebidas se han aplicado al diseño VLSI digital debido a que la síntesis a través de lenguajes de descripción de hardware (HDL) permite mapear complejos algoritmos en una descripción sintáctica digital, la cual puede luego ser automáticamente colocada e interconectada (place&route). Sin embargo, dada la falta de automatización del diseño electrónico en el dominio analógico, como así también por factores como el ruido, el corrimiento y falta de apareamiento, el uso de los circuitos analógicos ha sido muy bajo en la medida de lo posible, por lo que las celdas analógicas embebidas son ahora un cuello de botella en el diseño de SOC. Por lo expuesto, en el proyecto que se propone se planea diseñar celdas analógicas embebidas con características de: bajo consumo, reutilización, bajo costo y alta performance para satisfacer el notable crecimiento del mercado de los sistemas portables alimentados por batería y el de sistemas de identificación remotamente energizados (RFID). Conjuntamente con el Área de Comunicaciones, se propone un generador de tensión de alimentación a partir de una señal de RF.Fil: Toledo, Luis Eduardo. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; ArgentinaFil: Lancioni, Walter José. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentin

Plataforma Básica para dispositivos inteligentes

Se trata de un proyecto de diseño de una plataforma básica para dispositivos básicos o elementales en forma de una solución de hardware y software integrados. A partir de allí se dispondrá de diversos módulos para múltiples diseños a los que se les podrá agregar lo específico de cada aplicación en diversos ámbitos tales como automatización de viviendas, edificios inteligentes, máquinas expendedoras automáticas, electrodomésticos, sistemas automáticos de riego, instrumental de monitoreo clínico centralizado, electromedicina, etc