7 research outputs found
Digital signature generator for mixed-signal testing
Ponència presentada al 14th IEEE European Test SymposiumEs presenta un nou generador de signatures digitals per controlar dues senyals anàlogues. Es presenta la tecnologia STM 65 nm per demostrar la viabilitat de la proposta.Postprint (published version
Analog circuit test based on a digital signature
Production verification of analog circuit specifica-
tions is a challenging task requiring expensive test equipment
and time consuming procedures. This paper presents a method
for low cost on-chip parameter verification based on the analysis
of a digital signature. A 65 nm CMOS on-chip monitor is
proposed and validated in practice. The monitor composes two
signals (x(t), y(t)) and divides the X-Y plane with nonlinear
boundaries in order to generate a digital code for every analog
(x, y) location. A digital signature is obtained using the digital
code and its time duration. A metric defining a discrepancy factor
is used to verify circuit parameters. The method is applied to
detect possible deviations in the natural frequency of a Biquad
filter. Simulated and experimental results show the possibilities
of the proposal.Peer ReviewedPostprint (published version
Verifying analog circuits based on a digital signature
Verification of analog circuit specifications is a
challenging task requiring expensive test equipment and time
consuming procedures. This paper presents a method for low
cost parameter verification based on statistical analysis of
a digital signature. A CMOS on-chip monitor and sampler
circuit generates the digital signature of the CUT. The monitor
composes two signals (x(t); y(t)) and divides the X-Y plane
with nonlinear boundaries in order to generate a digital code for
every analog (x; y) location. A metric to be used to discriminate
the golden and defective signatures is also proposed. The metric
is based on the definition of a discrepancy factor performing
circuit parameter identification via statistical and pre-training
procedures. The proposed method is applied to verify possible
deviations on the natural frequency of a Biquad filter. Simulation
results show the possibilities of the proposal.Postprint (published version
Design, Fabrication and Veri cation of a Mixed-Signal XY Zone Monitoring Circuit and its Application to a Phase Lock Loop Circuit
El presente proyecto de final de carrera se centra en el diseño, análisis e implementación
en silicio de una metodología de test/diagnosis basada en la comparación de firmas digitales
generadas a partir de curvas de Lissajous. Se muestra su aplicación para testar la etapa
de filtro de un circuito de bucle de enganche de fase (phase lock loop, PLL), así como los
resultados experimentales de su implementación en tecnología CMOS de 65 nm.
La obtención de las firmas digitales se consigue mediante el uso de un circuito monitor,
el cual, a partir de la composición de dos señales periódicas del circuito a analizar, genera,
para cada punto de la curva de Lissajous, un valor digital. La utilización de varios monitores
con gurados de la manera adecuada permite una completa teselación del plano en diferentes
zonas y por tanto, la generación de distintos códigos digitales (firma) a medida que la curva
de Lissajous evoluciona en el tiempo.
El test del circuito y/o diagnosis del posible defecto se realiza mediante la comparación
de la signatura golden o sin defecto y la signatura generada por el circuito testado. Para
la comparación de firmas se emplea el concepto de distancia de Hamming entre códigos a
modo de métrica de discrepancia. A partir de los valores precalculados de la métrica para
cada posible valor del defecto se consigue realizar la diagnosis de este para el parámetro en
estudio.
El trabajo se enmarca en el diseño de circuitos integrados de muy alta escala de integración usando una tecnología CMOS de actualidad (65 nm). Es por ello que se requieren
técnicas de diseño analógico específicas, como lo son las estrategias centroidales para la elaboración de layouts o el correcto modelado de transistores nanométricos. Para esto último
se hace uso del modelo Berkeley, el cual, debidamente ajustado a la tecnología empleada,
proporciona aproximaciones muy aceptables y con relativa facilidad de uso. Con el objetivo de verificar la metodología de test/diagnosis propuesta, se hace uso
de una aplicación Matlab que permite simular el comportamiento del circuito a testar
en diferentes situaciones. Es posible excitar el circuito con distintas entradas, cambiar los
parámetros de este, introducir defectos, o emplear distintos conjuntos de curvas para teselar el
plano. La aplicación resulta fundamental para efectuar el proceso de diagnosis pues relaciona
la cantidad de defecto con los valores de discrepancia obtenidos con la métrica definida.
Finalmente, se presentan los resultados experimentales obtenidos con el chip fabricado.
Se constata el correcto comportamiento de este y la validez de la metodología de test/diagnosis propuesta
Digital Filters
The new technology advances provide that a great number of system signals can be easily measured with a low cost. The main problem is that usually only a fraction of the signal is useful for different purposes, for example maintenance, DVD-recorders, computers, electric/electronic circuits, econometric, optimization, etc. Digital filters are the most versatile, practical and effective methods for extracting the information necessary from the signal. They can be dynamic, so they can be automatically or manually adjusted to the external and internal conditions. Presented in this book are the most advanced digital filters including different case studies and the most relevant literature
Suffolk University Undergraduate Academic Catalog, College of Arts and Sciences and Sawyer Business School, 2015-2016
This catalog contains information for the undergraduate programs in the College of Arts and Sciences and the Sawyer Business School. The catalog is a PDF version of the Suffolk website, so many pages have repeated information and links in the document will not work.
The catalog is keyword searchable by clicking ctrl+f. A-Z course descriptions are also included here as separate PDF files with lists of CAS and SBS courses. Please contact the Archives if you need assistance navigating this catalog or finding information on degree requirements or course descriptions.https://dc.suffolk.edu/cassbs-catalogs/1170/thumbnail.jp
University of Windsor Undergraduate Calendar 2020 Fall
https://scholar.uwindsor.ca/universitywindsorundergraduatecalendars/1014/thumbnail.jp