An Experimental Study of Reduced-Voltage Operation in Modern FPGAs for Neural Network Acceleration

We empirically evaluate an undervolting technique, i.e., underscaling the circuit supply voltage below the nominal level, to improve the power-efficiency of Convolutional Neural Network (CNN) accelerators mapped to Field Programmable Gate Arrays (FPGAs). Undervolting below a safe voltage level can lead to timing faults due to excessive circuit latency increase. We evaluate the reliability-power trade-off for such accelerators. Specifically, we experimentally study the reduced-voltage operation of multiple components of real FPGAs, characterize the corresponding reliability behavior of CNN accelerators, propose techniques to minimize the drawbacks of reduced-voltage operation, and combine undervolting with architectural CNN optimization techniques, i.e., quantization and pruning. We investigate the effect of environmental temperature on the reliability-power trade-off of such accelerators. We perform experiments on three identical samples of modern Xilinx ZCU102 FPGA platforms with five state-of-the-art image classification CNN benchmarks. This approach allows us to study the effects of our undervolting technique for both software and hardware variability. We achieve more than 3X power-efficiency (GOPs/W) gain via undervolting. 2.6X of this gain is the result of eliminating the voltage guardband region, i.e., the safe voltage region below the nominal level that is set by FPGA vendor to ensure correct functionality in worst-case environmental and circuit conditions. 43% of the power-efficiency gain is due to further undervolting below the guardband, which comes at the cost of accuracy loss in the CNN accelerator. We evaluate an effective frequency underscaling technique that prevents this accuracy loss, and find that it reduces the power-efficiency gain from 43% to 25%.Comment: To appear at the DSN 2020 conferenc

Degradation Models and Optimizations for CMOS Circuits

Die Gewährleistung der Zuverlässigkeit von CMOS-Schaltungen ist derzeit eines der größten Herausforderungen beim Chip- und Schaltungsentwurf. Mit dem Ende der Dennard-Skalierung erhöht jede neue Generation der Halbleitertechnologie die elektrischen Felder innerhalb der Transistoren. Dieses stärkere elektrische Feld stimuliert die Degradationsphänomene (Alterung der Transistoren, Selbsterhitzung, Rauschen, usw.), was zu einer immer stärkeren Degradation (Verschlechterung) der Transistoren führt. Daher erleiden die Transistoren in jeder neuen Technologiegeneration immer stärkere Verschlechterungen ihrer elektrischen Parameter. Um die Funktionalität und Zuverlässigkeit der Schaltung zu wahren, wird es daher unerlässlich, die Auswirkungen der geschwächten Transistoren auf die Schaltung präzise zu bestimmen. Die beiden wichtigsten Auswirkungen der Verschlechterungen sind ein verlangsamtes Schalten, sowie eine erhöhte Leistungsaufnahme der Schaltung. Bleiben diese Auswirkungen unberücksichtigt, kann die verlangsamte Schaltgeschwindigkeit zu Timing-Verletzungen führen (d.h. die Schaltung kann die Berechnung nicht rechtzeitig vor Beginn der nächsten Operation abschließen) und die Funktionalität der Schaltung beeinträchtigen (fehlerhafte Ausgabe, verfälschte Daten, usw.). Um diesen Verschlechterungen der Transistorparameter im Laufe der Zeit Rechnung zu tragen, werden Sicherheitstoleranzen eingeführt. So wird beispielsweise die Taktperiode der Schaltung künstlich verlängert, um ein langsameres Schaltverhalten zu tolerieren und somit Fehler zu vermeiden. Dies geht jedoch auf Kosten der Performanz, da eine längere Taktperiode eine niedrigere Taktfrequenz bedeutet. Die Ermittlung der richtigen Sicherheitstoleranz ist entscheidend. Wird die Sicherheitstoleranz zu klein bestimmt, führt dies in der Schaltung zu Fehlern, eine zu große Toleranz führt zu unnötigen Performanzseinbußen. Derzeit verlässt sich die Industrie bei der Zuverlässigkeitsbestimmung auf den schlimmstmöglichen Fall (maximal gealterter Schaltkreis, maximale Betriebstemperatur bei minimaler Spannung, ungünstigste Fertigung, etc.). Diese Annahme des schlimmsten Falls garantiert, dass der Chip (oder integrierte Schaltung) unter allen auftretenden Betriebsbedingungen funktionsfähig bleibt. Darüber hinaus ermöglicht die Betrachtung des schlimmsten Falles viele Vereinfachungen. Zum Beispiel muss die eigentliche Betriebstemperatur nicht bestimmt werden, sondern es kann einfach die schlimmstmögliche (sehr hohe) Betriebstemperatur angenommen werden. Leider lässt sich diese etablierte Praxis der Berücksichtigung des schlimmsten Falls (experimentell oder simulationsbasiert) nicht mehr aufrechterhalten. Diese Berücksichtigung bedingt solch harsche Betriebsbedingungen (maximale Temperatur, etc.) und Anforderungen (z.B. 25 Jahre Betrieb), dass die Transistoren unter den immer stärkeren elektrischen Felder enorme Verschlechterungen erleiden. Denn durch die Kombination an hoher Temperatur, Spannung und den steigenden elektrischen Feldern bei jeder Generation, nehmen die Degradationphänomene stetig zu. Das bedeutet, dass die unter dem schlimmsten Fall bestimmte Sicherheitstoleranz enorm pessimistisch ist und somit deutlich zu hoch ausfällt. Dieses Maß an Pessimismus führt zu erheblichen Performanzseinbußen, die unnötig und demnach vermeidbar sind. Während beispielsweise militärische Schaltungen 25 Jahre lang unter harschen Bedingungen arbeiten müssen, wird Unterhaltungselektronik bei niedrigeren Temperaturen betrieben und muss ihre Funktionalität nur für die Dauer der zweijährigen Garantie aufrechterhalten. Für letzteres können die Sicherheitstoleranzen also deutlich kleiner ausfallen, um die Performanz deutlich zu erhöhen, die zuvor im Namen der Zuverlässigkeit aufgegeben wurde. Diese Arbeit zielt darauf ab, maßgeschneiderte Sicherheitstoleranzen für die einzelnen Anwendungsszenarien einer Schaltung bereitzustellen. Für fordernde Umgebungen wie Weltraumanwendungen (wo eine Reparatur unmöglich ist) ist weiterhin der schlimmstmögliche Fall relevant. In den meisten Anwendungen, herrschen weniger harsche Betriebssbedingungen (z.B. sorgen Kühlsysteme für niedrigere Temperaturen). Hier können Sicherheitstoleranzen maßgeschneidert und anwendungsspezifisch bestimmt werden, sodass Verschlechterungen exakt toleriert werden können und somit die Zuverlässigkeit zu minimalen Kosten (Performanz, etc.) gewahrt wird. Leider sind die derzeitigen Standardentwurfswerkzeuge für diese anwendungsspezifische Bestimmung der Sicherheitstoleranz nicht gut gerüstet. Diese Arbeit zielt darauf ab, Standardentwurfswerkzeuge in die Lage zu versetzen, diesen Bedarf an Zuverlässigkeitsbestimmungen für beliebige Schaltungen unter beliebigen Betriebsbedingungen zu erfüllen. Zu diesem Zweck stellen wir unsere Forschungsbeiträge als vier Schritte auf dem Weg zu anwendungsspezifischen Sicherheitstoleranzen vor: Schritt 1 verbessert die Modellierung der Degradationsphänomene (Transistor-Alterung, -Selbsterhitzung, -Rauschen, etc.). Das Ziel von Schritt 1 ist es, ein umfassendes, einheitliches Modell für die Degradationsphänomene zu erstellen. Durch die Verwendung von materialwissenschaftlichen Defektmodellierungen werden die zugrundeliegenden physikalischen Prozesse der Degradationsphänomena modelliert, um ihre Wechselwirkungen zu berücksichtigen (z.B. Phänomen A kann Phänomen B beschleunigen) und ein einheitliches Modell für die simultane Modellierung verschiedener Phänomene zu erzeugen. Weiterhin werden die jüngst entdeckten Phänomene ebenfalls modelliert und berücksichtigt. In Summe, erlaubt dies eine genaue Degradationsmodellierung von Transistoren unter gleichzeitiger Berücksichtigung aller essenziellen Phänomene. Schritt 2 beschleunigt diese Degradationsmodelle von mehreren Minuten pro Transistor (Modelle der Physiker zielen auf Genauigkeit statt Performanz) auf wenige Millisekunden pro Transistor. Die Forschungsbeiträge dieser Dissertation beschleunigen die Modelle um ein Vielfaches, indem sie zuerst die Berechnungen so weit wie möglich vereinfachen (z.B. sind nur die Spitzenwerte der Degradation erforderlich und nicht alle Werte über einem zeitlichen Verlauf) und anschließend die Parallelität heutiger Computerhardware nutzen. Beide Ansätze erhöhen die Auswertungsgeschwindigkeit, ohne die Genauigkeit der Berechnung zu beeinflussen. In Schritt 3 werden diese beschleunigte Degradationsmodelle in die Standardwerkzeuge integriert. Die Standardwerkzeuge berücksichtigen derzeit nur die bestmöglichen, typischen und schlechtestmöglichen Standardzellen (digital) oder Transistoren (analog). Diese drei Typen von Zellen/Transistoren werden von der Foundry (Halbleiterhersteller) aufwendig experimentell bestimmt. Da nur diese drei Typen bestimmt werden, nehmen die Werkzeuge keine Zuverlässigkeitsbestimmung für eine spezifische Anwendung (Temperatur, Spannung, Aktivität) vor. Simulationen mit Degradationsmodellen ermöglichen eine Bestimmung für spezifische Anwendungen, jedoch muss diese Fähigkeit erst integriert werden. Diese Integration ist eines der Beiträge dieser Dissertation. Schritt 4 beschleunigt die Standardwerkzeuge. Digitale Schaltungsentwürfe, die nicht auf Standardzellen basieren, sowie komplexe analoge Schaltungen können derzeit nicht mit analogen Schaltungssimulatoren ausgewertet werden. Ihre Performanz reicht für solch umfangreiche Simulationen nicht aus. Diese Dissertation stellt Techniken vor, um diese Werkzeuge zu beschleunigen und somit diese umfangreichen Schaltungen simulieren zu können. Diese Forschungsbeiträge, die sich jeweils über mehrere Veröffentlichungen erstrecken, ermöglichen es Standardwerkzeugen, die Sicherheitstoleranz für kundenspezifische Anwendungsszenarien zu bestimmen. Für eine gegebene Schaltungslebensdauer, Temperatur, Spannung und Aktivität (Schaltverhalten durch Software-Applikationen) können die Auswirkungen der Transistordegradation ausgewertet werden und somit die erforderliche (weder unter- noch überschätzte) Sicherheitstoleranz bestimmt werden. Diese anwendungsspezifische Sicherheitstoleranz, garantiert die Zuverlässigkeit und Funktionalität der Schaltung für genau diese Anwendung bei minimalen Performanzeinbußen

Rapid prototyping and validation of FS-FBMC dynamic spectrum radio with simulink and ZynqSDR

This paper presents the research carried out in developing and targeting a novel real-time Dynamic Spectrum Access (DSA) Frequency Spread Filter Bank Multicarrier (FS-FBMC) transmitter prototype to programmable ‘ZynqSDR’ Software Defined Radio (SDR) hardware, and introduces a series of experiments used to validate the design’s ‘cognitive’ DSA capabilities. This transmitter is a proof of concept, that uses DSA techniques to enable Secondary Users (SUs) to access the band traditionally used for FM Radio broadcasting (88-108 MHz), and establish data communication channels in vacant parts of the FM Radio Primary User (PU) spectrum using a multicarrier modulation scheme with a Non Contiguous (NC) channel mask. Once implemented on the hardware, the transmitter is subjected to various FM Radio environments sampled from around Central Scotland, and it is demonstrated that it can dynamically adapt its NC transmitter mask in real time to protect the FM Radio signals it detects. A video is presented of this dynamic on-hardware spectral reconfiguration, and the reader is encouraged to view the video to appreciate the responsiveness of the design. An investigation into potential FBMC guardband sizes is carried out, with initial findings indicating a guardband of 200 kHz (either side of an FM Radio station) is required in order to prevent interference with the PUs. This paper also demonstrates the capabilities of the MATLAB®/ Simulink ZynqSDR workflow, and provides a case study and reference design that we feel other researchers working in this field can benefit from

Design for Reliability and Low Power in Emerging Technologies

Die fortlaufende Verkleinerung von Transistor-Strukturgrößen ist einer der wichtigsten Antreiber für das Wachstum in der Halbleitertechnologiebranche. Seit Jahrzehnten erhöhen sich sowohl Integrationsdichte als auch Komplexität von Schaltkreisen und zeigen damit einen fortlaufenden Trend, der sich über alle modernen Fertigungsgrößen erstreckt. Bislang ging das Verkleinern von Transistoren mit einer Verringerung der Versorgungsspannung einher, was zu einer Reduktion der Leistungsaufnahme führte und damit eine gleichbleibenden Leistungsdichte sicherstellte. Doch mit dem Beginn von Strukturgrößen im Nanometerbreich verlangsamte sich die fortlaufende Skalierung. Viele Schwierigkeiten, sowie das Erreichen von physikalischen Grenzen in der Fertigung und Nicht-Idealitäten beim Skalieren der Versorgungsspannung, führten zu einer Zunahme der Leistungsdichte und, damit einhergehend, zu erschwerten Problemen bei der Sicherstellung der Zuverlässigkeit. Dazu zählen, unter anderem, Alterungseffekte in Transistoren sowie übermäßige Hitzeentwicklung, nicht zuletzt durch stärkeres Auftreten von Selbsterhitzungseffekten innerhalb der Transistoren. Damit solche Probleme die Zuverlässigkeit eines Schaltkreises nicht gefährden, werden die internen Signallaufzeiten üblicherweise sehr pessimistisch kalkuliert. Durch den so entstandenen zeitlichen Sicherheitsabstand wird die korrekte Funktionalität des Schaltkreises sichergestellt, allerdings auf Kosten der Performance. Alternativ kann die Zuverlässigkeit des Schaltkreises auch durch andere Techniken erhöht werden, wie zum Beispiel durch Null-Temperatur-Koeffizienten oder Approximate Computing. Wenngleich diese Techniken einen Großteil des üblichen zeitlichen Sicherheitsabstandes einsparen können, bergen sie dennoch weitere Konsequenzen und Kompromisse. Bleibende Herausforderungen bei der Skalierung von CMOS Technologien führen außerdem zu einem verstärkten Fokus auf vielversprechende Zukunftstechnologien. Ein Beispiel dafür ist der Negative Capacitance Field-Effect Transistor (NCFET), der eine beachtenswerte Leistungssteigerung gegenüber herkömmlichen FinFET Transistoren aufweist und diese in Zukunft ersetzen könnte. Des Weiteren setzen Entwickler von Schaltkreisen vermehrt auf komplexe, parallele Strukturen statt auf höhere Taktfrequenzen. Diese komplexen Modelle benötigen moderne Power-Management Techniken in allen Aspekten des Designs. Mit dem Auftreten von neuartigen Transistortechnologien (wie zum Beispiel NCFET) müssen diese Power-Management Techniken neu bewertet werden, da sich Abhängigkeiten und Verhältnismäßigkeiten ändern. Diese Arbeit präsentiert neue Herangehensweisen, sowohl zur Analyse als auch zur Modellierung der Zuverlässigkeit von Schaltkreisen, um zuvor genannte Herausforderungen auf mehreren Designebenen anzugehen. Diese Herangehensweisen unterteilen sich in konventionelle Techniken ((a), (b), (c) und (d)) und unkonventionelle Techniken ((e) und (f)), wie folgt: $\textbf{(a)}$ Analyse von Leistungszunahmen in Zusammenhang mit der Maximierung von Leistungseffizienz beim Betrieb nahe der Transistor Schwellspannung, insbesondere am optimalen Leistungspunkt. Das genaue Ermitteln eines solchen optimalen Leistungspunkts ist eine besondere Herausforderung bei Multicore Designs, da dieser sich mit den jeweiligen Optimierungszielsetzungen und der Arbeitsbelastung verschiebt. $\textbf{(b)}$ Aufzeigen versteckter Interdependenzen zwischen Alterungseffekten bei Transistoren und Schwankungen in der Versorgungsspannung durch „IR-drops“. Eine neuartige Technik wird vorgestellt, die sowohl Über- als auch Unterschätzungen bei der Ermittlung des zeitlichen Sicherheitsabstands vermeidet und folglich den kleinsten, dennoch ausreichenden Sicherheitsabstand ermittelt. $\textbf{(c)}$ Eindämmung von Alterungseffekten bei Transistoren durch „Graceful Approximation“, eine Technik zur Erhöhung der Taktfrequenz bei Bedarf. Der durch Alterungseffekte bedingte zeitlich Sicherheitsabstand wird durch Approximate Computing Techniken ersetzt. Des Weiteren wird Quantisierung verwendet um ausreichend Genauigkeit bei den Berechnungen zu gewährleisten. $\textbf{(d)}$ Eindämmung von temperaturabhängigen Verschlechterungen der Signallaufzeit durch den Betrieb nahe des Null-Temperatur Koeffizienten (N-ZTC). Der Betrieb bei N-ZTC minimiert temperaturbedingte Abweichungen der Performance und der Leistungsaufnahme. Qualitative und quantitative Vergleiche gegenüber dem traditionellen zeitlichen Sicherheitsabstand werden präsentiert. $\textbf{(e)}$ Modellierung von Power-Management Techniken für NCFET-basierte Prozessoren. Die NCFET Technologie hat einzigartige Eigenschaften, durch die herkömmliche Verfahren zur Spannungs- und Frequenzskalierungen zur Laufzeit (DVS/DVFS) suboptimale Ergebnisse erzielen. Dies erfordert NCFET-spezifische Power-Management Techniken, die in dieser Arbeit vorgestellt werden. $\textbf{(f)}$ Vorstellung eines neuartigen heterogenen Multicore Designs in NCFET Technologie. Das Design beinhaltet identische Kerne; Heterogenität entsteht durch die Anwendung der individuellen, optimalen Konfiguration der Kerne. Amdahls Gesetz wird erweitert, um neue system- und anwendungsspezifische Parameter abzudecken und die Vorzüge des neuen Designs aufzuzeigen. Die Auswertungen der vorgestellten Techniken werden mithilfe von Implementierungen und Simulationen auf Schaltkreisebene (gate-level) durchgeführt. Des Weiteren werden Simulatoren auf Systemebene (system-level) verwendet, um Multicore Designs zu implementieren und zu simulieren. Zur Validierung und Bewertung der Effektivität gegenüber dem Stand der Technik werden analytische, gate-level und system-level Simulationen herangezogen, die sowohl synthetische als auch reale Anwendungen betrachten

Evaluating critical bits in arithmetic operations due to timing violations

Various error models are being used in simulation of voltage-scaled arithmetic units to examine application-level tolerance of timing violations. The selection of an error model needs further consideration, as differences in error models drastically affect the performance of the application. Specifically, floating point arithmetic units (FPUs) have architectural characteristics that characterize its behavior. We examine the architecture of FPUs and design a new error model, which we call Critical Bit. We run selected benchmark applications with Critical Bit and other widely used error injection models to demonstrate the differences

Approximate and timing-speculative hardware design for high-performance and energy-efficient video processing

Since the end of transistor scaling in 2-D appeared on the horizon, innovative circuit design paradigms have been on the rise to go beyond the well-established and ultraconservative exact computing. Many compute-intensive applications – such as video processing – exhibit an intrinsic error resilience and do not necessarily require perfect accuracy in their numerical operations. Approximate computing (AxC) is emerging as a design alternative to improve the performance and energy-efficiency requirements for many applications by trading its intrinsic error tolerance with algorithm and circuit efficiency. Exact computing also imposes a worst-case timing to the conventional design of hardware accelerators to ensure reliability, leading to an efficiency loss. Conversely, the timing-speculative (TS) hardware design paradigm allows increasing the frequency or decreasing the voltage beyond the limits determined by static timing analysis (STA), thereby narrowing pessimistic safety margins that conventional design methods implement to prevent hardware timing errors. Timing errors should be evaluated by an accurate gate-level simulation, but a significant gap remains: How these timing errors propagate from the underlying hardware all the way up to the entire algorithm behavior, where they just may degrade the performance and quality of service of the application at stake? This thesis tackles this issue by developing and demonstrating a cross-layer framework capable of performing investigations of both AxC (i.e., from approximate arithmetic operators, approximate synthesis, gate-level pruning) and TS hardware design (i.e., from voltage over-scaling, frequency over-clocking, temperature rising, and device aging). The cross-layer framework can simulate both timing errors and logic errors at the gate-level by crossing them dynamically, linking the hardware result with the algorithm-level, and vice versa during the evolution of the application’s runtime. Existing frameworks perform investigations of AxC and TS techniques at circuit-level (i.e., at the output of the accelerator) agnostic to the ultimate impact at the application level (i.e., where the impact is truly manifested), leading to less optimization. Unlike state of the art, the framework proposed offers a holistic approach to assessing the tradeoff of AxC and TS techniques at the application-level. This framework maximizes energy efficiency and performance by identifying the maximum approximation levels at the application level to fulfill the required good enough quality. This thesis evaluates the framework with an 8-way SAD (Sum of Absolute Differences) hardware accelerator operating into an HEVC encoder as a case study. Application-level results showed that the SAD based on the approximate adders achieve savings of up to 45% of energy/operation with an increase of only 1.9% in BD-BR. On the other hand, VOS (Voltage Over-Scaling) applied to the SAD generates savings of up to 16.5% in energy/operation with around 6% of increase in BD-BR. The framework also reveals that the boost of about 6.96% (at 50°) to 17.41% (at 75° with 10- Y aging) in the maximum clock frequency achieved with TS hardware design is totally lost by the processing overhead from 8.06% to 46.96% when choosing an unreliable algorithm to the blocking match algorithm (BMA). We also show that the overhead can be avoided by adopting a reliable BMA. This thesis also shows approximate DTT (Discrete Tchebichef Transform) hardware proposals by exploring a transform matrix approximation, truncation and pruning. The results show that the approximate DTT hardware proposal increases the maximum frequency up to 64%, minimizes the circuit area in up to 43.6%, and saves up to 65.4% in power dissipation. The DTT proposal mapped for FPGA shows an increase of up to 58.9% on the maximum frequency and savings of about 28.7% and 32.2% on slices and dynamic power, respectively compared with stat

Regression modeling for digital test of ΣΔ modulators

The cost of Analogue and Mixed-Signal circuit testing is an important bottleneck in the industry, due to timeconsuming verification of specifications that require state-ofthe- art Automatic Test Equipment. In this paper, we apply the concept of Alternate Test to achieve digital testing of converters. By training an ensemble of regression models that maps simple digital defect-oriented signatures onto Signal to Noise and Distortion Ratio (SNDR), an average error of 1:7% is achieved. Beyond the inference of functional metrics, we show that the approach can provide interesting diagnosis information.Ministerio de Educación y Ciencia TEC2007-68072/MICJunta de Andalucía TIC 5386, CT 30

Intelligent systems for efficiency and security

As computing becomes ubiquitous and personalized, resources like energy, storage and time are becoming increasingly scarce and, at the same time, computing systems must deliver in multiple dimensions, such as high performance, quality of service, reliability, security and low power. Building such computers is hard, particularly when the operating environment is becoming more dynamic, and systems are becoming heterogeneous and distributed. Unfortunately, computers today manage resources with many ad hoc heuristics that are suboptimal, unsafe, and cannot be composed across the computer’s subsystems. Continuing this approach has severe consequences: underperforming systems, resource waste, information loss, and even life endangerment. This dissertation research develops computing systems which, through intelligent adaptation, deliver efficiency along multiple dimensions. The key idea is to manage computers with principled methods from formal control. It is with these methods that the multiple subsystems of a computer sense their environment and configure themselves to meet system-wide goals. To achieve the goal of intelligent systems, this dissertation makes a series of contributions, each building on the previous. First, it introduces the use of formal MIMO (Multiple Input Multiple Output) control for processors, to simultaneously optimize many goals like performance, power, and temperature. Second, it develops the Yukta control system, which uses coordinated formal controllers in different layers of the stack (hardware and operating system). Third, it uses robust control to develop a fast, globally coordinated and decentralized control framework called Tangram, for heterogeneous computers. Finally, it presents Maya, a defense against power side-channel attacks that uses formal control to reshape the power dissipated by a computer, confusing the attacker. The ideas in the dissertation have been demonstrated successfully with several prototypes, including one built along with AMD (Advanced Micro Devices, Inc.) engineers. These designs significantly outperformed the state of the art. The research in this dissertation brought formal control closer to computer architecture and has been well-received in both domains. It has the first application of full-fledged MIMO control for processors, the first use of robust control in computer systems, and the first application of formal control for side-channel defense. It makes a significant stride towards intelligent systems that are efficient, secure and reliable

Software Canaries: Software-based Path Delay Fault Testing for Variation-aware Energy-efficient Design

ABSTRACT Software-based path delay fault testing (SPDFT) has been used to identify faulty chips that cannot meet timing constraints due to gross delay defects. In this paper, we propose using SPDFT for a new purpose -aggressively selecting the operating point of a variation-affected design. In order to use SPDFT for this purpose, test routines must provide high coverage of potentially-critical paths and must have low dynamic performance overhead. We describe how to apply SPDFT for selecting an energy-efficient operating point for a variation-affected processor and demonstrate that our test routines achieve ample coverage and low overhead