Геометричне та механо-сорбційне модифікування високодисперсного кремнезему в умовах газового дисперсійного середовища

Methods of geometric and solvate-stymulated mechano-sorption-activated modification of fumed nanosilica in the gaseous dispersion media were developed and used to prepare functionalyzed nanofillers for polymeric systems. Non-volatile high- and low-molecular weight compounds (such as polymers, organic bioactive compounds, organic and inorganic salts) can be used as modifiers of nanofillers.Були описані геометричне та сольвато-стимульоване механосорбційне модифікування високодисперсного кремнезему в умовах газового дисперсійного середовища. Такі способи модифікування дозволяють одержувати функціоналізовані наповнювачі полімерних систем на основі нанорозмірного кремнезему. Для модифікування можна використовувати нелеткі високо- та низькомолекулярні органічні сполуки – полімери, біологічно активні сполуки, органічні солі, а також неорганічні солі

Adsorption and Migration of Poly(Vinyl Pyrrolidone) at a Fumed Silica Surface

A series of poly(vinyl pyrrolidone) (PVP)/fumed silica powder samples were studied using adsorption, FT-IR and AFM methods. Mild treatment (293 K for several hours) of PVP/A-300 powder with an added additional portion of A-300 in a glass reactor (2 dm 3 ) using a mixer (> 500 rpm which provided the powder as a pseudo-liquid state, PLS) led to the redistribution (migration) of the PVP molecules between silica particles previously covered by PVP and free of PVP. This time-dependent rearrangement of the adsorbed PVP molecules caused the formation of a denser polymer layer at the silica surface. The aggregate size of the primary silica particles with adsorbed PVP molecules decreased after treatment. The volume of macropores with a pore radius R p > 25 nm increased due to the decrease in the distances between aggregates in agglomerates because of the adhesive effect of the PVP molecules. However, the volume of micropores at R p < 1 nm decreased because of the penetration of the PVP molecules into the primary silica particle aggregates and the filling of gaps between adjacent particles. A decrease occurred in the amount of adsorbed water in the PVP layer exhibiting a maximum density

Ellipsometric study of ion implanted copper surface and its room temperature oxidation

The room temperature oxidation of ion-implanted copper surface has been studied ex situ and in situ using ellipsometry. The ellipsometric parameters T and Д were measured at light incidence angle 75° for different wavelength values in the range of 280 to 760 nm using averaging both over two azimuthal zones and single one. The oxide layer was removed from the copper surface during the aluminum ion implantation an then the growth of the newly formed oxide film on the ion implanted surface was studied by ellipsometry. Basing on the spectroellipsometric data, the oxide film thickness has been calculated for two types of copper oxides.Проведены эллипсометрические исследования окисления при комнатной температуре ионно-имплантированных поверхностей меди. Эллипсометрические параметры T и Д измерены при угле падения света 75° для различных величин длины волны света в области 280—760 нм с усреднением как по двум, так и по одной азимутальным зонам. Оксидная пленка с поверхности меди удалялась в процессе ее имплантации ионами алюминия, а затем рост вновь формируемой пленки оксида меди на имплантированной поверхности исследован эллипсометрическим методом. Проведены на основе спектроэллипсометрических данных расчеты толщин пленок для двух типов оксидов меди.Проведено еліпсометричні дослідження окиснення при кімнатній температурі іонно-імплантованих поверхонь міді. Еліпсометричні параметри Т і Д виміряно при куті падіння світла 75° для різних величин довжини хвилі світла в області 280-760 нм з усередненням як за двома, так і за однією азимутальними зонами. Оксидна плівка з поверхні міді розпилювалась у процесі її імплантації іонами алюмінію, і наступний ріст нової плівки оксиду міді на імплантованій поверхні досліджено еліпсометричним методом. На основі спектроеліпсометричних даних розраховано товщину плівок для двох типів оксидів міді