Zirconium oxidation under high energy heavy ion irradiation

This paper concerns the study of zirconium oxidation under irradiation with high energetic Xe ions. The irradiations were performed on the IRRSUD beam line at GANIL (Caen). The oxygen partial pressure was fixed at 10$^{-3}$ Pa and two temperature conditions were used, either 480$\circ$C reached by Joule effect heating or 280$\circ$C due to Xe energy deposition. Zirconia was fully characterized by Rutherford Backscattering Spectrometry, Transmission Electron Microscopy and Grazing Angle X-ray Diffraction. Apparent diffusion coefficients of oxygen in ZrO2 were determined from these experiments by using a model which takes into account a surface exchange between oxygen gas and the ZrO2 surface. These results are compared with thermal oxidation data

ALOK - Einsatz bei wiederkehrenden Prüfungen

Das ALOK-Verfahren benutzt zur Reflektorbeschreibung das Laufzeitverhalten der Echosignale, das bei der Pruefkopfbewegung zustande kommt. Bei der Auswertung der Ultraschalldaten von Wiederholungspruefungen hinsichtlich der Ueberwachung bereits analysierter Fehlstellen, kann eine Vereinfachung der Auswerteprozedur durch Vergleich der Laufzeitortskurvenmuster erfolgen, welche die Fehlstellen charakterisieren. Ein waehrend der Betriebsphase der zu pruefenden Komponente aufgetretenes Fehlerwachstum kann anhand von Veraenderungen der Laufzeitmuster detektiert und groessenmaessig bestimmt werden. (IZFP

Datenaufnahme und -verarbeitung bei der automatisierten Ultraschallprüfung mit dem ALOK-Verfahren

An automatisierte Ultraschallprüfungen von sicherheitstechnisch relevanten Komponenten, wie z.B. im Primärkreis von Kernkraftwerken oder in vielen Bereichen der konventionellen Kraftwerkstechnik sowie der chemischen Industrie, werden hohe Anforderungen hinsichtlich der Zuverlässigkeit der Prüfaussage gestellt, bei gleichzeitiger Berücksichtigung wirtschaftlicher Aspekte. Zur Erfüllung dieser Anforderungen müssen Prüfsysteme eingesetzt werden, die einerseits durch hohe Prüfempfindlichkeit und hohes Auflösungsvermögen einen sicheren Fehlernachweis gewährleisten, andererseits durch hohe Prüfgeschwindigkeit und weitgehende Unempfindlichkeit gegenüber elektrischen und akustischen Störsignalen gekennzeichnet sind. Um bei einer eventuell notwendig werdenden Analyse von Reflektoranzeigen den zusätzlichen Aufwand zu minimieren, sind Verfahren von Vorteil, die über die Fehlersuche hinaus auch eine möglichst genaue Beschreibung der aufgefundenen Reflektoren erlauben. Ein solches Prüfsystem ist re alisiert in Form des ALOK-3 Ultraschallgerätes und eines Softwarepaketes zur Auswertung der aufgezeichneten Meßdaten. Das ALOK-Verfahren (Amplituden- und Laufzeitortskurven) benutzt als wesentliche Meßgröße zur Interpretation von Ultraschallanzeigen das Laufzeitverhalten der Echosignale, das bei der Bewegung des Prüfkopfes auf der Oberfläche des Prüfobjektes zustande kommt. Die Echoamplitude verliert damit an Bedeutung und wird im wesentlichen nur noch zur Anzeigenerkennung und Klassierung (nicht registrierpflichtig, bewertungspflichtig) entsprechend den anzuwendenden Prüfrichtlinien benutzt