AVALIAÇÃO DA QUALIDADE POSICIONAL DE DADOS ESPACIAIS GERADOS POR VANT UTILIZANDO FEIÇÕES PONTUAIS E LINEARES PARA APLICAÇÕES CADASTRAIS

Atualmente a validação da qualidade das informações cartográficas tem sido um tema cada vez mais evidente e de extrema importância. Com o surgimento da Infraestrutura Nacional de Dados Espaciais (INDE), surgiram diversas especificações técnicas com a finalidade de regulamentar e padronizar os inúmeros processos relacionados à produção cartográfica nacional. Nesse contexto, o objetivo do presente estudo é avaliar a acurácia posicional planimétrica de uma ortofoto gerada a partir de um sensor embarcado em uma plataforma VANT, através da aplicação dos métodos de feições pontuais e lineares, de acordo com o padrão de acurácia posicional brasileiro (Decreto-lei 89.817 aliado à ET-ADGV), considerando como referência um levantamento topográfico executado utilizando a tecnologia GNSS (Global Navigation Satéllite System) e método de posicionamento RTK (Real Time Kinematic). Os resultados alcançados demostram que tanto o método de feição linear (método Buffer Duplo) quanto o método de feição pontual apresentaram resultados similares, obtendo-se segundo o Decreto-lei no 89.817 em concordância com a ET-ADGV classificação classe B para a escala 1:1000.Currently the validation of the quality of cartographic information has been an issue ever more evident and important. With the emergence of the National Spatial Data Infrastructure (INDE) in Brazil, there were several technical specifications in order to regulate and standardize the many processes related to national cartographic production. In this context, the objective of this study is to evaluate the positional planimetric accuracy of orthophoto generated from an embedded sensor on a UAV platform by applying methods of point and linear features, according to the Brazilian standard for positional accuracy (Decree Law 89 817 combined with ET-ADGV), considering as a reference survey performed using RTK GNSS positioning technology. The results obtained demonstrate that both linear feature method (Double Buffer method) and the pontual feature method showed similar results, obtaining classification Class B to scale 1: 1,000, according to the Decree Law No. 89,817 / ET-ADGV