Participação no grupo cooperativo do movimento da escola moderna: contributos para o desenvolvimento profissional docente

Dissertação apresentada à Escola Superior de Educação de Lisboa para obtenção do grau de Mestre em Ciências da Educação, especialidade Supervisão em EducaçãoO trabalho cooperativo entre os professores tem merecido destaque nos últimos anos, relacionando-se com ajuda mútua (Carneiro, Geller & Nitzke, 2008), onde todos trabalham com o intuito de alcançar objetivos pré definidos entre si (Dillenbourg, 1999) e de obter competências profissionais. Muito embora as práticas de trabalho individual ainda sejam uma tentação para os professores na atualidade há uma maior tendência para trabalharem colaborativamente nas escolas ou em grupos de formação organizados pelas associações de professores. Neste contexto, o estudo que apresentamos tem como finalidade compreender os processos de autoformação cooperada no contexto dos grupos cooperativos do Movimento da Escola Moderna (MEM) e o seu impacto no desenvolvimento profissional docente. Tendo em conta o objeto de estudo, identificaram-se as seguintes questões: i) Que motivações levam os professores a integrar os grupos cooperativos do MEM? ii) Como se organiza e desenvolve a autoformação cooperada nos grupos cooperativos do MEM? iii) Quais os aspetos positivos e constrangimentos identificados pelos professores no trabalho desenvolvido nos grupos cooperativos? iv) Quais as razões que levam os professores a permanecer e a abandonar a sua participação nos grupos cooperativos do MEM? v) Qual o impacto das experiências realizadas no contexto dos grupos cooperativos no desenvolvimento profissional docente? Para o efeito, contámos com a participação de seis professores pertencentes a um grupo cooperativo do MEM. Tendo como referência o objeto de estudo recorremos a uma metodologia de natureza qualitativa e privilegiámos como técnica de recolha de dados a entrevista semiestruturada. Para o tratamento dos dados sustentámo-nos na análise de conteúdo seguindo os passos recomendados para a análise de conteúdo por Bardin (2009). Os resultados do estudo permitiram constatar que o trabalho realizado no seio do grupo cooperativo promove o desenvolvimento profissional docente dado que fomenta a competência reflexiva sobre a prática pedagógica, bem como o desenvolvimento de outras competências da praxis, nomeadamente, a identificação de estratégias mais adequadas à resolução de problemas emergentes do quotidiano profissional do professor.Abstract The cooperative work between teachers has been receiving more attention over the last years, in relation with the mutual assistance (Carneiro, Geller & Nitzke, 2008), where everybody works with an aim to achieve predefined goals, which were created in relation to one another (Dillenbourg, 1999) and to obtain professional skills. Although individual work practices are still tempting to teachers, there is currently a greater trend to work as a group in schools or in training groups organized by teachers’ associations. In this context, this study aims to understand the cooperative self-training processes within the context of MEM’s cooperative groups and their impact in the professional teacher development. Considering the subject of study, the following questions were identified: i) What motivations lead the teachers to integrate MEM’s cooperative groups? ii) How is the cooperative self-training organized and how is it developed within in MEM’s cooperative groups? iii) What are the positive aspects and constraints identified by the teachers within the work developed in the cooperative groups? iv) What are the reasons that lead the teachers to stay or abandon its participation in MEM’s cooperative groups? v) What is the impact of experiences carried in the context of cooperative groups in the professional teacher development? For this purpose, we had the participation of six teachers belonging to one of MEM’s cooperative groups. Keeping the subject of study as a reference, we use a qualitative methodology and gave preference to the semi structured interview as the data collection technique. We based the data processing in the content analysis, following the recommended steps for content analysis by Bardin (2009). The study’s results allowed determining that the executed work promotes the teachers professional development, given that it increases the reflexive competence about the pedagogic practice, as well as the development of other competences of praxis, namely, the identification of the most adequate strategies for the resolution of emerging issues in the teacher’s professional everyday life.N/

The second cross over in the electronic emission curve shift with the absorbed radiation dose and its implication.

Amostras de Teflón&#174 FEP e Mylar C foram submetidas a um bombardeio eletrônico por longos períodos a fim de se verificar a existência de uma possível corrente de condução na fase final de um carregamento por feixe eletrônico. Em vez disso, descobriu-se que a energia associada ao segundo ponto de cruzamento da curva de emissão eletrônica do material bombardeado varia lentamente com o tempo de exposição à irradiação. Por outro lado foram descobertos também fortes indícios de que o centróide de carga sofre um deslocamento enquanto a amostra está sendo irradiada. A componente da corrente através da amostra, associada a qualquer um desses efeitos se superpõe à corrente de condução (se existir) e acaba tornando inviável a sua observação, enquanto um ou ambos os efeitos persistirem. Na realidade não é só a energia do segundo ponto de cruzamento que varia; toda a curva de emissão característica do material, que é fundamental para se entender os processos e carga e descarga de amostras, sofre modificação com a irradiação prolongada. Além disto, dois novos métodos para se carregar uma amostra de polímero estão sendo propostos. Um deles permite carregar uma amostra positivamente, por etapas, a tensões mais elevadas que o método convencional. O outro possibilita carregar negativamente uma amostra, lançando mão do mecanismo de auto-regulação para interrupção do processo de carga, o que só havia sido feito até o momento para um carregamento positivo. Um novo método para se descarregar uma amostra usando o próprio feixe eletrônico também é apresentado.Teflon&#174 FEP and Mylar C samples were submitted to an electron beam during long periods of time in order to examine the possible existence of conduction current in the final stages of the charging process. It was found that the energy associated with the second crossover point in the electronic emission curve of the irradiated material varied slightly with the time of irradiation. On the other hand, strong evidence emerged that the charge centroid is shifted while the sample is being irradiated. The component of the current through the sample which is associated with any of these effects is superimposed to the conduction current (if present), hampering the identification of a conduction current. In fact, it is not only the energy of the second crossover point that varies, for the whole emission curve is modified upon prolonged irradiation. This emission curve is fundamental for understanding the charging and discharging processes in the samples. In addition, two new methods for charging a sample are being proposed. The first allows one to charge the sample positively to surface potentials that are higher than those obtained in the conventional method. The other method permits the sample to be charged negatively using the auto-regulation mechanism for interrupting the charging process; this had previously been done only for charging samples positively. A new method for discharging a sample using the electron beam is also presented

The second cross over in the electronic emission curve shift with the absorbed radiation dose and its implication.

Amostras de Teflón&#174 FEP e Mylar C foram submetidas a um bombardeio eletrônico por longos períodos a fim de se verificar a existência de uma possível corrente de condução na fase final de um carregamento por feixe eletrônico. Em vez disso, descobriu-se que a energia associada ao segundo ponto de cruzamento da curva de emissão eletrônica do material bombardeado varia lentamente com o tempo de exposição à irradiação. Por outro lado foram descobertos também fortes indícios de que o centróide de carga sofre um deslocamento enquanto a amostra está sendo irradiada. A componente da corrente através da amostra, associada a qualquer um desses efeitos se superpõe à corrente de condução (se existir) e acaba tornando inviável a sua observação, enquanto um ou ambos os efeitos persistirem. Na realidade não é só a energia do segundo ponto de cruzamento que varia; toda a curva de emissão característica do material, que é fundamental para se entender os processos e carga e descarga de amostras, sofre modificação com a irradiação prolongada. Além disto, dois novos métodos para se carregar uma amostra de polímero estão sendo propostos. Um deles permite carregar uma amostra positivamente, por etapas, a tensões mais elevadas que o método convencional. O outro possibilita carregar negativamente uma amostra, lançando mão do mecanismo de auto-regulação para interrupção do processo de carga, o que só havia sido feito até o momento para um carregamento positivo. Um novo método para se descarregar uma amostra usando o próprio feixe eletrônico também é apresentado.Teflon&#174 FEP and Mylar C samples were submitted to an electron beam during long periods of time in order to examine the possible existence of conduction current in the final stages of the charging process. It was found that the energy associated with the second crossover point in the electronic emission curve of the irradiated material varied slightly with the time of irradiation. On the other hand, strong evidence emerged that the charge centroid is shifted while the sample is being irradiated. The component of the current through the sample which is associated with any of these effects is superimposed to the conduction current (if present), hampering the identification of a conduction current. In fact, it is not only the energy of the second crossover point that varies, for the whole emission curve is modified upon prolonged irradiation. This emission curve is fundamental for understanding the charging and discharging processes in the samples. In addition, two new methods for charging a sample are being proposed. The first allows one to charge the sample positively to surface potentials that are higher than those obtained in the conventional method. The other method permits the sample to be charged negatively using the auto-regulation mechanism for interrupting the charging process; this had previously been done only for charging samples positively. A new method for discharging a sample using the electron beam is also presented

Low energy electron beam injected charge and its transport mechanisms in dieletrics.

Neste trabalho realizamos uma série de medidas de correntes elétricas através de amostras de polímeros isolantes submetidos a radiação por feixe eletrônico, amostras essas inserida em um circuito em modo de corrente. A energia do feixe incidente foi sempre tal que não atravessava totalmente a amostra, depositando em seu interior excesso de carga negativa. A polaridade dessa carga foi determinada pela curva de emissão secundária. Como a energia do feixe foi sempre muito superior à energia EII (abaixo dessa energia o número de elétrons injetados pelo feixe é menor que os arrancados para fora da amostra, e acima desse valor o contrário ocorre), as amostras usadas (polifluoretileno-propileno, polietileno de alta densidade e polietileno de baixa densidade) foram carregadas negativamente. Devido à radiação parcialmente penetrante, cada amostra foi dividida em duas regiões distintas: irradiada e não-irradiada. Na região não-irradiada permanece a condutividade intrínseca do material, enquanto na irradiada a condutividade foi muito aumentada devido à geração de portadores secundários pela radiação. As curvas de corrente foram medidas durante e após a irradiação sob diferentes campos elétricos aplicados externamente. Vários modelos teóricos foram aplicados para explicar os resultados de correntes medidas. O mais simples foi o Modelo Caixa, onde a penetração dos primários era um valor fixo r, dividindo a amostra em condutividade induzida g1 de 0 a r, e condutividade intrínseca gi, de r a L, sendo g1 gi (L é a espessura da amostra). O modelo mais sofisticado levou em conta uma região &#916r em torno de r pois considera que o freamento dos elétrons não ocorre todos no mesmo ponto, mas tem uma dispersão em tomo de um ponto r. Por esse motivo a condutividade induzida é dependente da posição, e num caso mais geral depende também do tempo. Durante a irradiação da amostra inserida no circuito de medida, pode ocorrer injeção pelos eletrodos alterando, em determinadas circunstâncias, a polaridade do excesso de carga. Como resultado dos ajustes teórico-experimentais vários parâmetros elétricos dos materiais foram obtidos.This work presents several electric current measurements in dieletric polymers under irradiation by electron beam. The samples were irradiated in a current mode circuit. The energy of the beam provided a negative charge profile charge in the bulk o the sample. The polarity of the deposited charge was determined by a secundary emission curve. Since the energy of the beam was always bigger tham EII (which defines the balance between the injected electrons and the emitted ones; below EII the sample became positively charged, while above it is negatively charged) the samples (polyethylene propylene, high density polyethylene and low density polyethylene) were always negatively charged. Each irradiated sample was divided in two regions: the irradiated region and the non-irradiated one. Due to the secondary generated carries, the condutivity of the irradiated region gi was orders of magnitude higher than the intrinsic condutivity g1. The eletric currents were measured during and after the irradiation, under different external electric fields. Several theoretical models were used to explain the experimental results. The simplest one, the box models, considers the induced condutivity gb from 0 to r, and the intrinsic condutivity gi from r to L (L being the sample thickeness). The more sophisticated model, on the other hand, considers a range value &#916r around the point r. It means that the stopping power is not abruptly but rather is distributed in a region &#916r around the point r. For this reason the induced conductivity depends on the position, and in a more general framework, also in time. During the irradiation, carriers are injected to the sample by the electrodes, and in certain conditions the excess of charge has its polarity inverted. From the theoretical-experimental fittings important electrical parametes of the materials were obtained

Low energy electron beam injected charge and its transport mechanisms in dieletrics.

Neste trabalho realizamos uma série de medidas de correntes elétricas através de amostras de polímeros isolantes submetidos a radiação por feixe eletrônico, amostras essas inserida em um circuito em modo de corrente. A energia do feixe incidente foi sempre tal que não atravessava totalmente a amostra, depositando em seu interior excesso de carga negativa. A polaridade dessa carga foi determinada pela curva de emissão secundária. Como a energia do feixe foi sempre muito superior à energia EII (abaixo dessa energia o número de elétrons injetados pelo feixe é menor que os arrancados para fora da amostra, e acima desse valor o contrário ocorre), as amostras usadas (polifluoretileno-propileno, polietileno de alta densidade e polietileno de baixa densidade) foram carregadas negativamente. Devido à radiação parcialmente penetrante, cada amostra foi dividida em duas regiões distintas: irradiada e não-irradiada. Na região não-irradiada permanece a condutividade intrínseca do material, enquanto na irradiada a condutividade foi muito aumentada devido à geração de portadores secundários pela radiação. As curvas de corrente foram medidas durante e após a irradiação sob diferentes campos elétricos aplicados externamente. Vários modelos teóricos foram aplicados para explicar os resultados de correntes medidas. O mais simples foi o Modelo Caixa, onde a penetração dos primários era um valor fixo r, dividindo a amostra em condutividade induzida g1 de 0 a r, e condutividade intrínseca gi, de r a L, sendo g1 gi (L é a espessura da amostra). O modelo mais sofisticado levou em conta uma região &#916r em torno de r pois considera que o freamento dos elétrons não ocorre todos no mesmo ponto, mas tem uma dispersão em tomo de um ponto r. Por esse motivo a condutividade induzida é dependente da posição, e num caso mais geral depende também do tempo. Durante a irradiação da amostra inserida no circuito de medida, pode ocorrer injeção pelos eletrodos alterando, em determinadas circunstâncias, a polaridade do excesso de carga. Como resultado dos ajustes teórico-experimentais vários parâmetros elétricos dos materiais foram obtidos.This work presents several electric current measurements in dieletric polymers under irradiation by electron beam. The samples were irradiated in a current mode circuit. The energy of the beam provided a negative charge profile charge in the bulk o the sample. The polarity of the deposited charge was determined by a secundary emission curve. Since the energy of the beam was always bigger tham EII (which defines the balance between the injected electrons and the emitted ones; below EII the sample became positively charged, while above it is negatively charged) the samples (polyethylene propylene, high density polyethylene and low density polyethylene) were always negatively charged. Each irradiated sample was divided in two regions: the irradiated region and the non-irradiated one. Due to the secondary generated carries, the condutivity of the irradiated region gi was orders of magnitude higher than the intrinsic condutivity g1. The eletric currents were measured during and after the irradiation, under different external electric fields. Several theoretical models were used to explain the experimental results. The simplest one, the box models, considers the induced condutivity gb from 0 to r, and the intrinsic condutivity gi from r to L (L being the sample thickeness). The more sophisticated model, on the other hand, considers a range value &#916r around the point r. It means that the stopping power is not abruptly but rather is distributed in a region &#916r around the point r. For this reason the induced conductivity depends on the position, and in a more general framework, also in time. During the irradiation, carriers are injected to the sample by the electrodes, and in certain conditions the excess of charge has its polarity inverted. From the theoretical-experimental fittings important electrical parametes of the materials were obtained

Structural modifications in stretch-induced crystallization in PVDF films as measured by small-angle X-ray scattering

The nanostructure of stretched and nonstretched PVDF samples was studied by small-angle X-ray scattering (SAXS). The crystallinity of the samples was determined by wide-angle X-ray diffraction (WAXD) and differential scanning calorimetry (DSC), and crystalline phases by Fourier transform infrared spectroscopy (FTIR). The nanostructure can be described by a lamellar stacking of crystalline and amorphous layers, with a fairly well defined long period D and a diffuse-boundary in the interface between the crystalline and amorphous phases. The crystallinity of the stretched sample was found to be greater than that of the nonstretched sample. The long period D and the thicknesses of the crystalline lamellae Tc were found to be greater in the stretched sample than those in the nonstretched sample. The thickness of the diffuse-boundary was evaluated as being similar to 1.4 nm in the nonstretched sample and 1.1 nm in the stretched sample. It was concluded that the growth of the thickness of the crystalline layer induced by the stretching process (stretch-induced crystallization) occurs partially at expense of the diffuse boundary and also by the coarsening of the structure with the stretching process, because of the diminution in the surface area to volume ratio observed. (C) 2011 Wiley Periodicals, Inc. J Appl Polym Sci, 2012Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq

Associação de pilhas novas e usadas em paralelo: uma análise qualitativa para o ensino médio

The possible consequences of using new batteries, connected in parallel with used ones are analyzed theoretically using electrical and circuit analysis concepts, as they are commonly teaching in classes of Physics in high schools, as to allow the teacher to illustrate and complement his activities of electricity. The results shows that if the real voltages supplied by the batteries or its internal resistances are very different among itself there will be a significant stress (wear down) of the new battery, indicating that it must be avoided the use of new and old batteries together connected in parallel.As possíveis conseqüências de se utilizar pilhas (ou um conjunto delas, as baterias) novas, associadas em paralelo com usadas, são discutidas qualitativamente, utilizando-se conceitos de eletricidade e de análise de circuitos, da maneira como são tradicionalmente abordados em aulas de Física no Ensino Médio, para que o professor possa ilustrar e complementar suas atividades de eletricidade. Os resultados mostram que, se as tensões reais fornecidas pelas pilhas ou suas resistências internas forem muito diferentes entre si, haverá um acentuado desgaste daquela que é nova, indicando que se deve evitar o uso conjunto de pilhas novas e usadas, associadas em paralelo

Hopping-tunneling model to describe electric charge injection at metal/organic semiconductor heterojunctions

This paper describes a theoretical model which takes into account charge injection by thermally stimulated hopping (HP), as proposed by Arkhipov, and Fowler-Nordheim tunneling (FNT), for steady-state response of a metal/organic semiconductor hetero-junction in a polymeric light-emitting diode (PLED). The reason for combining these two models is that both injection processes are usually observed in metal/organic semiconductor hetero-junctions. The present model takes into account the material disorder and the escape probability introduced by Arkhipov et al. for both injection processes. The proposed model was tested with experimental results obtained from a PLED ITO/MEH-PPV/Al. Analysis of the experimental results took into account the well-known characteristic of the MEH-PPV in which the charge transport is dominated by holes. Because of this, the electronic current component is assumed to be negligible compared to that for holes. Considering that the device is composed of two different metal/semiconductor junctions, that is, ITO/MEH-PPV and MEH-PPV/Al, the heights of the different potential barriers could be determined. The injection potential barrier, for holes, was determined as 0.4 eV for direct bias (ITO as anode), and as 0.8 eV for reverse bias (aluminum as anode). It was verified that the FNT process is preferable to the HP process in the following situations: (i) high interface potential barrier, (ii) high electric field, and (iii) low temperatures. On the other hand, that is, for a low interface potential barrier, low electric field and high temperatures, the HP process is dominant. With the application of the proposed model, which combines HP and FNT, it was possible to fit the current versus voltage curves for the studied PLED in a wide range of temperatures and electric fields, for direct and reverse bias. Additionally, it was shown that the condition where the HP injection probability is neglected, the non-linearity in FNT plots, ln(J(FNT)/F-2) versus F-1, obtained experimentally by several authors, may be a consequence of the material disorder. When the HP process is associated with the FNT a more significant non-linearity in the FNT plot was verified. (C) 2014 WILEY-VCH Verlag GmbH &Co. KGaA, WeinheimFundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq