Analiza dyfrakcyjna dwuwymiarowych kwazikryształów rozprawa doktorska /

Tyt. z ekranu tytułowego.Praca doktorska. Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica (Kraków), 2007.Zawiera bibliogr.Dostępna także w wersji drukowanej.Tryb dostępu: Internet.Analiza strukturalna kwazikryształów, budowy jednowymiarowych kwazikryształów, ciąg Fibonacciego, dwuwymiarowa reprezentacja ciągu, metoda cut-and-project, generacja ciągu, powierzchnia atomowa, klastry, powierzchnia atomowa dla klastra, przestrzeń odwrotna, widmo dyfrakcyjne, analiza statystyczna budowy jednowymiarowych kwazikryształów, funkcja rozkładu statystycznego, zastosowanie metody statystycznej do obliczenia czynnika strukturalnego dla jednowymiarowych kwazikryształów, równoważność metody statystycznej, czynnik strukturalny dowolnie dekorowanego ciągu, analiza przykładowej dekoracji, budowy kwazikryształów o symetrii dekagonalnej, zbiór Penrose’a, pięciowymiarowa reprezentacja zbioru, przestrzeń prosta, powierzchnia atomowa, rozkład prawdopodobieństwa dowolnego układu punktów należących do zbioru Penrose’a, przekrywanie rozkładów prawdopodobieństwa, reguły przylegania rombów, przestrzeń odwrotna, zastosowanie metody statystycznej do opisu zbioru, baza wektora falowego w przestrzeni rzeczywistej, średnia komórka, czynnik strukturalny dla układu, połączenie metod statystycznej i cut and project, dla dowolnie dekorowanego zbioru, klastry, charakterystyka geometryczna klastrów, model klastrowy, analityczne metody badania struktury ciał stałych, funkcja, widmo Pattersona dla monoatomowych monokryształów 1D, analiza funkcji Pattersona dla ciągu Fibonacciego, widmo Pattersona obliczane jako splot gęstości elektronowej r(x), splot rozkładów prawdopodobieństwa P(u), rozkładu prawdopodobieństwa P(u, v), low-density elimination method, zastosowanie metod optymalizacyjnych do udokładniania struktury kwazikryształów, wstęp do wybranych metod optymalizacyjnych, określanie minimum funkcji jednowymiarowej metodą podziałów, oznaczanie minimum, ustalanie kierunku poszukiwania minimum, analiza własności czynnika strukturalnego, funkcji błędu, szerokość minimum globalnego, szybkość zbieżności procedury optymalizacji, zależność błędu dopasowania wartości parametrów od błędu dopasowania widma dyfrakcyjnego, wartości parametrów od błędu dopasowania widma dyfrakcyjnego, wpływ błędnego ustalenia wartości jednej grupy parametrów na dopasowaną wartość pozostałych parametrów, wrażliwość funkcji błędu na typ dekorującego atomu, minimalna możliwa wartość błędu dopasowania, optymalizacja procesu minimalizacji błędu, analiza funkcji błędu, budowa atomowa stopu Al72Ni20Co8, przegląd literatury poświęconej badaniu struktury Al72Ni20Co8, analiza strukturalna związku Al72Ni20Co8 z wykorzystaniem modelu statystyczneg