42 research outputs found

    Optoelectronic parallel-matching architecture : architecture description, performance estimation, and prototype demonstration

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    This paper was published in Optics Express and is made available as an electronic reprint with the permission of OSA. The paper can be found at the following URL on the OSA website: http://dx.doi.org/10.1364/AO.40.000283 Systematic or multiple reproduction or distribution to multiple locations via electronic or other means is prohibited and is subject to penalties under law

    A 100 MHz synchronized OEIC photoreceiver in n-well, CMOS technology

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    Gas Source Molecular Beam Epitaxy of Compound Semiconductors

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    Contains an introduction and reports on seven research projects.Defense Advanced Research Projects Agency Subcontract 284-25041Joint Services Electronics Program Contract DAAL04-95-1-0038National Center for Integrated Photonic Technology Contract 542-381U.S. Army Research Office/ AASERT Contract DAAH04-93-G-0175National Science Foundation Grant DMR 92-02957Joint Services Electronics Program Grant DAAL04-95-1-0038National Science Foundation Grant DMR 90-22933National Science Foundation Grant DMR 92-02957National Center for Integrated Photonic Technology Contract 542-381MIT Lincoln LaboratoryNational Center for Integrated Photonic Technology Subcontract 542-383National Science Foundation DMR 94-0033

    Gas Source Molecular Beam Epitaxy of Compound Semiconductors

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    Contains an introduction and reports on six research projects.Advanced Research Projects Agency Subcontract 284-25041Joint Services Electronics Program Contract DAAL03-92-C-0001National Center for Integrated Photonic Technology Contract 542-381National Science Foundation Grant DMR 92-02957National Science Foundation Contract DMR 92-02957National Science Foundation Grant DMR 90-2293

    Algorithmen, Architekturen und Technologie der optoelektronischen Rechentechnik

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    Der Einsatz optischer Verbindungen in der Rechentechnik verspricht viele der heute bei der Kommunikation zwischen Leiterplatten und zwischen integrierten Schaltkreisen auftretende Engpässe zu lösen. Optische Verbindungen moderaler Parallelität (10-20 Kanäle) zwischen Baugruppen sind, wie die Ergebnisse dieser Arbeit zeigen, mittlerweile technisch machbar. Die effiziente Nutzung optischer Verbindungen im Bereich chip-to-chip zum Aufbau eines 3-dimensionalen optoelektronischen VLSI (3-D O E-VLSI) erfordert dagegen wesentlich stärkere Eingriffe in die Architektur derzeitiger VLSI-Systeme. Aufgabe der Informatik ist einerseits die Entwicklung geeigneter Architekturen und zugehöriger Algorithmen und andererseits der Nachweis der hardwaretechnischen Machbarkeit der entwickelten Architekturkonzepte. In der Arbeit werden eine Reihe von Architekturvorschlägen unterbreitet, die weitgehend bis auf die Hardwareebene spezifiziert sind und teilweise in ersten Demonstrator- und Testschaltkreisen realisiert wurden. Dies betrifft ein superskalares aus Superpipelinestufen aufgebautes optoelektronisches 3-D Rechenwerk für Ganzzahlarithmetik, einen binären neuronalen Assoziativspeicher, figurierbare Hardwarestrukturen, eine 3-D Architektur für alle Prozessoren, systolische Addierer und ein Architekturkonzept für einen digitalen optoelektronischen Bildverarbeitungsprozessor. Durch theoretische Vergleiche wird der Nachweis erbracht, daß für die genannten Architekturen durch den Einsatz eines hochdichten optischen Verbindungssystems Steigerungen der Durchsatzrate von 1-3 Größenordnungen gegenüber rein-elektronischen Systemen möglich sind. Für den Assoziativspeicher, die rekonfigurierbare Hardware und das 3-D Rechenwerk für Ganzzahlarithmetik wurden erste einfache OE-VLSI-Schaltkreise auf der Basis optischer Modulatoren und PN-Detektoren realisiert. Da der Entwurf solcher Systeme neue rechnergestützte Entwurfssysteme erfordert, werden ferner die im Rahmen der Arbeit durchgeführten Entwicklungen für ein Simulations- und Synthesewerkzeug für 3-D OE-VLSI-Systeme dargestellt

    Wafer bonding of processed Si CMOS VLSI and GaAs for mixed technology integration

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    Thesis (S.M.)--Massachusetts Institute of Technology, Dept. of Electrical Engineering and Computer Science, Februaru 2002.Includes bibliographical references (p. 91-94).The successful bonding of bare thinned Si SOI wafers to bare GaAs wafers in previous research has proven to be an important first step in achieving integration of Si electronics with GaAs optoelectronic devices. The thinning of the SOI wafer has been shown to be a successful solution to the problem of the thermal expansion coefficient mismatch between Si and GaAs, allowing for the potential dense integration of mixed optoelectronic and electronic technologies. This research takes the next logical step toward that end by bonding Si wafers with simulated full back-end processing to GaAs wafers. The back-end processing simulation consists of depositing 1000[Angstroms] of Al, patterning the Al into 5[mu]m serpentine lines on a 5[mu]m pitch, covering the Al with a PECVD oxide, and performing CMP planarization of the oxide. The 1000[Angstroms] variations caused by the Al layer are consistent with surface profiles taken from fully processed SOI wafers obtained from IBM. The result is that these "simulation" wafers model the difficulties presented with bonding fully processed wafers; namely the temperature constraints caused by the existence of buried Al metal and the topography created by the patterned metal. The entire process, including the bonding and post-bond anneal, is carried out at temperatures below 45° C, making it compatible with a fully processed SOI CMOS wafer. The use of dielectric CMP has become a common back-end processing step. The wafer bonding in this work relies on CMP technology to planarize PECVD oxide deposited on the bonding surface of both wafers. The combination of CMP with post CMP cleaning methods results in a PECVD oxide surface with an order of magnitude reduction in the r.m.s. roughness, rendering the surface smooth enough to facilitate wafer bonding. The future goal of this project is to bond fully processed Si CMOS wafers to GaAs wafers containing optoelectronic devices and to test the feasibility of creating interconnects through the bond interface.by Edward Robert Barkley.S.M
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