Dynamiczny rozwój mikroelektroniki oraz jej miniaturyzacja doprowadziły
do konieczności monitorowania temperatury w obecnie projektowanych
układach scalonych. W tym celu stosuje się różnego rodzaju konstrukcje
czujników temperatury. Ze względu na wykonywanie większości układów
scalonych w technologiach CMOS konieczne jest umieszczanie wewnątrz
układów czujników temperatury zaprojektowanych również w tej technologii.
Autor niniejszego rozdziału opisuje czujniki temperatury typu PTAT
zaprojektowane w dwóch różnych technologiach CMOS. Pierwsza ma
rozmiar charakterystyczny równy 3 μm natomiast druga 0,35 μm. Oprócz
kompletnego projektu od schematu do topografii masek układu scalonego
przedstawionych czujników autor przedstawił również propozycję układu
ostrzegającego przed przegrzaniem monitorowanej struktury. Autor zdecydował
się na zaprojektowanie czujników typu PTAT, gdyż mają one sygnał
wyjściowy liniowo zależny od temperatury. Choć są one nieco większe niż
czujniki oparte na złączach PN, sygnały liniowe jest łatwiej odczytywać
i kalibrować niż czujniki o nieliniowej odpowiedzi na wzrost temperatury
Is data on this page outdated, violates copyrights or anything else? Report the problem now and we will take corresponding actions after reviewing your request.