Estudio mediante microscopia de fuerza atómica conductivo de capas delgadas de GaSb dopado con vanadio

Estudia la distribución no homogénea de dopante formando microprecipitados en la muestra, así como también se investigó las propiedades electrónicas en regiones libres y en esta distribución no homogénea de dopante, utilizando para ello el Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) en modo conductivo. Uno de los objetivos fundamentales de este trabajo es determinar los microprecipitados a partir de sus propiedades electrónicas, para ello se obtiene, en primer término, las curvas corrientes vs voltaje (I vs V), a partir de las cuales se determina el comportamiento electrónico tanto de los microprecipitados como de la matriz. Con los resultados obtenidos, se determina a través de la imagen de corriente, si los cambios que se observan en determinadas regiones son debidos a la distribución homogénea de dopante o a microprecipitados.Tesi

Evaluación del estrés térmico durante el verano 2015 en los ambientes de una fábrica de chocolates en la ciudad de Lima

El presente trabajo de investigación tuvo como objetivo evaluar el riesgo de estrés térmico en trabajadores de una planta de fabricación de chocolate ubicada en la ciudad de Lima durante la época de verano, usando el método denominado Índice WBGT de acuerdo a la norma NTP RM 375 -2008 y la guía 2 del DS 055-1010 evaluándose paralelamente el gasto metabólico de cada trabajador. La evaluación fue efectuada en 2 etapas del proceso de fabricación en caliente denominados Tostado - Secado y Confitado Caliente. El equipamiento usado consto de un equipo de medición de estrés térmico marca EXTECH. Los resultados de las mediciones nos indican que los valores de WBGT en las dos etapas del proceso están por encima a los establecidos por la norma, tanto para los valores de acción como para los límites máximos permisible