Micromagnetic Simulation of Magnetization Reversal Processes in Thin Obliquely Deposited Films

Текст статьи не публикуется в открытом доступе в соответствии с политикой журнала.The magnetization reversal processes in thin obliquely deposited films were studied by means of micro- magnetic modeling. Thin film structures for micromagnetic study were generated by Monte Carlo film growth simulator. Using obtained hysteresis loops for the generated films, we retrieved coercivity and remanent magnetization as a function of the deposition angle alpha. The results showed that for films with alpha<65 degr. the magnetization reversal occurred via coherent rotation of magnetic moments, whereas samples generated with larger deposition angles reverse their magnetization by the formation of complex quasi- domain magnetic structures

Numerical Simulation of Magnetic Microstructure in Nanocrystalline Thin Films with the Random Anisotropy

The magnetic structure of thin nanocrystalline films with a random distribution of magnetization easy axes was studied by means of micromagnetic modeling. The dependences of the correlation function parameters of the non-uniform magnetization on the value of the external in-plane magnetic field were investigated in the wide range (6–1000 nm) of particles sizes. An analysis of the obtained dependences revealed a significant difference between longitudinal (along the field) and transversal (perpendicular to the field) correlation radii of a stochastic magnetic structure. The blocking effect of a fine magnetic structure—a magnetization ripple—was observed during magnetization reversal of the films

Micromagnetic Simulation of Magnetization Reversal Processes in Thin Obliquely Deposited Films

Текст статьи не публикуется в открытом доступе в соответствии с политикой журнала.The magnetization reversal processes in thin obliquely deposited films were studied by means of micro- magnetic modeling. Thin film structures for micromagnetic study were generated by Monte Carlo film growth simulator. Using obtained hysteresis loops for the generated films, we retrieved coercivity and remanent magnetization as a function of the deposition angle alpha. The results showed that for films with alpha<65 degr. the magnetization reversal occurred via coherent rotation of magnetic moments, whereas samples generated with larger deposition angles reverse their magnetization by the formation of complex quasi- domain magnetic structures

Numerical Simulation of Magnetic Microstructure in Nanocrystalline Thin Films with the Random Anisotropy

The magnetic structure of thin nanocrystalline films with a random distribution of magnetization easy axes was studied by means of micromagnetic modeling. The dependences of the correlation function parameters of the non-uniform magnetization on the value of the external in-plane magnetic field were investigated in the wide range (6–1000 nm) of particles sizes. An analysis of the obtained dependences revealed a significant difference between longitudinal (along the field) and transversal (perpendicular to the field) correlation radii of a stochastic magnetic structure. The blocking effect of a fine magnetic structure—a magnetization ripple—was observed during magnetization reversal of the films

Микромагнитное моделирование процессов перемагничивания в тонких наклонноосажденных пленках

The magnetization reversal processes in thin obliquely deposited films were studied by means of micro- magnetic modeling. Thin film structures for micromagnetic study were generated by Monte Carlo film growth simulator. Using obtained hysteresis loops for the generated films, we retrieved coercivity and remanent magnetization as a function of the deposition angle . The results showed that for films with < 65 ◦ the magnetization reversal occurred via coherent rotation of magnetic moments, whereas samples generated with larger deposition angles reverse their magnetization by the formation of complex quasi- domain magnetic structures. The numerical results are in a good accordance with the previously reported experimental measurementsМетодом микромагнитного моделирования исследованы процессы перемагничивания в тонких наклонно-осажденных пленках. Тонкопленочные структуры для микромагнитного анализа бы- ли получены с помощью программы моделирования роста пленок, основанной на методе Монте- Карло. Из петель гистерезиса, полученных для сгенерированных пленок, были определены зависи- мости коэрцитивной силы и остаточной намагниченности от угла осаждения . Результаты исследований показали, что для пленок с < 65 ◦ перемагничивание осуществляется посредством когерентного вращения магнитных моментов, тогда как для образцов полученных при больших углах осаждения перемагничивание осуществляется через формирование сложных квазидомен- ных магнитных структур. Результаты моделирования хорошо согласуются с ранее опублико- ванными данными экспериментальных измерени

Микромагнитное моделирование процессов перемагничивания в тонких наклонноосажденных пленках

The magnetization reversal processes in thin obliquely deposited films were studied by means of micro- magnetic modeling. Thin film structures for micromagnetic study were generated by Monte Carlo film growth simulator. Using obtained hysteresis loops for the generated films, we retrieved coercivity and remanent magnetization as a function of the deposition angle . The results showed that for films with < 65 ◦ the magnetization reversal occurred via coherent rotation of magnetic moments, whereas samples generated with larger deposition angles reverse their magnetization by the formation of complex quasi- domain magnetic structures. The numerical results are in a good accordance with the previously reported experimental measurementsМетодом микромагнитного моделирования исследованы процессы перемагничивания в тонких наклонно-осажденных пленках. Тонкопленочные структуры для микромагнитного анализа бы- ли получены с помощью программы моделирования роста пленок, основанной на методе Монте- Карло. Из петель гистерезиса, полученных для сгенерированных пленок, были определены зависи- мости коэрцитивной силы и остаточной намагниченности от угла осаждения . Результаты исследований показали, что для пленок с < 65 ◦ перемагничивание осуществляется посредством когерентного вращения магнитных моментов, тогда как для образцов полученных при больших углах осаждения перемагничивание осуществляется через формирование сложных квазидомен- ных магнитных структур. Результаты моделирования хорошо согласуются с ранее опублико- ванными данными экспериментальных измерени

Численное моделирование магнитной микроструктуры нанокристаллических тонких пленок со случайной анизотропией

The magnetic structure of thin nanocrystalline films with a random distribution of magnetization easy axes was studied by means of micromagnetic modeling. The dependences of the correlation function parameters of the non-uniform magnetization on the value of the external in-plane magnetic field were investigated in the wide range (6–1000 nm) of particles sizes. An analysis of the obtained dependences revealed a significant difference between longitudinal (along the field) and transversal (perpendicular to the field) correlation radii of a stochastic magnetic structure. The blocking effect of a fine magnetic structure—a magnetization ripple—was observed during magnetization reversal of the filmsМетодом микромагнитного моделирования проведены исследования магнитной структуры тон- ких нанокристаллических пленок со случайным распределением осей легкого намагничивания. В широком диапазоне размеров частиц 6–1000 нм исследованы зависимости параметров корреля- ционной функции неоднородной намагниченности от величины внешнего планарного магнитного поля. Анализ полученных зависимостей показал существенное различие корреляционных радиу- сов стохастической магнитной структуры вдоль и поперек направления приложенного поля. При перемагничивании тонких пленок наблюдался эффект блокировки тонкой магнитной структуры «ряби намагниченности

Численное моделирование магнитной микроструктуры нанокристаллических тонких пленок со случайной анизотропией

The magnetic structure of thin nanocrystalline films with a random distribution of magnetization easy axes was studied by means of micromagnetic modeling. The dependences of the correlation function parameters of the non-uniform magnetization on the value of the external in-plane magnetic field were investigated in the wide range (6–1000 nm) of particles sizes. An analysis of the obtained dependences revealed a significant difference between longitudinal (along the field) and transversal (perpendicular to the field) correlation radii of a stochastic magnetic structure. The blocking effect of a fine magnetic structure—a magnetization ripple—was observed during magnetization reversal of the filmsМетодом микромагнитного моделирования проведены исследования магнитной структуры тон- ких нанокристаллических пленок со случайным распределением осей легкого намагничивания. В широком диапазоне размеров частиц 6–1000 нм исследованы зависимости параметров корреля- ционной функции неоднородной намагниченности от величины внешнего планарного магнитного поля. Анализ полученных зависимостей показал существенное различие корреляционных радиу- сов стохастической магнитной структуры вдоль и поперек направления приложенного поля. При перемагничивании тонких пленок наблюдался эффект блокировки тонкой магнитной структуры «ряби намагниченности