Микромагнитное моделирование процессов перемагничивания в тонких наклонноосажденных пленках

Abstract

The magnetization reversal processes in thin obliquely deposited films were studied by means of micro- magnetic modeling. Thin film structures for micromagnetic study were generated by Monte Carlo film growth simulator. Using obtained hysteresis loops for the generated films, we retrieved coercivity and remanent magnetization as a function of the deposition angle . The results showed that for films with < 65 ◦ the magnetization reversal occurred via coherent rotation of magnetic moments, whereas samples generated with larger deposition angles reverse their magnetization by the formation of complex quasi- domain magnetic structures. The numerical results are in a good accordance with the previously reported experimental measurementsМетодом микромагнитного моделирования исследованы процессы перемагничивания в тонких наклонно-осажденных пленках. Тонкопленочные структуры для микромагнитного анализа бы- ли получены с помощью программы моделирования роста пленок, основанной на методе Монте- Карло. Из петель гистерезиса, полученных для сгенерированных пленок, были определены зависи- мости коэрцитивной силы и остаточной намагниченности от угла осаждения . Результаты исследований показали, что для пленок с < 65 ◦ перемагничивание осуществляется посредством когерентного вращения магнитных моментов, тогда как для образцов полученных при больших углах осаждения перемагничивание осуществляется через формирование сложных квазидомен- ных магнитных структур. Результаты моделирования хорошо согласуются с ранее опублико- ванными данными экспериментальных измерени