High-resolution X-ray diffraction of silicon-on-nothing

High-resolution multi-crystal X-ray diffraction was employed to characterize silicon-on-nothing samples consisting of a one-dimensional periodic array of buried empty channels. p- and n-type silicon starting wafers were used for sample preparation. For the p- type samples, this periodic array gives rise to well defined Fraunhofer diffraction when the channels are normal to the scattering plane. This indicates good lattice quality of the layer containing the channels. Moreover, the lattices of the surface layer and the layer with the channels were almost indistinguishable from that of perfect silicon. Conversely, the n-type samples showed such lattice tilts and out-of-plane mosaic spreads in the surface and buried layers that Fraunhofer diffraction does not occur from the periodic array of the channels. The elucidation of this different behaviour is in progress and will most likely be fruitful after X-ray images of the same samples are taken

Giovani al lavoro Proposte semplici per un problema complesso

«Quando mai nel corso della storia si è assistito al fenomeno di vecchi sempre più impegnati nel lavoro e giovani disoccupati?» Tutto ciò è un controsenso. Reagire alla crisi e creare occupazione non è un’utopia ma rischia di diventare un ritornello vuoto di contenuti: gli autori, al contrario, presentano soluzioni possibili, proposte credibili e ragionevolmente realizzabili, a costo zero per lo Stato, a favore dell’occupazione giovanile. A patto che i giovani siano i primi a volersi mettere in gioco e a impegnarsi in prima persona per mettere a frutto le proprie capacità, con la consapevolezza che spirito d’iniziativa e atteggiamento proattivo sono le condizioni indispensabili affinché si aprano orizzonti di possibilità concrete. Certamente il problema della disoccupazione esiste e non va sottovalutato..