Alquimia, Ocultismo, Maçonaria: o ouro e o simbolismo hermético dos cadinhos (Séculos XVIII e XIX)

Este artigo apresenta a arqueologia das enigmáticas marcas impressas na base de cadinhos dos séculos XVIII e XIX recuperados nas escavações da Casa da Moeda do Rio de Janeiro, na década de 1980, e a explanação do seu significado simbólico à luz da alquimia, do ocultismo e da Maçonaria. Espraiando-se extraordinariamente mundo afora através de uma bem-sucedida estratégia de comunicação visual, a Maçonaria utilizou símbolos herméticos para a difusão de seus princípios nos mais diferentes suportes. Aparentemente estamos diante de um sinal de reconhecimento maçônico, o sinal exterior de uma organização oculta, só partilhado por iniciados e incompreensível para os demais, que contribuiu para difundir veladamente a doutrina maçônica por diferentes pontos do globo

Possiblités de mesure quantitative avec un appareillage de réflectométrie X utilisant le mode angulaire dispersif

A normalization procedure for reflectivity curves obtained with a new apparatus using the angle-resolved dispersive mode (J. Appl. Cryst., 1989) is described here. Simulation of spectra with the optical theory of X-rays is then possible. It allows to determine with a good accuracy the density, thickness and interfacial rugosities of layers when their thicknesses are less than about 200 nm. In order to check the normalization procedure a bulk silicon sample and a layer of evaporated nickel are analysed.Dans cet article nous présentons une procédure pour la normalisation des courbes de réflectivité obtenues par un nouvel appareillage de réflectométrie X utilisant le mode angulaire dispersif (J. Appl. Cryst., 1989). La simulation de ces courbes, dans le cadre de la théorie optique, devient alors possible. Pour les dépôts d'épaisseur inférieure à environ 200 nm, elle permet de déterminer précisément l'épaisseur, les rugosités interfaciales et la compacité. Afin de vérifier la validité de notre procédure de normalisation, nous analysons à titre d'exemples le cas d'un échantillon massif de silicium, et celui d'une couche mince de nickel évaporée sur un support en silicium

Diffusion centrale des rayons X sous incidence rasante. Etude de la morphologie d'agrégats

La diffusion centrale des rayons X en incidence rasante est une technique assez récente qui résulte en fait de la combinaison de deux techniques utilisant les rayons X: la réflectométrie et la diffusion centrale. Elle permet de caractériser, et donc d'obtenir des informations assez précises, sur la morphologie d'agrégats déposés ou recueillis sur des surfaces planes (verre ou monocristal de Si par exemple). Cette technique non destmctive permet des mesures précises quand elle est conduite auprès d'une source de rayonnement synchrotron. A l'aide d'Images Plates, il est alors possible d'étudier l'anisotropie des agrégats et d'en déduire leurs dimensions latérale et verticale. Nous donnerons d'abord des exemples pour des agrégats d'or déposées sur un substrat de silicium préalablement recouvert d'une sous-couche de 200 Å de carbone amorphe pour faire la comparaison avec la microscopie électronique, puis nous montrerons les potentialités de cette nouvelle technique pour d'autres dépôts.It is shown that grazing-incidence small-angle X-ray scattering (GISAXS) is a new experimental technique which combines both x-ray reflectometry and scattering at low angles. It allows characterization of the morphology of aggregates deposited or gathered on flat substrate as for example silicon wafer or Coming glass. Full potentialities of this technique are obtained when using a synchrotron source (flux and collimation) and when patterns are recorded with Image Plates (IPs). It is then possible to study the anisotropic shape of the scattering pattern and to determine the dimensions of the aggregates. Results will be shown on gold clusters deposited on a silicon wafer covered by a carbon sublayer in order to made the comparison with electron microscopy. Other examples will also be shown in order to highlight the advantages of such a technique

Description d'un appareil de diffusion centrale des rayons X utilisable à basse température

An apparatus for measuring small angle X-ray scattering using monochromatic radiation using a precise goniometer and a proportional counter is described. Scattering given by low temperature ageing of metallic samples can be measured on an absolute scale. The originalities of this apparatus are the facility for mechanical regulation and the system of sample-cooling by vacuum conduction. Circulation of methanol controlled by a four way gate connected on two cryostats permits the ageing without removing the sample.Nous décrivons un montage, pour l'étude de la diffusion centrale des rayons X en rayonnement monochromatique, utilisant un goniomètre de précision et un compteur proportionnel. On peut mesurer sur une échelle absolue la diffusion donnée par des échantillons métalliques vieillis à basses températures. L'originalité de ce dispositif est la facilité de ses réglages mécaniques et le système de refroidissement des échantillons par conduction sous vide : une circulation de méthanol commandée par une vanne à quatre voies, raccordée à deux cryostats, permet de faire les vieillissements sans toucher à l'échantillon

ETUDE PAR DIFFUSION DES RAYONS X DES FLUCTUATIONS CORRELEES DANS LES VERRES METALLIQUES

Cette étude est effectuée par diffusion des rayons X dans un large domaine angulaire allant de la diffusion centrale au premier anneau de diffraction. On compare ici des alliages amorphes Cu-Ti élaborés soit par trempe du Liquide soit par pulvérisation cathodique, et l'on montre que pour la dernière méthode de préparation il se crée des fluctuations spatialement corrélées dans l'alliage avant sa cristallisation. Nos résultats montrent aussi que le pré-pic observé avec les rayons X doit être attribué à l'effet de taille.An X-ray scattering study is carried out with a specific camera which records the intensities from the small-angle region to the first diffraction halo of an amorphous material. Cu-Ti metallic glasses prepared either by sputtering or by liquid-quenching are compared. In the former case, space correlated fluctuations take place in the amorphous alloy before crystallization. Our results also show that the pre-peak which is revealed by X-rays must be attributed to the size effect