Caractérisation par microsonde électronique de couches minces de Cd 1-xZnxS pour cellules solaires

Des couches de Cd1-xZnxS, obtenues par une méthode d'évaporation classique à partir d'une solution solide de quelques micromètres d'épaisseur, ont été analysées grâce à une microsonde électronique de Castaing. Dans l'épaisseur des couches correspondant à x = 0,09 et 0,10, un gradient important de l'élément Zn a pu être mis en évidence et caractérisé quantitativement parallèlement aux éléments Cd et S. Les mesures effectuées sur la tranche à partir des profils d'émission X et sur la surface pour différentes énergies du faisceau incident ont été comparées et ont permis en particulier de mettre en évidence la variation des gradients lors d'un recuit thermique

Caractérisation par microsonde électronique de couches minces de Cd 1-xZnxS pour cellules solaires

Cd1-xZnxS layers obtained by an evaporation of solid solution powders, a few microns thick have been analyzed by a Castaing microprobe. The particularity of these layers ( x = 0.09 and 0.10) which corresponds to an important Zn gradient in thickness has been characterized by X-Ray profiles. Quantitative measurements on profiles and on layers surface using different excitation energies permit to have a good idea of the concentration gradient and its variation as a function of thermal treatments.Des couches de Cd1-xZnxS, obtenues par une méthode d'évaporation classique à partir d'une solution solide de quelques micromètres d'épaisseur, ont été analysées grâce à une microsonde électronique de Castaing. Dans l'épaisseur des couches correspondant à x = 0,09 et 0,10, un gradient important de l'élément Zn a pu être mis en évidence et caractérisé quantitativement parallèlement aux éléments Cd et S. Les mesures effectuées sur la tranche à partir des profils d'émission X et sur la surface pour différentes énergies du faisceau incident ont été comparées et ont permis en particulier de mettre en évidence la variation des gradients lors d'un recuit thermique