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ARCHIVIAZIONE DIGITALE DEL SEGNALE VIDEO DELLE TELECAMERE DI SORVEGLIANZA VISIVA
Dal 1993 lâattuale Sezione di Catania dellâIstituto Nazionale di Geofisica e Vulcanologia (I.N.G.V.)
esegue il monitoraggio video dei vulcani attivi della Sicilia orientale (Etna, Stromboli, Vulcano).
Fino ad oggi lâarchiviazione dei segnali acquisiti era stata effettuata con apparati di
videoregistrazione su supporti analogici (cassette VHS), utilizzando la tecnica time lapse.
Lâutilizzo di nastri magnetici porta con se una serie di problemi intrinseci alla natura del supporto:
facile deterioramento, disponibilitĂ di un unico originale, necessitĂ di attrezzature dedicate alla
riproduzione, interruzione della registrazione per sostituzione di nastri.
Si è quindi pensato di realizzare unâarchitettura hardware/software per lâacquisizione e
lâarchiviazione digitale dei segnali video ricevuti dalle telecamere, e la distribuzione delle immagini
in diretta su streaming video.
Il sistema è in grado di fornire contemporaneamente tre servizi:
⢠streaming video in tempo reale.
⢠archivio immagini fisse acquisite ad intervalli regolari, con un minuto di ritardo sulla diretta.
⢠archivio filmati digitali in time lapse, disponibili con trenta minuti di ritardo sulla diretta.
Questa nuova soluzione permette ai vulcanologi in servizio di sorveglianza di esaminare lâattivitĂ
occorsa utilizzando un qualunque visualizzatore di immagini e filmati video digitali (per le
immagini in archivio) e/o client di streaming video (per le immagini in diretta) installati sul proprio
personal computer, senza interferire con lâacquisizione
Electron backscattering from stacking faults in SiC by means of \textit{ab initio} quantum transport calculations
We study coherent backscattering phenomena from single and multiple stacking
faults (SFs) in 3C- and 4H-SiC within density functional theory quantum
transport calculations. We show that SFs give rise to highly dispersive bands
within both the valance and conduction bands that can be distinguished for
their enhanced density of states at particular wave number subspaces. The
consequent localized perturbation potential significantly scatters the
propagating electron waves and strongly increases the resistance for -doped
systems. We argue that resonant scattering from SFs should be one of the
principal degrading mechanisms for device operation in silicon carbide.Comment: 5 pages, 4 figure
Structural and electronic characterization of (2,3(3)) bar-shaped stacking fault in 4H-SiC epitaxial layers
Crystallographic, electronic, and energetic analyses of the (2, 3_3) [or (2, 3, 3, 3) in the standard Zhadanov notation] bar-shaped stacking fault, observed in as-grown 4H-SiC epitaxial layers, are presented. The defect has been identified by means of spatially resolved microphotoluminescence (Îź-PL) measurements at different emission wavelengths, focusing on the emission peak at 0.3 eV below the conduction band. Low temperature Îź-PL measurements have also been performed. The defect has been identified and characterized using high resolution transmission electron microscopy. Experimental results are correlated and validated by the calculations of the KohnâSham electronic band structure and the defect formation energy
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