MEASUREMENT OF PRlMARY ELECTRON INTERACTION COEFFICIENTS (500 TO 1500 eV REGION)

Etant donné que les électrons d'énergie incidente comprise entre 500 et 1 500 eV n'ont d'interaction appréciable qu'avec peu de couches atomiques dans les solides, des mesures précises et l'application de leurs coefficients d'interaction sont difficiles. La statistique des interactions et la sensibilité à la disposition géométrique de la cible nécessitent une attention particulière. Nous présentons ici une méthode pour l'étude de telles interactions, basée sur la déposition contrôlée d'une couche monoatomique de cations métalliques bivalents comme cible, sur un support formé d'une double couche de stéarate du type de Langmuir-Blodgett. Pour vérifier la méthode, nous avons mesuré les sections efficaces des cations de barium à 466 eV, 706 eV et 1 349 eV, et celles du zinc et du plomb à 706 eV. Les valeurs mesurées sont en accord avec des mesures récentes de faisceau atomique sur le barium et avec un modèle théorique simple. Nous considérons que des mesures de ce type sont d'une grande importance dans le développement de l'analyse chimique quantitative de surface par spectroscopie d'électrons et de rayons X de basse énergie.Because electrons of incident energy in the 500-1 500 eV range interact appreciably within only a few atomic layers in solids, precisely measuring and applying their interaction coefficients becomes difficult. The statistics of the interactions and the sensitivity to the geometric arrangement of the target atoms require special attention. A method for the study of such interactions is presented here that is based upon the controlled deposition of monatomic layers of bivalent metal cations as targets within the framework of stearate double layers of the Langmuir-Blodgett type. To demonstrate the method, cross sections of the barium cation have been measured at 466 eV, 706 eV and 1 349 eV, and those of zinc and lead at 706 eV. The measured values are shown to be consistent with recent atomic beam measurements on barium and with simple theoretical models. Measurements of this type are considered to be of great importance in the development of quantitative surface chemical analysis by low energy X-ray and electron spectroscopy

Diffraction of long wavelength x-ray

The theory and application of diffraction by long, x-ray wavelengths are discussed. Four methods obtaining the diffraction pattern are described, namely (1) the double-crystal spectrometer, (2) the annular slit system, (3) the concave mica, point-focusing monochromator, and (4) the total-reflection, point-focusing system. The design and construction of the total-reflection equipment is described in detail. This method is applied to the measurement of the Dow latex particles