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    Caracterização da eletrodeposição de filmes finos de CdTe sobre Pt em meio ácido

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    RESUMO A eletrodeposição tem sido empregada para a obtenção de materiais semicondutores; todavia, ainda não estão bem esclarecidos os mecanismos envolvidos neste processo. Neste sentido, este trabalho apresenta a investigação deste processo, evidenciando a caracterização do CdTe eletrodepositado sobre substrato platina em solução ácida. A deposição ocorre a partir de 0,0 V, em relação ao eletrodo Ag/AgCl,KClsat, com etapas de controle ativado e de difusão. Os filmes finos de CdTe foram eletrodepositados sobre o substrato de platina a temperatura ambiente (~24°C) a partir de uma solução ácida. A influência do potencial aplicado foi investigada utilizando técnicas de caracterização de superfície, como a difração de raios X e Microscopia eletrônica de varredura. A caracterização elétrica foi realizada por medidas de capacitância (Mott-Schottky). Os filmes finos de CdTe apresentaram pico de maior intensidade no plano (220), demostrando ter um crescimento preferencial para esse plano. Os filmes apresentam uma morfologia granular influenciado pelo potencial de deposição e uma condutividade característica de um semicondutor tipo n

    Emerging materials for solar cell applications: electrodeposited CdTe. Final report, February 14, 1979-February 14, 1980

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    Thin film gold/polycrystalline cadmium telluride Schottky solar cells made by electrodepositing the semiconductor on an ITO-coated glass substrate serving also as an ohmic contact demonstrated an internal efficiency of 4% over 2 mm/sup 2/ areas. During the year being reported upon, Monosolar devoted mator attention to refining the electroplating process and determining the parameters governing CdTe film stoichiometry, grain size, substrate adhesion, and quality. UCLA acting as a Monosolar sub-contractor characterized both the CdTe films themselves and solar cells made from them. Techniques were developed for making measurements on films often less than 1 micron in thickness. The highest values achieved for efficiency parameters, not necessarily all in the same cell, were V/sub oc/ = 0.5 V, J/sub sc/ = 11 mA/cm/sup 2/, and fill factor = 0.55 before corrections in the absence of anti-reflection coatings. Typical resistivities for n-CdTe films were 10/sup 5/ ..cap omega..-cm. Lifetimes of about 10/sup -10/ sec were measured. Absorption coefficient of these films is in the order of 10/sup 4/ for lambda < 0.7 ..mu..m. Measured energy gap for these CdTe films is 1.55 eV, sightly higher than the 1.45 eV value for single crystal CdTe. The activation energy of the dominating trap level is 0.55 eV. Trap density is in the order of 10/sup 16//cm/sup 3/. Schottky diodes were of excellent quality and pinhole-free. The measured barrier height varied between 0.75 and 0.85 eV. Rectification ratios of 10/sup 4/ were obtained reproducibly. Films measure about 1 inch square. Indications are that larger and more efficient low cost solar devices can readily be obtained soon using the techniques developed in this program
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