界面态对AlGaAs/GaAs HEMT直流输出特性的影响

利用高电子迁移率晶体管(HEMT)的直流输出分析模型，首次定量地分析了界面态对AlGaAs/GaAs HEMT直流输出特性的影响。考虑界面态的作用，详细分析了不同界面态密度对HEMT的I-V特性和器件跨导的影响。研究结果表明随着界面态密度的增加，栅极电压对电流的控制能力减小，从而使器件的跨导减小

強化地方政府防救災作業能力計畫

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HEMT结构材料中二维电子气的输运性质研究

该文通过变温的Hall测量系统地研究了GaAs基HEMT和PHEMT以及InP基HEMT三种结构材料的电子迁移率μ_n和二维电子浓度n_s。仔细地分析了不同HEMT结构材料的散射机制对电子迁移率的影响以及不同HEMT材料结构对电子浓度的影响。研究结果表明InP基HEMT的n_s×μ_n值比GaAs基HEMT和PHEMT的n_s×μm值都大，说明可以用n_s×μ_0值来判断HEMT结构材料的性能好坏