ОЦЕНКА НАДЕЖНОСТИ И ЭФФЕКТИВНОСТИ ФУНКЦИОНИРОВАНИЯ ЭЛЕКТРОННЫХ СИСТЕМ МЕДИЦИНСКОГО НАЗНАЧЕНИЯ

A new approach to the evaluation of the functioning of the electronic systems for medical purposes is proposed. This approach takes into account the sustainable system failures and possible temporary system device failures due to the impact of their work of natural and industrial influences.Предложен новый подход к оценке эффективности функционирования электронных систем медицинского назначения. Этот подход принимает во внимание как устойчивые отказы системы, так и возможные временные отказы устройств системы из-за влияния на их работу природных и промышленных воздействий

Оптимизация бизнес процессов посредством Big Data

Big data is a collection of huge useful information that cannot be read using standard computing structures. Big data is not just data, it has already become a whole area that includes a set of tools, contexts, and structures. It uses complex data sets to select direction, course, and direct management within organizations. By improving and performing calculations, important structures can be obtained that are necessary for an accurate and deep understanding of the results obtained through the study of the organization's data. In this study, we examined different types of data and their use for e-Commerce, and specific methods for securing and developing data for use in complex organizations. In addition, we looked at big data issues related to the Internet and how to use it in web business. Большие данные – набор огромной полезной информации, которая не может быть прочитана с помощью стандартных вычислительных структур. Большие данные – это не только данные, они уже стали целой областью, которая включает набор инструментов, контекстов и структур. Она использует сложные наборы данных для выбора направления, курса и проведения непосредственного управления внутри организаций. С помощью усовершенствования и выполнения вычислений могут быть получены важные структуры, необходимые для точного и глубокого понимания полученных результатов через исследование данных организации. В этом исследовании мы изучили разные типы данных и их использование для электронной торговли, и особые методы для обеспечения безопасности и развития данных для использования в сложных организациях. Кроме того, мы рассмотрели вопросы больших данных, касающихся интернета, и пути их использования в веб-бизнесе

ЭФФЕКТИВНОСТЬ МОДЕЛЕЙ ДЕГРАДАЦИИ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ ПАРАМЕТРОВ ПРИ ПРОГНОЗИРОВАНИИ ПАРАМЕТРИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ

For semiconductor devices of high power, the authors experimentally obtained of models of functional degradation parameter in the form of the conditional density of its distribution under the assumption of three hypotheses about the distribution law at the points of operating time: normal, two-parameter exponential and Weibull-Gnedenko. Using the average prediction error, the authors compared the effectiveness of degradation models in determining of the parametric reliability of new samples of semiconductor devices of the same type.Для полупроводниковых приборов большой мощности экспериментально получены модели деградации функционального параметра в виде условной плотности его распределения в предположении трех гипотез о законе распределения в точках наработки: нормальный, двухпараметрический экспоненциальный и Вейбулла-Гнеденко. С помощью средней ошибки прогнозирования сделано сравнение эффективности моделей деградации при определении параметрической надежности новых выборок однотипных приборов

ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ТОНКИХ ПЛЕНОК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ТВЕРДЫХ РАСТВОРОВ (CuInSe2)x-(2ZnSe)1-x

Dependences of resistivity and thermal e.m.f. of the Cu(In,Zn)Se2 films on the phase composition and temperature were studied. The temperature dependence of the resistivity in the temperature range of T = 8…420 K were measured. The dependence of films resistivity and their thermal e.m.f. coefficient on the concentration of Zn atoms and the correlation between films thermal e.m.f. coefficient and their resistivity were investigated.Проведено исследование зависимостей удельного сопротивления и термоэдс пленок Cu(In,Zn)Se2 от элементного состава и температуры. Температурные зависимости удельного сопротивления были измерены в температурном интервале Т = 80…420 К. Термоэлектрические свойства пленок исследовались при комнатной температуре с разницей температур между «горячим» и «холодным» концами зондов ∆ Т = 30 К. Исследованы зависимости удельного сопротивления и коэффициентов термоэдс пленок от концентрации атомов Zn и взаимосвязь между коэффициентом термоэдс пленок и их удельным сопротивлением

СТРУКТУРНЫЕ И МОРФОЛОГИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ТОНКИХ ПЛЕНОК Cux Inx Zn2-2x Se2, ПОЛУЧЕННЫХ НА ГИБКИХ ПОДЛОЖКАХ

The substrates of Ti, anodized aluminum, molybdenum, and stainless steel form a thin film Cux Inx Zn2-2 x Se2. The influence of the synthesis conditions and the substrate material on the microstructural properties and morphology of the material is shown.На подложках из Ti, анодированного алюминия, молибдена и нержавеющей стали сформированы тонкие пленки Cux Inx Zn2-2x Se2. Проведено исследование влияния условий синтеза и материала подложки на микроструктурные свойства и морфологию материалов

ОПТИМИЗАЦИЯ ПАРАМЕТРОВ ПОГЛОЩАЮЩЕГО СЛОЯ Сих1пхZп2-2хSе2 ДЛЯ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ СОЛНЕЧНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ

The influence of the physical parameters of CuxInxZn2—2xSe2 films on the characteristics of Mo/CuxInxZn2—2xSe2/CdS/ZnO thin-film solar cells were investigated. The model developed is based on one-dimensional drift-diffusion approach using the Poisson’s equation and continuity equations for electrons and holes. It taking into accounts the buffer layer effect, zone bending and recombination at grain boundaries and other defects.В статье проводится моделирование влияния основных параметров поглощающего слоя Сuх1nхZn2-2хSе2 на ток короткого замыкания, напряжение холостого хода, коэффициент заполнения и КПД тонкопленочных солнечных элементов. На основании данных, полученных моделированием, сделаны выводы об оптимальных значениях параметров слоев Сuх1nхZn2-2хSе2.

ПОЛУЧЕНИЕ И РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ ТВЕРДЫХ РАСТВОРОВ Cu2CdSn(SxSe1–x)4

The quaternary semiconductors Cu2CdSnS4, Cu2CdSnSe4 and Cu2CdSn(SxSe1–x)4 solid solutions were synthesized by the one-temperature method from the elementary components. The X-ray diffraction method showed that the obtained polycrystalline samples are single-phased. The unit cell parameters of the synthesized compounds and Cu2CdSn(SxSe1–x)4 solid solutions were determined from diffraction spectra by the full-profile analysis using the Rietveld method with the Fullprof software package. It has been established that with an increase in sulfur concentration, the unit cell parameters decrease smoothly linearly in accordance with the Vegard rule, which indicates the formation of a continuous series of solid solutions in the Cu2CdSn(SxSe1–x)4 system within the range 0 ≤ x ≤ 1. The parameter of crystal lattice tetragonal distortions h of the investigated compounds is calculated. The h values are close to 1 for all the compositions studied, which indicates a small crystal lattice distortion of the obtained samples.Методом однотемпературного синтеза из элементарных компонентов синтезированы четверные полупроводниковые соединения Cu2CdSnS4, Cu2CdSnSe4 и твердые растворы Cu2CdSn(SxSe1–x)4. Рентгенографическим методом показано, что полученные поликристаллические образцы являются однофазными. Из дифракционных спектров полнопрофильным анализом по методу Ритвельда с использованием программного пакета Fullprof опре- делены параметры элементарной ячейки синтезированных соединений и твердых растворов Cu2CdSn(SxSe1–x)4. Установлено, что с ростом концентрации серы параметры элементарной ячейки плавно уменьшаются по линейному закону в соответствии с правилом Вегарда, что свидетельствует об образовании в системе Cu2CdSn(SxSe1–x)4 непрерывного ряда твердых растворов в области 0 ≤ x ≤ 1. Рассчитан параметр тетрагональных искажений кристаллической решетки исследованных соединений h. Значения h близки к единице для всех изученных составов, что свидетельствует о малых искажениях кристаллической решетки полученных образцов

EVALUATION OF RELIABILITY AND EFFICIENCY OF ELECTRONIC MEDICAL SYSTEMS FUNCTIONING

A new approach to the evaluation of the functioning of the electronic systems for medical purposes is proposed. This approach takes into account the sustainable system failures and possible temporary system device failures due to the impact of their work of natural and industrial influences

Photovoltaic degradation rates: on the way of improvement

Recently renewable energy has been enjoying a rising support from private organizations and individuals due to the gradual decline in its production cost. Usually, the lack of reliable data that supports the long-term viability of a project is the reason why most investors are hesitant to back a renewable energy venture. The ability to accurately predict power delivery over the course of time is of vital importance to the growth of the photovoltaic (PV) industry. Two key cost drivers are the efficiency with which sunlight is converted into power and how this relationship changes over time. Thanks to the latest big data and predictive analysis technology, renewable energy companies can now produce more energy with reduced costs

Software for predicting the reliability of the electronic system by its technical states set analysis method

The method of direct selection of the system technical states is the simplest and most understandable method for predicting the reliability of an electronic system under any connection scheme from the point of view of the reliability of its component parts (devices). If the number of devices entering the system is more than 8 ... 10, algorithms are needed to generate and further process large amounts of data on possible technical conditions of the system. Such algorithms are proposed and used in the developed software tool for assessing (predicting) the reliability of the electronic system. This software tool allows you to build a structural scheme of reliability in an interactive mode on a computer. After entering the data about the system components (devices) reliability the computer calculates the reliability indicator automatically