Localization by disorder in the infrared conductivity of (Y,Pr)Ba2Cu3O7 films

The ab-plane reflectivity of (Y{1-x}Prx)Ba2Cu3O7 thin films was measured in the 30-30000 cm-1 range for samples with x = 0 (Tc = 90 K), x = 0.4 (Tc = 35 K) and x = 0.5 (Tc = 19 K) as a function of temperature in the normal state. The effective charge density obtained from the integrated spectral weight decreases with increasing x. The variation is consistent with the higher dc resistivity for x = 0.4, but is one order of magnitude smaller than what would be expected for x = 0.5. In the latter sample, the conductivity is dominated at all temperatures by a large localization peak. Its magnitude increases as the temperature decreases. We relate this peak to the dc resistivity enhancement. A simple localization-by-disorder model accounts for the optical conductivity of the x = 0.5 sample.Comment: 7 pages with (4) figures include

The pseudogap in high-temperature superconductors: an experimental survey

We present an experimental review of the nature of the pseudogap in the cuprate superconductors. Evidence from various experimental techniques points to a common phenomenology. The pseudogap is seen in all high temperature superconductors and there is general agreement on the temperature and doping range where it exists. It is also becoming clear that the superconducting gap emerges from the normal state pseudogap. The d-wave nature of the order parameter holds for both the superconducting gap and the pseudogap. Although an extensive body of evidence is reviewed, a consensus on the origin of the pseudogap is as lacking as it is for the mechanism underlying high temperature superconductivity.Comment: review article, 54 pages, 50 figure

ОЦІНКА НАДІЙНОСТІ РАДІОЕЛЕКТРОННИХ ЗАСОБІВ ЗІ ЗМІННОЮ СТРУКТУРОЮ

Context. Various radio electronic devices are being continuously developed and refined in order to improve the quality indicators according to the consumers’ requirements for their use in multiple operational modes, each with separate subsets of elements. Given fact is not taken into account when assessing the reliability indicators, which leads to a decrease in their value, and, as a consequence, to an increase in the products cost.Objective. The purpose of the article is to improve the quantification accuracy of reliability values of electronic devices with variable structure by using a new model, which takes into account the operational time of individual subsets of elements of the object in its possible operational modes.Method. The paper analyzes the structures of radio electronic devices and their influence on reliability using methods of set theory, probability theory, discrete search theory and metrology. This allows objective quantification of reliability indicators values depending on the conditions of the product use: operating time for failure, average recovery time and the readiness coefficient.Results. An improved model of reliability of multiple mode objects with variable structure, which takes into account the features of structural design of the product, the features of its intended use (operating time in separate modes), and the influence of the quality of metrological support on the average recovery time has been obtained. This allows increasing the estimation of the real value of the complex indicator of reliability – readiness coefficient, and, as a consequence, reducing the value of the readiness coefficient.Conclusions. The use of the proposed model of quantitative estimation of the reliability indicators’ values of radio electronic devices with variable structure can reduce the cost of products while providing the required values of failure time and the average recovery time by reducing the requirements for the reliability of the base elements. The results obtained should be used in the design of perspective radio electronic devices to justify the choice of element of the minimum cost base while meeting the required requirements for the reliability of the product as a whole. x`xАктуальность. Радиоэлектронные средства различного назначения непрерывно развиваются и совершенствуются в направлении улучшения показателей качества в соответствии с требованиями потребителей по их использованию во многих режимах работы, в каждом из которых работают отдельные подмножества элементов. Это обстоятельство не учитывают при оценке показателей надежности, что ведет к снижению их значения, и, как следствие, к повышению стоимости изделий.Цель. Целью статьи является повышение точности количественной оценки значений показателей надежности радиоэлектронных средств с переменной структурой за счет использования новой модели, которая учитывает время работы отдельных подмножеств элементов объекта в возможных режимах его работы.Метод. В работе выполнен анализ структур радиоэлектронных средств и их влияние на надежность с применением методов теории множеств, теории вероятностей, теории дискретного поиска и метрологии. Это позволяет объективно в зависимости от условий эксплуатации изделия, количественно оценить значения показателей надежности: наработка на отказ, среднее время восстановления и коэффициент готовности.Результаты. Получено усовершенствованную модель надежности многорежимных объектов с переменной структурой, которая учитывает особенности конструктивно-схемного построения изделия, особенности его использования по назначению (время работы в отдельных режимах), влияние качества метрологического обеспечения на среднее время восстановления. Это позволяет увеличить оценку реального значения комплексного показателя надежности – коэффициента готовности, и, как следствие, уменьшить значение коэффициента неготовности.Выводы. Использование предложенной модели количественной оценки значений показателей надежности радиоэлектронных средств с переменной структурой позволяет снизить стоимость изделий при обеспечении требуемых значений наработки на отказ и среднего времени восстановления за счет снижения требований к надежности элементной базы. Полученные результаты целесообразно использовать при проектировании перспективных радиоэлектронных средств для обоснования выбора элементной базы минимальной стоимости при обеспечении заданных требований к надежности изделия в целом.Актуальність. Радіоелектронні засоби різноманітного призначення безперервно розвиваються і удосконалюються в напрямку покращення показників якості відповідно до вимог споживачів щодо їх використання в багатьох режимах роботи, в кожному з яких працюють окремі підмножини елементів. Цю обставину не враховують під час оцінки показників надійності, що веде до зниження їх значення, і, як наслідок, до підвищення вартості виробів. Мета. Метою статті є підвищення точності кількісної оцінки значень показників надійності радіоелектронних засобів зі змінною структурою за рахунок використання нової моделі, яка враховує час роботи окремих підмножин елементів об’єкта в можливих режимах його роботи.Метод. В роботі виконано аналіз структур радіоелектронних засобів та їх вплив на надійність з застосуванням методів теорії множин, теорії ймовірностей, теорії дискретного пошуку та метрології. Це дозволяє об’єктивно, в залежності від умов експлуатації виробу, кількісно оцінити значення показників надійності: наробіток на відмову, середній час відновлення і коефіцієнт готовності.Результати. Отримано удосконалену модель надійності багато режимних об’єктів зі змінною структурою, яка враховує особливості конструктивно-схемної побудови виробу, особливості його використання за призначенням (час роботи в окремих режимах), вплив якості метрологічного забезпечення на середній час відновлення. Це дозволяє збільшити оцінку реального значення комплексного показника надійності – коефіцієнта готовності, і, як наслідок, зменшити значення коефіцієнту не готовності. Висновки. Використання запропонованої моделі кількісної оцінки значень показників надійності радіоелектронних засобів зі змінною структурою дозволяє знизити вартість виробів при забезпеченні необхідних значень наробітку на відмову і середнього часу відновлення за рахунок зниження вимог до надійності елементів бази. Отримані результати доцільно використовувати під час проектування перспективних радіоелектронних засобів для обґрунтування вибору елементої бази мінімальної вартості при забезпеченні заданих вимог до надійності виробу в цілому