Verification of micro-scale photogrammetry for smooth three-dimensional object measurement

By using sub-millimetre laser speckle pattern projection we show that photogrammetry systems are able to measure smooth three-dimensional objects with surface height deviations less than 1 μm. The projection of laser speckle patterns allows correspondences on the surface of smooth spheres to be found, and as a result, verification artefacts with low surface height deviations were measured. A combination of VDI/VDE and ISO standards were also utilised to provide a complete verification method, and determine the quality parameters for the system under test. Using the proposed method applied to a photogrammetry system, a 5 mm radius sphere was measured with an expanded uncertainty of 8.5 μm for sizing errors, and 16.6 μm for form errors with a 95 % confidence interval. Sphere spacing lengths between 6 mm and 10 mm were also measured by the photogrammetry system, and were found to have expanded uncertainties of around 20 μm with a 95 % confidence interval

Workshop: Zeitreihenanalyse Vortraege und Diskussion

Available from TIB Hannover: F99B1351+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekSIGLEBundesministerium fuer Bildung und Forschung (BMBF), Bonn (Germany)DEGerman

Statusseminar: Oberflaechen- und Schichttechnologien. Bd. 1 Vortraege und Berichte

SIGLEAvailable from TIB Hannover: F99B1380+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekBundesministerium fuer Bildung und Forschung (BMBF), Bonn (Germany)DEGerman

Statuseminar: Oberflaechen- und Schichttechnologien. Bd. 2 Vortraege und Berichte

Available from TIB Hannover: F99B1381+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekSIGLEBundesministerium fuer Bildung und Forschung (BMBF), Bonn (Germany)DEGerman

3D-Objektvermessung auf kleinere Entfernungen Broschuere zur Abschlusspraesentation

Available from TIB Hannover: F97B1051+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekSIGLEBundesministerium fuer Bildung, Wissenschaft, Forschung und Technologie, Bonn (Germany)DEGerman

Neue Technologien sichern unsere Zukunft Entwicklungen auf dem Gebiet von Mikroelektronik und Physikalischen Technologien

TIB: AC 8337 / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekSIGLEDEGerman

Herstellen von Zahnraedern und verzahnten Werkstuecken

TIB: RO 3471 (1986)+a / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekSIGLEDEGerman

Technische Kommunikation in der Automatisierungstechnik Vortraege zum Workshop

TIB: RO 2310 (8) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekSIGLEDEGerman

Signalverarbeitung in Multi-Sensor-Systemen Vortraege zum Aussprachetag

SIGLETIB: RO 2310 (9) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekDEGerman

Verfahren und Systeme zur technischen Fehlerdiagnose

TIB: RO 2310 (1) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische InformationsbibliothekSIGLEDEGerman