Differential injection analysis based on backside-contacted ISFETs

Trabajo presentado en el 13th International Conference on Microelectronics, celebrado en Rabat (Marruecos), del 29 al 31 de octubre de 2001In this paper a differential injection analysis (DIA) based on ISFETs is presented. The method consist in doing differential measurements in two parallel micro-cells with identical ISFET sensors connected in the output port. Sample is injected in the first cell as in conventional FIA systems, while in the second cell it is injected reference buffer. In this way, a simple method for differential measurements is implemented avoiding the need of a reference electrode. By using BSC-ISFET technology integrated with tubular microcell, parallel cells with identical ISFETs are obtained in batch-fabrication.Peer reviewe

Cubeta tubular con sensores químicos de estado integrados para aplicación a sistemas de análisis

Referencia OEPM: P9700443.-- Fecha de solicitud: 28/02/1997.-- Titulares: Consejo Superior de Investigaciones Científicas (CSIC), Universidad Autónoma de Barcelona (UAB), Biosensores, S.L.Cubeta tubular con sensores químicos de estado integrados para aplicación a sistemas de análisis. Se presenta una microcubeta tubular con sensores ISFET integrados, fabricadas a partir de obleas de silicio y de obleas de vidrio. La cubeta actúa como soporte material y los ISFET como elementos sensibles de un sensor o biosensor capaz de determinar cualquier especie cuya reacción de reconocimiento conlleve la aparición en el medio de un ión, elemento, molécula o compuesto que pueda ser detectado por el sensor. La novedad que presenta esta cubeta es su tamaño, relativamente grande comparado con las obtenidas a partir de obleas de silicio, y las técnicas de fabricación, ya que además de la micromecanización del silicio y de la soldadura anódica se utiliza la mecanización del vidrio. Las cubetas se utilizan en un sistema de análisis por inyeccción en un flujo, FIA (Flow Injection Analysis).Peer reviewe

Ferofluidics components

Trabajo presentado en la 3ª Conferencia de Dispositivos Electrónicos, celebrada en Granada (España), los días 15 y 16 de febrero de 200