Multi-charged ions source

The multi-charged ion source (MCIS) with high voltage Penning discharge and end extraction was developed. The bench tests of ion source were made, the operation parameters and initial characteristics of extracted beam were determined. It was shown that MCIS operation parameters and ion beam characteristics are satisfied to exploitation conditions on the "SOKOL" accelerator.Розроблено джерело багатозарядних іонів (ДБІ) з високовольтним розрядом Пеннінгу та аксіальним витягуванням іонів. Проведені стендові випробування джерела, визначені робочі параметри та первинні характеристики витягнутого пучка. Показано, що робочі параметри ДБІ та характеристики витягнутого пучка задовольняють вимогам експлуатації на прискорювачі "СОКОЛ".Разработан источник многозарядных ионов (ИМИ) с высоковольтным разрядом Пеннинга и продольным извлечением ионов. Проведены стендовые испытания источника, определены рабочие параметры и первичные характеристики извлекаемого пучка. Показано, что рабочие параметры ИМИ и характеристики извлекаемого пучка удовлетворяют требованиям эксплуатации на ускорителе "СОКОЛ

A channel for ion irradiation of materials at the accelerator “Sokol”

At the accelerator “Sokol” a channel for ion irradiation of materials is constructed. The channel comprising a beamline system, a slit device, an electrostatic scanning system with power and control modules, and an irradiation chamber is placed behind the analyzing magnet. The main technical parameters of the channel are the following: ions used – H, He, N, Ar; ion energy – 0.2…2 MeV; ion beam current – 2 µA; target zone being irradiated – from 2 ×2 mm up to 40×40 mm; target holder temperature – 80…450 K. Irradiation channel tests are performed together with experiments on polyimide films irradiation with hydrogen ions with an energy of 400 keV.На ускорителе «Сокол» создан канал ионного облучения материалов. Канал установлен после анализирующего магнита и состоит из ионопровода, щелевого прибора, электростатической сканирующей системы с блоком питания и управления, камеры облучения. Основные технические параметры разработанного устройства следующие: используемые ионы Н, He, N, Ar; энергия ионов 0,2…2 МэВ; ток пучка до 2 мкА; площадь облучения образца ─ от 2×2 мм до 40×40 мм; температура держателя образца ─ от 80 до 450 K. Проведены испытания канала облучения и выполнены эксперименты по облучению полиимидных пленок ионами водорода с энергий 400 кэВ.На прискорювачі «Сокіл» створений канал іонного опромінювання матеріалів. Канал встановлений після аналізуючого магніту і складається з іонопроводу, щілинного пристрою, електростатичної скануючої системи з блоком живлення і управління, камери опромінювання. Основні технічні параметри розробленого пристрою наступні: іони, що використовуються, ─ Н, He, N, Ar; енергія іонів ─ 0,2...2 МеВ; струм пучка ─ до 2 мкА; площа опромінювання зразка ─ від 2×2 мм до 40×40 мм; температура утримувача зразка ─ від 80 до 450 K. Проведені випробування каналу опромінювання та експерименти по опромінюванню поліімідних плівок іонами водню з енергією 400 кеВ

⁴He²⁺ and H₂⁺ ion beam separation on ”Sokol” IBA facility

Two separation methods of ⁴He²⁺ and H₂⁺ ion beams have been tested on "Sokol" IBA facility of NSC KIPT: use of existing beam-bending magnet and electrostatic analyzer, dissociation of H₂⁺ ions when the beam passes through the carbon film. It is shown that these methods allow to decrease essentially the H₂⁺ ion content in the ⁴He²⁺ beam.На аналітичному ядерно-фізичному комплексі "Сокол" ННЦ ХФТІ використано два методи розподілу пучків іонів ⁴He²⁺ та H₂⁺: за допомогою існуючого розподільного магніту та електростатичного аналізатора; дисоціації іонів H₂⁺ при проходженні пучка через вуглецеву плівку, що була встановлена перед розподільним магнітом. Показано, що ці методи дозволяють суттєво зменшити вміст іонів H₂⁺ у пучку ⁴He²⁺На аналитическом ядерно-физическом комплексе "Сокол" ННЦ ХФТИ использовано два метода разделения пучков ионов ⁴He²⁺ и H₂⁺: с помощью существующего раздаточного магнита и электростатического анализатора; диссоциации ионов H₂⁺ при прохождении пучка через углеродную пленку, установленную перед раздаточным магнитом. Показано, что эти методы позволяют существенно уменьшить содержание ионов H₂⁺ в пучке ⁴He²⁺