Application of scanning probe microscopy to determine the crystallographic orientation of grains in polarized light

В работе исследована возможность применения методов сканирующей зондовой микроскопии для определения кристаллографической ориентации отдельных зерен. Данный подход реализован путем измерения модуля упругости отдельных зерен на сканирующем нанотвердомере «НаноСкан-3D» и сравнения их с литературными данными.The possibility of applying scanning probe microscopy methods to determine the crystallographic orientation of individual grains is researched. This approach is realized by measuring the Young modulus of individual grains on a scanning nanoscale "NanoScan-3D" and comparing them with literature data