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    Observation comparative du dĂ©placement ionique dans les couches minces de PbF2 ÎČ et de CaF2 par diffusion Rutherford

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    Des couches minces de PbF2 ÎČ et de CaF2, dont les conductivitĂ©s ioniques sont trĂšs diffĂ©rentes, ont Ă©tĂ© analysĂ©es par rĂ©tro-diffusion de particules α. On a pu observer, dans le cas de PbF2, une variation importante du rapport des concentrations fluor/plomb dans l'Ă©paisseur de la couche, correspondant Ă  une accumulation de fluor du cĂŽtĂ© du faisceau incident. Cet effet est attĂ©nuĂ© dans les couches de CaF2. L'interprĂ©tation des rĂ©sultats est basĂ©e sur l'existence d'un nombre important de dĂ©fauts crĂ©Ă©s par le faisceau, et sur leur dĂ©placement sous l'effet de la charge superficielle due Ă  l'Ă©mission secondaire d'Ă©lectrons
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