48 research outputs found
On the opportunity of Ξ²-radiation detection by SI detectors in the Chernobyl failure area
It is demonstrated that a double silicon detector operating in the coincidence mode [1,2] can be used in radiationmonitoring
instruments for registering Ξ²-radiation at high Ξ³-background conditions, e.g., in Chernobyl.ΠΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½Π° Π²ΠΎΠ·ΠΌΠΎΠΆΠ½ΠΎΡΡΡ ΠΏΡΠΈΠΌΠ΅Π½Π΅Π½ΠΈΡ ΡΠ΄Π²ΠΎΠ΅Π½Π½ΠΎΠ³ΠΎ ΠΊΡΠ΅ΠΌΠ½ΠΈΠ΅Π²ΠΎΠ³ΠΎ Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΡΠ° Π² ΡΠ΅ΠΆΠΈΠΌΠ΅ ΡΠΎΠ²ΠΏΠ°Π΄Π΅Π½ΠΈΠΉ Π² Π΄ΠΎΠ·ΠΈΠΌΠ΅ΡΡΠΈΡΠ΅ΡΠΊΠΈΡ
ΡΡΠ΅Π΄ΡΡΠ²Π°Ρ
ΠΈΠ·ΠΌΠ΅ΡΠΈΡΠ΅Π»ΡΠ½ΠΎΠΉ ΡΠ΅Ρ
Π½ΠΈΠΊΠΈ Ρ ΡΠ΅Π»ΡΡ ΡΠ΅Π³ΠΈΡΡΡΠ°ΡΠΈΠΈ Ξ²-ΠΈΠ·Π»ΡΡΠ΅Π½ΠΈΡ Π² ΡΡΠ»ΠΎΠ²ΠΈΡΡ
Π²ΡΡΠΎΠΊΠΎΠ³ΠΎ Ξ³-ΡΠΎΠ½Π°.ΠΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½Π° ΠΌΠΎΠΆΠ»ΠΈΠ²ΡΡΡΡ Π·Π°ΡΡΠΎΡΡΠ²Π°Π½Π½Ρ Π·Π΄Π²ΠΎΡΠ½ΠΎΠ³ΠΎ ΠΊΡΠ΅ΠΌΠ½ΡΡΠ²ΠΎΠ³ΠΎ Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΡΠ° Π² ΡΠ΅ΠΆΠΈΠΌΡ ΡΠΏΡΠ²ΠΏΠ°Π΄Π°Π½Π½Ρ Π² Π΄ΠΎΠ·ΠΈΠΌΠ΅ΡΡΠΈΡΠ½ΠΈΡ
Π·Π°ΡΠΎΠ±Π°Ρ
Π²ΠΈΠΌΡΡΡΠ²Π°Π»ΡΠ½ΠΎΡ ΡΠ΅Ρ
Π½ΡΠΊΠΈ Π· ΠΌΠ΅ΡΠΎΡ ΡΠ΅ΡΡΡΡΠ°ΡΡΡ Ξ²-Π²ΠΈΠΏΡΠΎΠΌΡΠ½ΡΠ²Π°Π½Π½Ρ Π² ΡΠΌΠΎΠ²Π°Ρ
Π²ΠΈΡΠΎΠΊΠΎΠ³ΠΎ Ξ³-ΡΠΎΠ½Ρ
Studying electro-physical characteristics of detecting elements on the ohmic side of silicon microstrip detector
The results of studying the ohmic side of the double-sided microstrip detectors (DSMD) possessing the diode
separating pβΊ stop structure of different type and size are presented. The effect of the pβΊ stop structure on the DSMD
interstrip resistance and interstrip capacitance is considered.ΠΡΠ΅Π΄ΡΡΠ°Π²Π»Π΅Π½ΠΎ ΡΠ΅Π·ΡΠ»ΡΡΠ°ΡΠΈ Π΄ΠΎΡΠ»ΡΠ΄ΠΆΠ΅Π½Π½Ρ ΠΎΠΌΡΡΠ½ΠΎΡ ΡΡΠΎΡΠΎΠ½ΠΈ Π΄Π²ΠΎΡΡΠΎΡΠΎΠ½Π½ΡΡ
ΠΌΡΠΊΡΠΎΡΡΡΠΈΠΏΠΎΠ²ΠΈΡ
Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΡΡΠ² (ΠΠ‘ΠΠ), ΡΠΊΡ ΠΌΠ°ΡΡΡ Π΄ΡΠΎΠ΄Π½Ρ ΡΠΎΠ·Π΄ΡΠ»ΡΡΡΡ pβΊ ΡΡΠΎΠΏ-ΡΡΡΡΠΊΡΡΡΡ ΡΡΠ·Π½ΠΎΠ³ΠΎ ΡΠΈΠΏΡ ΡΠ° ΡΠΎΠ·ΠΌΡΡΡ. Π ΠΎΠ·Π³Π»ΡΠ½ΡΡΠΎ Π²ΠΏΠ»ΠΈΠ² pβΊ ΡΡΠΎΠΏ-ΡΡΡΡΠΊΡΡΡΠΈ Π½Π° ΠΌΡΠΆΡΡΡΠΈΠΏΠΎΠ²Ρ ΡΠΌΠ½ΡΡΡΡ ΡΠ° ΠΌΡΠΆΡΡΡΠΈΠΏΠΎΠ²ΠΈΠΉ ΠΎΠΏΡΡ ΠΠ‘ΠΠ.ΠΡΠ΅Π΄ΡΡΠ°Π²Π»Π΅Π½Ρ ΡΠ΅Π·ΡΠ»ΡΡΠ°ΡΡ ΠΈΡΡΠ»Π΅Π΄ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡ ΠΎΠΌΠΈΡΠ΅ΡΠΊΠΎΠΉ ΡΡΠΎΡΠΎΠ½Ρ Π΄Π²ΡΡ
ΡΡΠΎΡΠΎΠ½Π½ΠΈΡ
ΠΌΠΈΠΊΡΠΎΡΡΡΠΈΠΏΠΎΠ²ΡΡ
Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΡΠΎΠ²
(ΠΠ‘ΠΠ), ΠΈΠΌΠ΅ΡΡΠΈΡ
Π΄ΠΈΠΎΠ΄Π½ΡΠ΅ ΡΠ°Π·Π΄Π΅Π»ΡΡΡΠΈΠ΅ pβΊ ΡΡΠΎΠΏ-ΡΡΡΡΠΊΡΡΡΡ ΡΠ°Π·Π»ΠΈΡΠ½ΡΡ
ΡΠΈΠΏΠΎΠ² ΠΈ ΡΠ°Π·ΠΌΠ΅ΡΠ°. Π Π°ΡΡΠΌΠΎΡΡΠ΅Π½ΠΎ
Π²Π»ΠΈΡΠ½ΠΈΠ΅ pβΊ ΡΡΠΎΠΏ-ΡΡΡΡΠΊΡΡΡΡ Π½Π° ΠΌΠ΅ΠΆΡΡΡΠΈΠΏΠΎΠ²ΡΡ Π΅ΠΌΠΊΠΎΡΡΡ ΠΈ ΠΌΠ΅ΠΆΡΡΡΠΈΠΏΠΎΠ²ΠΎΠ΅ ΡΠΎΠΏΡΠΎΡΠΈΠ²Π»Π΅Π½ΠΈΠ΅ ΠΠ‘ΠΠ
Design of a detecting module based on a single-sided silicon photosensor array with scintilators
A design of a detecting module based on a silicon front side illuminated single-sided photosensor array with scintillators has been developed. The array is made on wafers with a diameter of 100 mm from high-resistance N-type silicon with a specific resistance of 5β¦10 kOhmβ
cm, lifetime of minority charge carriers Ο >1000 ΞΌs and orientation . The elimination of shielding of the photosensitive surface of the array by electrical connection elements is ensured by the use of aluminum-polyimide microcables provided that they are placed on the front side of the array in the gaps between the scintillators. The installation of front-end electronics on the board on the reverse side of the array within the array area allows to create a detecting module of compact size with minimal loss of effective recording area. A module with 64 dete ction cells located in a pitch of 4.1 mm does not exceed an area of 35Γ35 mm.Π ΠΎΠ·ΡΠΎΠ±Π»Π΅Π½ΠΎ ΠΊΠΎΠ½ΡΡΡΡΠΊΡΡΡ Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΡΡΡΠΎΠ³ΠΎ ΠΌΠΎΠ΄ΡΠ»Ρ Π½Π° ΠΎΡΠ½ΠΎΠ²Ρ ΠΊΡΠ΅ΠΌΠ½ΡΡΠ²ΠΎΡ ΡΡΠΎΠ½ΡΠ°Π»ΡΠ½ΠΎ ΠΎΠΏΡΠΎΠΌΡΠ½ΡΠ²Π°Π½ΠΎΡ ΠΎΠ΄Π½ΠΎΡΡΠΎΡΠΎΠ½Π½ΡΠΎΡ ΡΠΎΡΠΎΡΠ΅Π½ΡΠΎΡΠ½ΠΎΡ ΠΌΠ°ΡΡΠΈΡΡ Π· ΡΡΠΈΠ½ΡΠΈΠ»ΡΡΠΎΡΠ°ΠΌΠΈ. ΠΠ°ΡΡΠΈΡΡ Π²ΠΈΠ³ΠΎΡΠΎΠ²Π»ΡΡΡΡΡΡ Π½Π° ΠΏΠ»Π°ΡΡΠΈΠ½Π°Ρ
Π΄ΡΠ°ΠΌΠ΅ΡΡΠΎΠΌ 100 ΠΌΠΌ Π· Π²ΠΈΡΠΎΠΊΠΎΠΎΠΌΠ½ΠΎΠ³ΠΎ ΠΊΡΠ΅ΠΌΠ½ΡΡ N-ΡΠΈΠΏΡ Π· ΠΏΠΈΡΠΎΠΌΠΈΠΌ ΠΎΠΏΠΎΡΠΎΠΌ 5β¦10 ΠΊΠΠΌβ
ΡΠΌ, ΡΠ°ΡΠΎΠΌ ΠΆΠΈΡΡΡ Π½Π΅ΠΎΡΠ½ΠΎΠ²Π½ΠΈΡ
Π½ΠΎΡΡΡΠ² Π·Π°ΡΡΠ΄Ρ Ο >1000 ΠΌΠΊΡ Ρ ΠΎΡΡΡΠ½ΡΠ°ΡΡΡΡ . ΠΡΠ΄ΡΡΡΠ½ΡΡΡΡ Π΅ΠΊΡΠ°Π½ΡΠ²Π°Π½Π½Ρ ΡΠΎΡΠΎΡΡΡΠ»ΠΈΠ²ΠΎΡ ΠΏΠΎΠ²Π΅ΡΡ
Π½Ρ ΠΌΠ°ΡΡΠΈΡΡ Π΅Π»Π΅ΠΌΠ΅Π½ΡΠ°ΠΌΠΈ Π΅Π»Π΅ΠΊΡΡΠΈΡΠ½ΠΎΡ ΠΊΠΎΠΌΡΡΠ°ΡΡΡ Π·Π°Π±Π΅Π·ΠΏΠ΅ΡΡΡΡΡΡΡ Π·Π° ΡΠ°Ρ
ΡΠ½ΠΎΠΊ Π²ΠΈΠΊΠΎΡΠΈΡΡΠ°Π½Π½Ρ Π°Π»ΡΠΌΡΠ½ΡΠΉ-ΠΏΠΎΠ»ΡΡΠΌΡΠ΄Π½ΠΈΡ
ΠΌΡΠΊΡΠΎΠΊΠ°Π±Π΅Π»ΡΠ² Π·Π° ΡΠΌΠΎΠ²ΠΈ ΡΠΎΠ·ΠΌΡΡΠ΅Π½Π½Ρ ΡΡ
Π½Π° ΡΡΠΎΠ½ΡΠ°Π»ΡΠ½ΡΠΉ ΡΡΠΎΡΠΎΠ½Ρ ΠΌΠ°ΡΡΠΈΡΡ Π² Π·Π°Π·ΠΎΡΠ°Ρ
ΠΌΡΠΆ ΡΡΠΈΠ½ΡΠΈΠ»ΡΡΠΎΡΠ°ΠΌΠΈ. Π£ΡΡΠ°Π½ΠΎΠ²ΠΊΠ° ΠΏΠΎΠΏΠ΅ΡΠ΅Π΄Π½ΡΡ
ΠΊΠ°ΡΠΊΠ°Π΄ΡΠ² ΠΏΠΎΡΠΈΠ»Π΅Π½Π½Ρ ΡΠΈΠ³Π½Π°Π»Ρ Π½Π° ΠΏΠ»Π°ΡΡ ΡΠ· Π·Π²ΠΎΡΠΎΡΠ½ΠΎΠ³ΠΎ Π±ΠΎΠΊΡ ΠΌΠ°ΡΡΠΈΡΡ Π² ΠΌΠ΅ΠΆΠ°Ρ
ΠΏΠ»ΠΎΡΡ ΠΌΠ°ΡΡΠΈΡΡ Π΄ΠΎΠ·Π²ΠΎΠ»ΡΡ ΡΡΠ²ΠΎΡΠΈΡΠΈ Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΡΡΡΠΈΠΉ ΠΌΠΎΠ΄ΡΠ»Ρ ΠΊΠΎΠΌΠΏΠ°ΠΊΡΠ½ΠΎΠ³ΠΎ ΡΠΎΠ·ΠΌΡΡΡ Π· ΠΌΡΠ½ΡΠΌΠ°Π»ΡΠ½ΠΈΠΌΠΈ Π²ΡΡΠ°ΡΠ°ΠΌΠΈ Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΈΠ²Π½ΠΎΡ ΠΏΠ»ΠΎΡΡ ΡΠ΅ΡΡΡΡΠ°ΡΡΡ. ΠΠΎΠ΄ΡΠ»Ρ Π· 64-ΠΌΠ° Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΡΡΡΠΈΠΌΠΈ ΠΊΠΎΠΌΡΡΠΊΠ°ΠΌΠΈ, ΡΠΎΠ·ΡΠ°ΡΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠΌΠΈ Π· ΠΊΡΠΎΠΊΠΎΠΌ 4,1 ΠΌΠΌ, Π½Π΅ ΠΏΠ΅ΡΠ΅Π²ΠΈΡΡΡ ΠΏΠ»ΠΎΡΡ 35Γ35 ΠΌΠΌ.Π Π°Π·ΡΠ°Π±ΠΎΡΠ°Π½Π° ΠΊΠΎΠ½ΡΡΡΡΠΊΡΠΈΡ Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΈΡΡΡΡΠ΅Π³ΠΎ ΠΌΠΎΠ΄ΡΠ»Ρ Π½Π° ΠΎΡΠ½ΠΎΠ²Π΅ ΠΊΡΠ΅ΠΌΠ½ΠΈΠ΅Π²ΠΎΠΉ ΡΡΠΎΠ½ΡΠ°Π»ΡΠ½ΠΎ ΠΎΠ±Π»ΡΡΠ°Π΅ΠΌΠΎΠΉ ΠΎΠ΄Π½ΠΎΡΡΠΎΡΠΎΠ½Π½Π΅ΠΉ ΡΠΎΡΠΎΡΠ΅Π½ΡΠΎΡΠ½ΠΎΠΉ ΠΌΠ°ΡΡΠΈΡΡ ΡΠΎ ΡΡΠΈΠ½ΡΠΈΠ»Π»ΡΡΠΎΡΠ°ΠΌΠΈ. ΠΠ°ΡΡΠΈΡΠ° ΠΈΠ·Π³ΠΎΡΠ°Π²Π»ΠΈΠ²Π°Π΅ΡΡΡ Π½Π° ΠΏΠ»Π°ΡΡΠΈΠ½Π°Ρ
Π΄ΠΈΠ°ΠΌΠ΅ΡΡΠΎΠΌ 100 ΠΌΠΌ ΠΈΠ· Π²ΡΡΠΎΠΊΠΎΠΎΠΌΠ½ΠΎΠ³ΠΎ ΠΊΡΠ΅ΠΌΠ½ΠΈΡ N-ΡΠΈΠΏΠ° Ρ ΡΠ΄Π΅Π»ΡΠ½ΡΠΌ ΡΠΎΠΏΡΠΎΡΠΈΠ²Π»Π΅Π½ΠΈΠ΅ΠΌ 5β¦10 ΠΊΠΠΌβ
ΡΠΌ, Π²ΡΠ΅ΠΌΠ΅Π½Π΅ΠΌ ΠΆΠΈΠ·Π½ΠΈ Π½Π΅ΠΎΡΠ½ΠΎΠ²Π½ΡΡ
Π½ΠΎΡΠΈΡΠ΅Π»Π΅ΠΉ Π·Π°ΡΡΠ΄Π° Ο >1000ΠΌΠΊΡ ΠΈ ΠΎΡΠΈΠ΅Π½ΡΠ°ΡΠΈΠ΅ΠΉ . ΠΡΠΊΠ»ΡΡΠ΅Π½ΠΈΠ΅ ΡΠΊΡΠ°Π½ΠΈΡΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡ ΡΠΎΡΠΎΡΡΠ²ΡΡΠ²ΠΈΡΠ΅Π»ΡΠ½ΠΎΠΉ ΠΏΠΎΠ²Π΅ΡΡ
Π½ΠΎΡΡΠΈ ΠΌΠ°ΡΡΠΈΡΡ ΡΠ»Π΅ΠΌΠ΅Π½ΡΠ°ΠΌΠΈ ΡΠ»Π΅ΠΊΡΡΠΈΡΠ΅ΡΠΊΠΎΠΉ ΠΊΠΎΠΌΠΌΡΡΠ°ΡΠΈΠΈ ΠΎΠ±Π΅ΡΠΏΠ΅ΡΠΈΠ²Π°Π΅ΡΡΡ Π·Π° ΡΡΠ΅Ρ ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡΠ·ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡ Π°Π»ΡΠΌΠΈΠ½ΠΈΠΉ-ΠΏΠΎΠ»ΠΈΠΈΠΌΠΈΠ΄Π½ΡΡ
ΠΌΠΈΠΊΡΠΎΠΊΠ°Π±Π΅Π»Π΅ΠΉ ΠΏΡΠΈ ΡΡΠ»ΠΎΠ²ΠΈΠΈ ΡΠ°Π·ΠΌΠ΅ΡΠ΅Π½ΠΈΡ ΠΈΡ
Π½Π° ΡΡΠΎΠ½ΡΠ°Π»ΡΠ½ΠΎΠΉ ΡΡΠΎΡΠΎΠ½Π΅ ΠΌΠ°ΡΡΠΈΡΡ Π² Π·Π°Π·ΠΎΡΠ°Ρ
ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄Ρ ΡΡΠΈΠ½ΡΠΈΠ»Π»ΡΡΠΎΡΠ°ΠΌΠΈ. Π£ΡΡΠ°Π½ΠΎΠ²ΠΊΠ° ΠΏΡΠ΅Π΄Π²Π°ΡΠΈΡΠ΅Π»ΡΠ½ΡΡ
ΠΊΠ°ΡΠΊΠ°Π΄ΠΎΠ² ΡΡΠΈΠ»Π΅Π½ΠΈΡ ΡΠΈΠ³Π½Π°Π»Π° Π½Π° ΠΏΠ»Π°ΡΠ΅ Ρ ΠΎΠ±ΡΠ°ΡΠ½ΠΎΠΉ ΡΡΠΎΡΠΎΠ½Ρ ΠΌΠ°ΡΡΠΈΡΡ Π² ΠΏΡΠ΅Π΄Π΅Π»Π°Ρ
ΠΏΠ»ΠΎΡΠ°Π΄ΠΈ ΠΌΠ°ΡΡΠΈΡΡ ΠΏΠΎΠ·Π²ΠΎΠ»ΡΠ΅Ρ ΡΠΎΠ·Π΄Π°ΡΡ Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΈΡΡΡΡΠΈΠΉ ΠΌΠΎΠ΄ΡΠ»Ρ ΠΊΠΎΠΌΠΏΠ°ΠΊΡΠ½ΠΎΠ³ΠΎ ΡΠ°Π·ΠΌΠ΅ΡΠ° Ρ ΠΌΠΈΠ½ΠΈΠΌΠ°Π»ΡΠ½ΡΠΌΠΈ ΠΏΠΎΡΠ΅ΡΡΠΌΠΈ ΡΡΡΠ΅ΠΊΡΠΈΠ²Π½ΠΎΠΉ ΠΏΠ»ΠΎΡΠ°Π΄ΠΈ ΡΠ΅Π³ΠΈΡΡΡΠ°ΡΠΈΠΈ. ΠΠΎΠ΄ΡΠ»Ρ Ρ 64-ΠΌΡ Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΈΡΡΡΡΠΈΠΌΠΈ ΡΡΠ΅ΠΉΠΊΠ°ΠΌΠΈ, ΡΠ°ΡΠΏΠΎΠ»ΠΎΠΆΠ΅Π½Π½ΡΠΌΠΈ Ρ ΡΠ°Π³ΠΎΠΌ 4,1 ΠΌΠΌ, Π½Π΅ ΠΏΡΠ΅Π²ΡΡΠ°Π΅Ρ ΠΏΠ»ΠΎΡΠ°Π΄Ρ 35Γ35 ΠΌΠΌ
Modeling the response of a planar silicon detector when measuring the exposure dose rate in the energy range from 5 keV to 10MeV
The main advantages of using silicon semiconductor detectors in dosimetry in comparison with traditional detectors are considered. The shortcomings are analyzed and possible methods for their elimination are proposed. One of the proposed methods makes it possible to increase the efficiency of detecting gamma quantum in the energy range 0.1β¦10MeV. The requirements are formulated to optimize the design of detectors operating in a wide range of dose rates and gamma radiation energies by computer simulation. Mathematical calculations and computer simulations determine the dosimeter design, materials and thicknesses Ξ³βconverter. The mechanisms of modeling the absorbed dose in air and ambient dose in silicon detectors with a thickness of 300 ΞΌm, sizes (5Γ5)mmΒ² and (1.8Γ1.8)mmΒ², in the range of incident Ξ³βray energies from 5keV to 10 MeV are presented.Π ΠΎΠ·Π³Π»ΡΠ½ΡΡΠΎ ΠΎΡΠ½ΠΎΠ²Π½Ρ ΠΏΠ΅ΡΠ΅Π²Π°Π³ΠΈ Π·Π°ΡΡΠΎΡΡΠ²Π°Π½Π½Ρ ΠΊΡΠ΅ΠΌΠ½ΡΡΠ²ΠΈΡ
Π½Π°ΠΏΡΠ²ΠΏΡΠΎΠ²ΡΠ΄Π½ΠΈΠΊΠΎΠ²ΠΈΡ
Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΡΡΠ² Ρ Π·Π°Π΄Π°ΡΠ°Ρ
Π΄ΠΎΠ·ΠΈΠΌΠ΅ΡΡΡΡ Π² ΠΏΠΎΡΡΠ²Π½ΡΠ½Π½Ρ Π· ΡΡΠ°Π΄ΠΈΡΡΠΉΠ½ΠΈΠΌΠΈ Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΡΠ°ΠΌΠΈ. ΠΡΠΎΠ°Π½Π°Π»ΡΠ·ΠΎΠ²Π°Π½ΠΎ Π½Π΅Π΄ΠΎΠ»ΡΠΊΠΈ ΡΠ° Π·Π°ΠΏΡΠΎΠΏΠΎΠ½ΠΎΠ²Π°Π½Ρ ΠΌΠΎΠΆΠ»ΠΈΠ²Ρ ΠΌΠ΅ΡΠΎΠ΄ΠΈ ΡΡ
ΡΡΡΠ½Π΅Π½Π½Ρ. ΠΠ΄ΠΈΠ½ ΡΠ· Π·Π°ΠΏΡΠΎΠΏΠΎΠ½ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡ
ΠΌΠ΅ΡΠΎΠ΄ΡΠ² Π΄ΠΎΠ·Π²ΠΎΠ»ΡΡ Π·Π±ΡΠ»ΡΡΠΈΡΠΈ Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΈΠ²Π½ΡΡΡΡ ΡΠ΅ΡΡΡΡΠ°ΡΡΡ Π³Π°ΠΌΠΌΠ°-ΠΊΠ²Π°Π½ΡΡΠ² Ρ Π΄ΡΠ°ΠΏΠ°Π·ΠΎΠ½Ρ Π΅Π½Π΅ΡΠ³ΡΠΉ 0,1β¦10 ΠΡΠ. Π‘ΡΠΎΡΠΌΡΠ»ΡΠΎΠ²Π°Π½ΠΎ Π²ΠΈΠΌΠΎΠ³ΠΈ, Π½Π΅ΠΎΠ±Ρ
ΡΠ΄Π½Ρ Π΄Π»Ρ ΠΎΠΏΡΠΈΠΌΡΠ·Π°ΡΡΡ ΠΊΠΎΠ½ΡΡΡΡΠΊΡΡΡ Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΡΡΠ², ΡΠΊΡ ΠΏΡΠ°ΡΡΡΡΡ Ρ ΡΠΈΡΠΎΠΊΠΎΠΌΡ Π΄ΡΠ°ΠΏΠ°Π·ΠΎΠ½Ρ ΠΏΠΎΡΡΠΆΠ½ΠΎΡΡΠ΅ΠΉ Π΄ΠΎΠ· Ρ Π΅Π½Π΅ΡΠ³ΡΡ Π³Π°ΠΌΠΌΠ°βΠ²ΠΈΠΏΡΠΎΠΌΡΠ½ΡΠ²Π°Π½Π½Ρ, ΠΌΠ΅ΡΠΎΠ΄ΠΎΠΌ ΠΊΠΎΠΌΠΏβΡΡΠ΅ΡΠ½ΠΎΠ³ΠΎ ΠΌΠΎΠ΄Π΅Π»ΡΠ²Π°Π½Π½Ρ. ΠΡΠΎΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Ρ ΠΌΠ°ΡΠ΅ΠΌΠ°ΡΠΈΡΠ½Ρ ΡΠΎΠ·ΡΠ°Ρ
ΡΠ½ΠΊΠΈ Ρ ΠΊΠΎΠΌΠΏβΡΡΠ΅ΡΠ½Π΅ ΠΌΠΎΠ΄Π΅Π»ΡΠ²Π°Π½Π½Ρ Π²ΠΈΠ·Π½Π°ΡΠ°ΡΡΡ ΠΊΠΎΠ½ΡΡΡΡΠΊΡΡΡ Π΄ΠΎΠ·ΠΈΠΌΠ΅ΡΡΠ°, ΠΌΠ°ΡΠ΅ΡΡΠ°Π»ΠΈ Ρ ΡΠΎΠ²ΡΠΈΠ½Ρ Ξ³βΠΊΠΎΠ½Π²Π΅ΡΡΠ΅ΡΠ°. ΠΠ°Π²ΠΎΠ΄ΡΡΡΡΡ ΠΌΠ΅Ρ
Π°Π½ΡΠ·ΠΌΠΈ ΠΌΠΎΠ΄Π΅Π»ΡΠ²Π°Π½Π½Ρ ΠΏΠΎΠ³Π»ΠΈΠ½Π΅Π½ΠΎΡ Π΄ΠΎΠ·ΠΈ Π² ΠΏΠΎΠ²ΡΡΡΡ Ρ Π°ΠΌΠ±ΡΡΠ½ΡΠ½ΠΎΡ Π΄ΠΎΠ·ΠΈ Π² ΠΊΡΠ΅ΠΌΠ½ΡΡΠ²ΠΈΡ
Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΡΠ°Ρ
ΡΠΎΠ²ΡΠΈΠ½ΠΎΡ Π²ΡΠ΄ 300 ΠΌΠΊΠΌ, ΡΠΎΠ·ΠΌΡΡΠ°ΠΌΠΈ (5Γ5)ΠΌΠΌΒ² ΠΈ (1,8Γ1,8)ΠΌΠΌΒ², Ρ Π΄ΡΠ°ΠΏΠ°Π·ΠΎΠ½Ρ Π΅Π½Π΅ΡΠ³ΡΠΉ ΠΏΠ°Π΄Π°ΡΡΠΎΠ³ΠΎ Ξ³βΠ²ΠΈΠΏΡΠΎΠΌΡΠ½ΡΠ²Π°Π½Π½Ρ Π²ΡΠ΄ 5 ΠΊΠ΅Π Π΄ΠΎ 10 ΠΠ΅Π.Π Π°ΡΡΠΌΠΎΡΡΠ΅Π½Ρ ΠΎΡΠ½ΠΎΠ²Π½ΡΠ΅ ΠΏΡΠ΅ΠΈΠΌΡΡΠ΅ΡΡΠ²Π° ΠΏΡΠΈΠΌΠ΅Π½Π΅Π½ΠΈΡ ΠΊΡΠ΅ΠΌΠ½ΠΈΠ΅Π²ΡΡ
ΠΏΠΎΠ»ΡΠΏΡΠΎΠ²ΠΎΠ΄Π½ΠΈΠΊΠΎΠ²ΡΡ
Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΡΠΎΠ² Π² Π·Π°Π΄Π°ΡΠ°Ρ
Π΄ΠΎΠ·ΠΈΠΌΠ΅ΡΡΠΈΠΈ ΠΏΠΎ ΡΡΠ°Π²Π½Π΅Π½ΠΈΡ Ρ ΡΡΠ°Π΄ΠΈΡΠΈΠΎΠ½Π½ΡΠΌΠΈ Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΡΠ°ΠΌΠΈ. ΠΡΠΎΠ°Π½Π°Π»ΠΈΠ·ΠΈΡΠΎΠ²Π°Π½Ρ Π½Π΅Π΄ΠΎΡΡΠ°ΡΠΊΠΈ ΠΈ ΠΏΡΠ΅Π΄Π»ΠΎΠΆΠ΅Π½Ρ Π²ΠΎΠ·ΠΌΠΎΠΆΠ½ΡΠ΅ ΠΌΠ΅ΡΠΎΠ΄Ρ ΠΈΡ
ΡΡΡΡΠ°Π½Π΅Π½ΠΈΡ. ΠΠ΄ΠΈΠ½ ΠΈΠ· ΠΏΡΠ΅Π΄Π»ΠΎΠΆΠ΅Π½Π½ΡΡ
ΠΌΠ΅ΡΠΎΠ΄ΠΎΠ² ΠΏΠΎΠ·Π²ΠΎΠ»ΡΠ΅Ρ ΡΠ²Π΅Π»ΠΈΡΠΈΡΡ ΡΡΡΠ΅ΠΊΡΠΈΠ²Π½ΠΎΡΡΡ ΡΠ΅Π³ΠΈΡΡΡΠ°ΡΠΈΠΈ Π³Π°ΠΌΠΌΠ°-ΠΊΠ²Π°Π½ΡΠΎΠ² Π² Π΄ΠΈΠ°ΠΏΠ°Π·ΠΎΠ½Π΅ ΡΠ½Π΅ΡΠ³ΠΈΠΉ 0,1β¦10 ΠΡΠ. Π‘ΡΠΎΡΠΌΡΠ»ΠΈΡΠΎΠ²Π°Π½Ρ ΡΡΠ΅Π±ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡ, Π½Π΅ΠΎΠ±Ρ
ΠΎΠ΄ΠΈΠΌΡΠ΅ Π΄Π»Ρ ΠΎΠΏΡΠΈΠΌΠΈΠ·Π°ΡΠΈΠΈ ΠΊΠΎΠ½ΡΡΡΡΠΊΡΠΈΠΈ Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΡΠΎΠ², ΡΠ°Π±ΠΎΡΠ°ΡΡΠΈΡ
Π² ΡΠΈΡΠΎΠΊΠΎΠΌ Π΄ΠΈΠ°ΠΏΠ°Π·ΠΎΠ½Π΅ ΠΌΠΎΡΠ½ΠΎΡΡΠ΅ΠΉ Π΄ΠΎΠ· ΠΈ ΡΠ½Π΅ΡΠ³ΠΈΠΈ Π³Π°ΠΌΠΌΠ°βΠΈΠ·Π»ΡΡΠ΅Π½ΠΈΡ, ΠΌΠ΅ΡΠΎΠ΄ΠΎΠΌ ΠΊΠΎΠΌΠΏΡΡΡΠ΅ΡΠ½ΠΎΠ³ΠΎ ΠΌΠΎΠ΄Π΅Π»ΠΈΡΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡ. ΠΡΠΎΠ²Π΅Π΄Π΅Π½Π½ΡΠ΅ ΠΌΠ°ΡΠ΅ΠΌΠ°ΡΠΈΡΠ΅ΡΠΊΠΈΠ΅ ΡΠ°ΡΡΠ΅ΡΡ ΠΈ ΠΊΠΎΠΌΠΏΡΡΡΠ΅ΡΠ½ΠΎΠ΅ ΠΌΠΎΠ΄Π΅Π»ΠΈΡΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠ΅ ΠΎΠΏΡΠ΅Π΄Π΅Π»ΡΡΡ ΠΊΠΎΠ½ΡΡΡΡΠΊΡΠΈΡ Π΄ΠΎΠ·ΠΈΠΌΠ΅ΡΡΠ°, ΠΌΠ°ΡΠ΅ΡΠΈΠ°Π»Ρ ΠΈ ΡΠΎΠ»ΡΠΈΠ½Ρ Ξ³βΠΊΠΎΠ½Π²Π΅ΡΡΠ΅ΡΠ°. ΠΡΠΈΠ²ΠΎΠ΄ΡΡΡΡ ΠΌΠ΅Ρ
Π°Π½ΠΈΠ·ΠΌΡ ΠΌΠΎΠ΄Π΅Π»ΠΈΡΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡ ΠΏΠΎΠ³Π»ΠΎΡΠ΅Π½Π½ΠΎΠΉ Π΄ΠΎΠ·Ρ Π² Π²ΠΎΠ·Π΄ΡΡ
Π΅ ΠΈ Π°ΠΌΠ±ΠΈΠ΅Π½ΡΠ½ΠΎΠΉ Π΄ΠΎΠ·Ρ Π² ΠΊΡΠ΅ΠΌΠ½ΠΈΠ΅Π²ΡΡ
Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΡΠ°Ρ
ΡΠΎΠ»ΡΠΈΠ½ΠΎΠΉ ΠΎΡ 300 ΠΌΠΊΠΌ, ΡΠ°Π·ΠΌΠ΅ΡΠ°ΠΌΠΈ (5Γ5)ΠΌΠΌΒ² ΠΈ (1,8Γ1,8)ΠΌΠΌΒ², Π² Π΄ΠΈΠ°ΠΏΠ°Π·ΠΎΠ½Π΅ ΡΠ½Π΅ΡΠ³ΠΈΠΉ ΠΏΠ°Π΄Π°ΡΡΠ΅Π³ΠΎ Ξ³βΠΈΠ·Π»ΡΡΠ΅Π½ΠΈΡ ΠΎΡ 5 ΠΊΡΠ Π΄ΠΎ 10 ΠΡΠ
Interference of quantities of interstrip capacitance and interstrip resistances of the two-coordinate microstrip detector
The dependence of interstrip capacitance of the double-sided microstrip detector on frequency of measuring is
explored. Has been investigated at what frequency of measuring the observed value of interstrip capacitance is most
in accord with quantity of interstrip resistance. By obtained results the conclusions about an opportunity of
application of interstrip capacitance measuring for detection of defects of the microstrip detectors at stage of their
characterisation are made.ΠΠΎΡΠ»ΡΠ΄ΠΆΠ΅Π½ΠΎ Π·Π°Π»Π΅ΠΆΠ½ΡΡΡΡ ΠΌΡΠΆΡΠΌΡΠ³ΠΎΠ²ΠΎΡ ΡΠΌΠ½ΠΎΡΡΡ Π΄Π²ΠΎΡΡΠΎΡΠΎΠ½Π½ΡΠΎΠ³ΠΎ ΠΌΡΠΊΡΠΎΡΠΌΡΠ³ΠΎΠ²ΠΎΠ³ΠΎ Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΡΠ° Π²ΡΠ΄ ΡΠ°ΡΡΠΎΡΠΈ
Π²ΠΈΠΌΡΡΡΠ²Π°Π½Π½Ρ. ΠΠΈΠ²ΡΠ΅Π½ΠΎ, ΠΏΡΠΈ ΡΠΊΡΠΉ ΡΠ°ΡΡΠΎΡΡ Π²ΠΈΠΌΡΡΡΠ²Π°Π½Π½Ρ ΡΠ΅Π·ΡΠ»ΡΡΠ°ΡΠΈ Π²ΠΈΠΌΡΡΡΠ²Π°Π½Π½Ρ ΠΌΡΠΆΡΠΌΡΠ³ΠΎΠ²ΠΎΡ ΡΠΌΠ½ΠΎΡΡΡ
Π½Π°ΠΉΠ±ΡΠ»ΡΡ ΡΠΏΡΠ²ΠΏΠ°Π΄Π°ΡΡΡ Π·Ρ Π·Π½Π°ΡΠ΅Π½Π½ΡΠΌ ΠΌΡΠΆΡΠΌΡΠ³ΠΎΠ²ΠΎΠ³ΠΎ ΠΎΠΏΠΎΡΡ. ΠΠΎ ΠΎΡΡΠΈΠΌΠ°Π½ΠΈΠΌ ΡΠ΅Π·ΡΠ»ΡΡΠ°ΡΠ°ΠΌ Π·ΡΠΎΠ±Π»Π΅Π½ΠΎ Π²ΠΈΡΠ½ΠΎΠ²ΠΊΠΈ ΠΏΡΠΎ
ΠΌΠΎΠΆΠ»ΠΈΠ²ΡΡΡΡ Π·Π°ΡΡΠΎΡΡΠ²Π°Π½Π½Ρ Π²ΠΈΠΌΡΡΡΠ²Π°Π½Π½Ρ ΠΌΡΠΆΡΠΌΡΠ³ΠΎΠ²ΠΎΡ ΡΠΌΠ½ΠΎΡΡΡ Π΄Π»Ρ Π·Π½Π°Ρ
ΠΎΠ΄ΠΆΠ΅Π½Π½Ρ Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΡΠ² ΠΌΡΠΊΡΠΎΡΠΌΡΠ³ΠΎΠ²ΠΈΡ
Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΡΡΠ² Π½Π° Π΅ΡΠ°ΠΏΡ ΡΡ
Π½ΡΠΎΠ³ΠΎ ΡΠ΅ΡΡΡΠ²Π°Π½Π½Ρ.ΠΡΡΠ»Π΅Π΄ΠΎΠ²Π°Π½Π° Π·Π°Π²ΠΈΡΠΈΠΌΠΎΡΡΡ ΠΌΠ΅ΠΆΠΏΠΎΠ»ΠΎΡΠΊΠΎΠ²ΠΎΠΉ Π΅ΠΌΠΊΠΎΡΡΠΈ Π΄Π²ΡΡ
ΡΡΠΎΡΠΎΠ½Π½Π΅Π³ΠΎ ΠΌΠΈΠΊΡΠΎΠΏΠΎΠ»ΠΎΡΠΊΠΎΠ²ΠΎΠ³ΠΎ Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΡΠ° ΠΎΡ
ΡΠ°ΡΡΠΎΡΡ ΠΈΠ·ΠΌΠ΅ΡΠ΅Π½ΠΈΡ. ΠΠ·ΡΡΠ΅Π½ΠΎ, ΠΏΡΠΈ ΠΊΠ°ΠΊΠΎΠΉ ΡΠ°ΡΡΠΎΡΠ΅ ΠΈΠ·ΠΌΠ΅ΡΠ΅Π½ΠΈΠΉ ΡΠ΅Π·ΡΠ»ΡΡΠ°ΡΡ ΠΈΠ·ΠΌΠ΅ΡΠ΅Π½ΠΈΠΉ ΠΌΠ΅ΠΆΠΏΠΎΠ»ΠΎΡΠΊΠΎΠ²ΠΎΠΉ Π΅ΠΌΠΊΠΎΡΡΠΈ
Π½Π°ΠΈΠ±ΠΎΠ»Π΅Π΅ ΡΠΎΠ³Π»Π°ΡΡΡΡΡΡ Ρ Π²Π΅Π»ΠΈΡΠΈΠ½ΠΎΠΉ ΠΌΠ΅ΠΆΠΏΠΎΠ»ΠΎΡΠΊΠΎΠ²ΠΎΠ³ΠΎ ΡΠΎΠΏΡΠΎΡΠΈΠ²Π»Π΅Π½ΠΈΡ. ΠΠΎ ΠΏΠΎΠ»ΡΡΠ΅Π½Π½ΡΠΌ ΡΠ΅Π·ΡΠ»ΡΡΠ°ΡΠ°ΠΌ ΡΠ΄Π΅Π»Π°Π½Ρ
Π²ΡΠ²ΠΎΠ΄Ρ ΠΎ Π²ΠΎΠ·ΠΌΠΎΠΆΠ½ΠΎΡΡΠΈ ΠΏΡΠΈΠΌΠ΅Π½Π΅Π½ΠΈΡ ΠΈΠ·ΠΌΠ΅ΡΠ΅Π½ΠΈΡ ΠΌΠ΅ΠΆΠΏΠΎΠ»ΠΎΡΠΊΠΎΠ²ΠΎΠΉ Π΅ΠΌΠΊΠΎΡΡΠΈ Π΄Π»Ρ ΠΎΠ±Π½Π°ΡΡΠΆΠ΅Π½ΠΈΡ Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΠ²
ΠΌΠΈΠΊΡΠΎΠΏΠΎΠ»ΠΎΡΠΊΠΎΠ²ΡΡ
Π΄Π΅ΡΠ΅ΠΊΡΠΎΡΠΎΠ² Π½Π° ΡΡΠ°ΠΏΠ΅ ΠΈΡ
ΡΠ΅ΡΡΠΈΡΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡ
Radiation tolerance investigation of a Si detectors and microelectronics using NSC KIPT linacs
A possibility of full irradiation tests of semiconductor detectors and microelectronics using electron accelerators are considered in the present work. The techniques for irradiation and for detector tests were described. The data on the efficiency of electron and bremsstrahlung action on the Si bulk material are presented
Intensive X-ray source optimization
Possibility of optimization of an intensive source of the electron radiation in crystals based on the Compton
scattering of X-radiation is considered.Π ΠΎΠ·Π³Π»ΡΠ΄Π°ΡΡΡΡΡ ΠΌΠΎΠΆΠ»ΠΈΠ²ΡΡΡΡ ΠΎΠΏΡΠΈΠΌΡΠ·Π°ΡΡΡ Π΄ΠΆΠ΅ΡΠ΅Π» ΡΠ½ΡΠ΅Π½ΡΠΈΠ²Π½ΠΎΠ³ΠΎ ΡΠ΅Π½ΡΠ³Π΅Π½ΡΠ²ΡΡΠΊΠΎΠ³ΠΎ Π²ΠΈΠΏΡΠΎΠΌΡΠ½ΡΠ²Π°Π½Π½Ρ
ΠΏΡΠΈΡΠΊΠΎΡΠ΅Π½ΠΈΡ
Π΅Π»Π΅ΠΊΡΡΠΎΠ½ΡΠ² Π· Π²ΠΈΠΊΠΎΡΠΈΡΡΠ°Π½Π½ΡΠΌ ΠΌΠ΅ΡΠΎΠ΄ΠΈΠΊΠΈ Π½Π° ΠΎΡΠ½ΠΎΠ²Ρ ΠΊΠΎΠΌΠΏΡΠΎΠ½ΡΠ²ΡΡΠΊΠΎΠ³ΠΎ ΡΠΎΠ·ΡΡΡΠ½Π½Ρ.Π Π°ΡΡΠΌΠ°ΡΡΠΈΠ²Π°Π΅ΡΡΡ Π²ΠΎΠ·ΠΌΠΎΠΆΠ½ΠΎΡΡΡ ΠΎΠΏΡΠΈΠΌΠΈΠ·Π°ΡΠΈΠΈ ΠΈΡΡΠΎΡΠ½ΠΈΠΊΠΎΠ² ΠΈΠ½ΡΠ΅Π½ΡΠΈΠ²Π½ΠΎΠ³ΠΎ ΡΠ΅Π½ΡΠ³Π΅Π½ΠΎΠ²ΡΠΊΠΎΠ³ΠΎ ΠΈΠ·Π»ΡΡΠ΅Π½ΠΈΡ
ΡΡΠΊΠΎΡΠ΅Π½Π½ΡΡ
ΡΠ»Π΅ΠΊΡΡΠΎΠ½ΠΎΠ² Ρ ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡΠ·ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠ΅ΠΌ ΠΌΠ΅ΡΠΎΠ΄ΠΈΠΊΠΈ Π½Π° ΠΎΡΠ½ΠΎΠ²Π΅ ΠΊΠΎΠΌΠΏΡΠΎΠ½ΠΎΠ²ΡΠΊΠΎΠ³ΠΎ ΡΠ°ΡΡΠ΅ΡΠ½ΠΈΡ
Sterilization by plasma produced at REB outlet into atmosphere
It has been shown, that at REB (4 ΠeV, 0.5 Π, 2 Β΅s, 3 Hz) outlet into atmosphere besides of sterilization straightly by REB electrons, more intense sterilization can be achieved by produced plasma. The sterilization process is determinated by influence of plasma particles, radicals, soft X-ray and UV radiation, and ozone.ΠΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½ΠΎ, ΡΠΎ ΠΏΡΠΈ Π²ΠΈΠ²ΠΎΠ΄Ρ Π ΠΠ (4 ΠΠ΅Π, 0.5 Π, 2 ΠΌΠΊΡ, 3 ΠΡ,) Π² Π°ΡΠΌΠΎΡΡΠ΅ΡΡ, ΠΊΡΡΠΌ ΡΡΠ΅ΡΠΈΠ»ΡΠ·Π°ΡΡΡ Π΅Π»Π΅ΠΊΡΡΠΎΠ½Π°ΠΌΠΈ Π ΠΠ, Π±ΡΠ»ΡΡ ΡΠ½ΡΠ΅Π½ΡΠΈΠ²Π½Π° ΡΡΠ΅ΡΠΈΠ»ΡΠ·Π°ΡΡΡ Π΄ΠΎΡΡΠ³Π°ΡΡΡΡΡ ΡΡΠ²ΠΎΡΠ΅Π½ΠΎΡ ΠΏΠ»Π°Π·ΠΌΠΎΡ. Π‘ΡΠ΅ΡΠΈΠ»ΡΠ·Π°ΡΡΡ Π²ΠΈΠ·Π½Π°ΡΠ°ΡΡΡΡΡ Π΄ΡΡΡ ΠΏΠ»Π°Π·ΠΌΠΎΠ²ΠΈΡ
ΡΠ°ΡΡΠΎΠΊ, ΡΠ°Π΄ΠΈΠΊΠ°Π»ΡΠ², ΠΌβΡΠΊΠΎΠ³ΠΎ ΡΠ΅Π½ΡΠ³Π΅Π½ΡΠ²ΡΡΠΊΠΎΠ³ΠΎ ΡΠ° ΡΠ»ΡΡΡΠ°ΡΡΠΎΠ»Π΅ΡΠΎΠ²ΠΎΠ³ΠΎ Π²ΠΈΠΏΡΠΎΠΌΡΠ½ΡΠ²Π°Π½Π½Ρ, Π° ΡΠ°ΠΊΠΎΠΆ ΠΎΠ·ΠΎΠ½Ρ.ΠΠΎΠΊΠ°Π·Π°Π½ΠΎ, ΡΡΠΎ ΠΏΡΠΈ Π²ΡΠ²ΠΎΠ΄Π΅ Π ΠΠ (4 ΠΡΠ, 0.5 Π, 2 ΠΌΠΊΡ, 3 ΠΡ,) Π² Π°ΡΠΌΠΎΡΡΠ΅ΡΡ, ΠΊΡΠΎΠΌΠ΅ ΡΡΠ΅ΡΠΈΠ»ΠΈΠ·Π°ΡΠΈΠΈ Π½Π΅ΠΏΠΎΡΡΠ΅Π΄ΡΡΠ²Π΅Π½Π½ΠΎ ΡΠ»Π΅ΠΊΡΡΠΎΠ½Π°ΠΌΠΈ Π ΠΠ, Π±ΠΎΠ»Π΅Π΅ ΠΈΠ½ΡΠ΅Π½ΡΠΈΠ²Π½Π°Ρ ΡΡΠ΅ΡΠΈΠ»ΠΈΠ·Π°ΡΠΈΡ Π΄ΠΎΡΡΠΈΠ³Π°Π΅ΡΡΡ ΠΎΠ±ΡΠ°Π·ΠΎΠ²Π°Π½Π½ΠΎΠΉ ΠΏΠ»Π°Π·ΠΌΠΎΠΉ. Π‘ΡΠ΅ΡΠΈΠ»ΠΈΠ·Π°ΡΠΈΡ ΠΎΠΏΡΠ΅Π΄Π΅Π»ΡΠ΅ΡΡΡ Π²ΠΎΠ·Π΄Π΅ΠΉΡΡΠ²ΠΈΠ΅ΠΌ ΠΏΠ»Π°Π·ΠΌΠ΅Π½Π½ΡΡ
ΡΠ°ΡΡΠΈΡ, ΡΠ°Π΄ΠΈΠΊΠ°Π»ΠΎΠ², ΠΌΡΠ³ΠΊΠΎΠ³ΠΎ ΡΠ΅Π½ΡΠ³Π΅Π½ΠΎΠ²ΡΠΊΠΎΠ³ΠΎ ΠΈ ΡΠ»ΡΡΡΠ°ΡΠΈΠΎΠ»Π΅ΡΠΎΠ²ΠΎΠ³ΠΎ ΠΈΠ·Π»ΡΡΠ΅Π½ΠΈΠΉ, Π° ΡΠ°ΠΊ ΠΆΠ΅ ΠΎΠ·ΠΎΠ½Π°
Orientation effects in ultrarelativistic electron transmission through a single crystal
The results of experimental investigations of the 1.2 GeV electron transmission dynamics in a thin single crystal of Si are discussed. The interpretation of the electron scattering orientation dependencies measured under different scattering angles is carried out. The existence of scattering direction, where one can observe the scattering intensity independence on the crystallographic plane orientation is shown. Besides the existence of crystallographic axis orientation, where one can observe the region of uniform angle distribution of scattering intensity, is shown
Experimental facility IHEPNP for fundamental and applied researhes in energy range up to 100 MeV
The possibility of creating an experimental setup in building No.3 of the IHEPNP NNC KIPT (LUE-300 complex) on the basis of the existing LUE-60 electron accelerator and the existing experimental infrastructure is being discussed. It is planned to raise the energy of the electron beam to 100 MeV and create two beam lines: one is for reaserches with intense beams of electrons and photons, including linearly polarized ones, and the other β for investigations with the low intensive beams of electrons and positrons. Implementation of the project will open opportunities for a wide range of research programs in the field of interaction of the radiation with amorphous and crystalline matter, nuclear physics and astrophysics, as well as in the applied research.ΠΠ±Π³ΠΎΠ²ΠΎΡΡΡΡΡΡΡ ΠΌΠΎΠΆΠ»ΠΈΠ²ΡΡΡΡ ΡΡΠ²ΠΎΡΠ΅Π½Π½Ρ Π΅ΠΊΡΠΏΠ΅ΡΠΈΠΌΠ΅Π½ΡΠ°Π»ΡΠ½ΠΎΡ ΡΡΡΠ°Π½ΠΎΠ²ΠΊΠΈ Π² Π±ΡΠ΄ΡΠ²Π»Ρ β3 ΠΠ€ΠΠΠ―Π€ ΠΠΠ¦ Π₯Π€Π’Π (ΠΏΡΠΈΡΠΊΠΎΡΡΠ²Π°Π»ΡΠ½ΠΈΠΉ ΠΊΠΎΠΌΠΏΠ»Π΅ΠΊΡ ΠΠ£Π-300) Π½Π° ΠΎΡΠ½ΠΎΠ²Ρ ΡΠΈΠ½Π½ΠΎΠ³ΠΎ ΠΏΡΠΈΡΠΊΠΎΡΡΠ²Π°ΡΠ° Π΅Π»Π΅ΠΊΡΡΠΎΠ½ΡΠ² ΠΠ£Π-60 Ρ ΡΡΠ½ΡΡΡΠΎΡ Π΅ΠΊΡΠΏΠ΅ΡΠΈΠΌΠ΅Π½ΡΠ°Π»ΡΠ½ΠΎΡ ΡΠ½ΡΡΠ°ΡΡΡΡΠΊΡΡΡΠΈ. ΠΠ»Π°Π½ΡΡΡΡΡΡ Π·Π±ΡΠ»ΡΡΠΈΡΠΈ Π΅Π½Π΅ΡΠ³ΡΡ Π΅Π»Π΅ΠΊΡΡΠΎΠ½Π½ΠΎΠ³ΠΎ ΠΏΡΡΠΊΠ° Π΄ΠΎ 100 ΠΠ΅Π Ρ ΡΡΠ²ΠΎΡΠΈΡΠΈ Π΄Π²Ρ ΠΏΡΡΠΊΠΎΠ²Ρ Π»ΡΠ½ΡΡ: ΠΎΠ΄Π½Ρ Π΄Π»Ρ Π΄ΠΎΡΠ»ΡΠ΄ΠΆΠ΅Π½Ρ Π· ΡΠ½ΡΠ΅Π½ΡΠΈΠ²Π½ΠΈΠΌΠΈ ΠΏΡΡΠΊΠ°ΠΌΠΈ Π΅Π»Π΅ΠΊΡΡΠΎΠ½ΡΠ² Ρ ΡΠΎΡΠΎΠ½ΡΠ², Ρ ΡΠΎΠΌΡ ΡΠΈΡΠ»Ρ Π»ΡΠ½ΡΠΉΠ½ΠΎ ΠΏΠΎΠ»ΡΡΠΈΠ·ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡ
, Π° ΡΠ½ΡΡ β Π΄Π»Ρ Π΄ΠΎΡΠ»ΡΠ΄ΠΆΠ΅Π½Ρ Π· ΠΏΡΡΠΊΠ°ΠΌΠΈ Π΅Π»Π΅ΠΊΡΡΠΎΠ½ΡΠ² Ρ ΠΏΠΎΠ·ΠΈΡΡΠΎΠ½ΡΠ² Π½ΠΈΠ·ΡΠΊΠΎΡ ΡΠ½ΡΠ΅Π½ΡΠΈΠ²Π½ΠΎΡΡΡ. Π Π΅Π°Π»ΡΠ·Π°ΡΡΡ ΠΏΡΠΎΠ΅ΠΊΡΡ Π²ΡΠ΄ΠΊΡΠΈΡ ΠΌΠΎΠΆΠ»ΠΈΠ²ΠΎΡΡΡ Π΄Π»Ρ Π²ΠΈΠΊΠΎΠ½Π°Π½Π½Ρ Π΄ΠΎΡΠ»ΡΠ΄Π½ΠΈΡΡΠΊΠΈΡ
ΠΏΡΠΎΠ³ΡΠ°ΠΌ Π² ΠΎΠ±Π»Π°ΡΡΡ Π²Π·Π°ΡΠΌΠΎΠ΄ΡΡ Π²ΠΈΠΏΡΠΎΠΌΡΠ½ΡΠ²Π°Π½Π½Ρ Π· Π°ΠΌΠΎΡΡΠ½ΠΎΡ ΡΠ΅ΡΠΎΠ²ΠΈΠ½ΠΎΡ Ρ ΠΊΡΠΈΡΡΠ°Π»Π°ΠΌΠΈ, Π² Π³Π°Π»ΡΠ·Ρ ΡΠ΄Π΅ΡΠ½ΠΎΡ ΡΡΠ·ΠΈΠΊΠΈ Ρ Π°ΡΡΡΠΎΡΡΠ·ΠΈΠΊΠΈ, Π° ΡΠ°ΠΊΠΎΠΆ ΠΏΡΠΈΠΊΠ»Π°Π΄Π½ΠΈΡ
Π΄ΠΎΡΠ»ΡΠ΄ΠΆΠ΅Π½Ρ.ΠΠ±ΡΡΠΆΠ΄Π°Π΅ΡΡΡ Π²ΠΎΠ·ΠΌΠΎΠΆΠ½ΠΎΡΡΡ ΡΠΎΠ·Π΄Π°Π½ΠΈΡ ΡΠΊΡΠΏΠ΅ΡΠΈΠΌΠ΅Π½ΡΠ°Π»ΡΠ½ΠΎΠΉ ΡΡΡΠ°Π½ΠΎΠ²ΠΊΠΈ Π² Π·Π΄Π°Π½ΠΈΠΈ β3 ΠΠ€ΠΠΠ―Π€ ΠΠΠ¦ Π₯Π€Π’Π (ΡΡΠΊΠΎΡΠΈΡΠ΅Π»ΡΠ½ΡΠΉ ΠΊΠΎΠΌΠΏΠ»Π΅ΠΊΡ ΠΠ£Π-300) Π½Π° ΠΎΡΠ½ΠΎΠ²Π΅ ΠΈΠΌΠ΅ΡΡΠ΅Π³ΠΎΡΡ ΡΡΠΊΠΎΡΠΈΡΠ΅Π»Ρ ΡΠ»Π΅ΠΊΡΡΠΎΠ½ΠΎΠ² ΠΠ£Π-60 ΠΈ ΡΡΡΠ΅ΡΡΠ²ΡΡΡΠ΅ΠΉ ΡΠΊΡΠΏΠ΅ΡΠΈΠΌΠ΅Π½ΡΠ°Π»ΡΠ½ΠΎΠΉ ΠΈΠ½ΡΡΠ°ΡΡΡΡΠΊΡΡΡΡ. ΠΠ»Π°Π½ΠΈΡΡΠ΅ΡΡΡ ΡΠ²Π΅Π»ΠΈΡΠΈΡΡ ΡΠ½Π΅ΡΠ³ΠΈΡ ΡΠ»Π΅ΠΊΡΡΠΎΠ½Π½ΠΎΠ³ΠΎ ΠΏΡΡΠΊΠ° Π΄ΠΎ 100 ΠΡΠ ΠΈ ΡΠΎΠ·Π΄Π°ΡΡ Π΄Π²Π΅ ΠΏΡΡΠΊΠΎΠ²ΡΠ΅ Π»ΠΈΠ½ΠΈΠΈ: ΠΎΠ΄Π½Ρ Π΄Π»Ρ ΠΈΡΡΠ»Π΅Π΄ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠΉ Ρ ΠΈΠ½ΡΠ΅Π½ΡΠΈΠ²Π½ΡΠΌΠΈ ΠΏΡΡΠΊΠ°ΠΌΠΈ ΡΠ»Π΅ΠΊΡΡΠΎΠ½ΠΎΠ² ΠΈ ΡΠΎΡΠΎΠ½ΠΎΠ², Π² ΡΠΎΠΌ ΡΠΈΡΠ»Π΅ Π»ΠΈΠ½Π΅ΠΉΠ½ΠΎ ΠΏΠΎΠ»ΡΡΠΈΠ·ΠΎΠ²Π°Π½Π½ΡΡ
, Π° Π΄ΡΡΠ³ΡΡ β Π΄Π»Ρ ΠΈΡΡΠ»Π΅Π΄ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠΉ Ρ ΠΏΡΡΠΊΠ°ΠΌΠΈ ΡΠ»Π΅ΠΊΡΡΠΎΠ½ΠΎΠ² ΠΈ ΠΏΠΎΠ·ΠΈΡΡΠΎΠ½ΠΎΠ² Π½ΠΈΠ·ΠΊΠΎΠΉ ΠΈΠ½ΡΠ΅Π½ΡΠΈΠ²Π½ΠΎΡΡΠΈ. Π Π΅Π°Π»ΠΈΠ·Π°ΡΠΈΡ ΠΏΡΠΎΠ΅ΠΊΡΠ° ΠΎΡΠΊΡΠΎΠ΅Ρ Π²ΠΎΠ·ΠΌΠΎΠΆΠ½ΠΎΡΡΠΈ Π΄Π»Ρ Π²ΡΠΏΠΎΠ»Π½Π΅Π½ΠΈΡ ΠΈΡΡΠ»Π΅Π΄ΠΎΠ²Π°ΡΠ΅Π»ΡΡΠΊΠΈΡ
ΠΏΡΠΎΠ³ΡΠ°ΠΌΠΌ Π² ΠΎΠ±Π»Π°ΡΡΠΈ Π²Π·Π°ΠΈΠΌΠΎΠ΄Π΅ΠΉΡΡΠ²ΠΈΡ ΠΈΠ·Π»ΡΡΠ΅Π½ΠΈΡ Ρ Π°ΠΌΠΎΡΡΠ½ΡΠΌ Π²Π΅ΡΠ΅ΡΡΠ²ΠΎΠΌ ΠΈ ΠΊΡΠΈΡΡΠ°Π»Π»Π°ΠΌΠΈ, Π² ΠΎΠ±Π»Π°ΡΡΠΈ ΡΠ΄Π΅ΡΠ½ΠΎΠΉ ΡΠΈΠ·ΠΈΠΊΠΈ ΠΈ Π°ΡΡΡΠΎΡΠΈΠ·ΠΈΠΊΠΈ, Π° ΡΠ°ΠΊΠΆΠ΅ ΠΏΡΠΈΠΊΠ»Π°Π΄Π½ΡΡ
ΠΈΡΡΠ»Π΅Π΄ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠΉ