7 research outputs found
Онлайн-система ідентифікації рослин за фотозображеннями
Разработана информационная онлайн-система идентификации растений по их фотоснимкам. Математическую основу составили алгоритмы нахождения ключевых точек, такие как SURF, SIFT и FREAK, модель BOVW и метод опорных векторов. Осуществлена апробация разработанной программы и проведен сравнительный анализ алгоритмов.An online information system for identifying plants by their photographs has been developed. The mathematical basis was formed by algorithms for finding key points, such as SURF, SIFT and FREAK, the BOVW model and Support Vector Machine algorithm. The developed program was tested and a comparative analysis of the algorithms was carried out.В умовах постійної взаємодії із зовнішнім світом і живою природою в житті людини постає проблема швидкої та точної ідентифікації рослин, оскільки рослини відіграють значну роль не тільки у сільськогосподарській галузі, але й також у паливно-енергетичному комплексі, медицині, екології, інтер’єрі, вивченні навколишнього світу тощо. У цій роботі запропоновано інформаційну онлайн-систему ідентифікації рослин за їх фотознімками. Розробку програмного забезпечення здійснено у вигляді клієнт-серверної архітектури із застосуванням сучасних технологій (мови С#, TypeScript, HTML, CSS, фреймворки ASP.NET MVC, ASP.NET WebApi, Angular), потужних алгоритмів розпізнавання зображень та машинного навчання. Математичну основу склали алгоритми знаходження ключових точок, такі як SURF, SIFT та FREAK, модель BOVW (Bag-Of-Visual-Words) і метод опорних векторів. Система має простий, лаконічний та зрозумілий інтерфейс, адаптивну верстку, забезпечує зручну взаємодію з користувачем з будь-якого пристрою за наявності доступу до мережі Інтернет, можливості легкого розширення бібліотеки зображень. Здійснено апробацію розробленої програми на різних наборах даних (фотографії листя дерев та квітів, у тому числі зроблених на мобільний телефон, що є найбільш типовим сценарієм взаємодії користувача із системою) та проведено порівняльний аналіз зазначених алгоритмів (досліджувався вплив кількості даних, слів у моделі BOVW, зашумленості та строкатості фону, типу ядрової функції у методі головних компонент, інваріантність до повороту та масштабу тощо). Навіть на досить малих за обсягом наборах даних для навчання система демонструє непогану якість розпізнавання
Recommended from our members
Surface slope metrology of highly curved x-ray optics with an interferometric microscope
The development of deterministic polishing techniques has given rise to vendors that manufacture high quality threedimensional x-ray optics. The surface metrology on these optics remains a difficult task. For the fabrication, vendors usually use unique surface metrology tools, generally developed on site, that are not available in the optical metrology labs at x-ray facilities. At the Advanced Light Source X-Ray Optics Laboratory, we have developed a rather straightforward interferometric-microscopy-based procedure capable of sub microradian characterization of sagittal slope variation of x-ray optics for two-dimensionally focusing and collimating (such as ellipsoids, paraboloids, etc.). In the paper, we provide the mathematical foundation of the procedure and describe the related instrument calibration. We also present analytical expression describing the ideal surface shape in the sagittal direction of a spheroid specified by the conjugate parameters of the optic's beamline application. The expression is useful when analyzing data obtained with such optics. The high efficiency of the developed measurement and data analysis procedures is demonstrated in results of measurements with a number of x-ray optics with sagittal radius of curvature between 56 mm and 480 mm. We also discuss potential areas of further improvement