FILM COATING ONTO COHESIVE FINE PARTICLES BY A NOVEL ROTATING FLUIDIZED BED COATER

In this study, film coating onto cohesive fine particles was conducted by using a novel rotating fluidized bed coater (RFBC). In order to avoid the formation of agglomeration, baffle plates were equipped inside the RFBC. Coating experiments were conducted under various operating conditions and the coated particles were evaluated based on their physical properties. As a result, coated particles having extremely small degree of agglomeration and favorable prolonged release property of a tracer material could be obtained

内因性免疫による頭頸部ウイルス発癌における内分泌撹乱物質の関与と新規治療法の開発

内因性免疫とは、宿主へのウイルス感染に対して細胞自身が有する原始的免疫防御機構である。近年、「内因性免疫」はウイルス遺伝子のみならず宿主遺伝子にも変異を導入し発癌を促進する事が判明した。本研究では、このユニークな性質を持つ「内因性免疫」に着目し、1)ヒト乳頭腫ウイルス(HPV)による中咽頭癌発癌とEpstein-Barrウイルス(EBV)による上咽頭癌発癌を対比し解析する事で「内因性免疫」による頭頸部ウイルス発癌機構を解明すること、2)「内因性免疫」のregulatorであるエストロゲンとエストロゲン類似物質である内分泌撹乱物質による「内因性免疫」発現調節機構について解析し、ウイルス発癌に特異的な治療法を開発することを目的とする。本年度までに、中咽頭癌・上咽頭癌組織における性ホルモン受容体と内因性免疫の免疫組織学的解析およびmRNA発現解 析を行った。パイロットスタディの通り、HPV陽性中咽頭癌ではエストロゲン受容体の発現が強い傾向があった。またEBV陰性の上咽頭癌ではエストロゲン受容体が強く発現する傾向があった。又、内因性免疫因子の発現を免疫組織化学的に解析を行った。上咽頭癌においても中咽頭癌においてAPOBEC3A. APOBEC3G, AIDの発現がウィルス陽性であると強い傾向があることがわかった。また、宿主遺伝子、ウィルス遺伝子中の遺伝子変異量を3D-PCRおよびシークエンスにて解析を行ったが、いくつかの宿主遺伝子およびHPV遺伝子のE2領域、EBV遺伝子のLMP1領域で内因性免疫に特異的な遺伝子変異が検出された。そして、これらの事象を細胞株レベルでも、臨床検体から得られた知見と同様の結果が得られることが判明した。これらの結果をもとに免疫不全マウスモデルを作成し、エストロゲンの効果によってこれらの癌細胞に効果があるのかを検討中である。研究課題/領域番号:16H05480, 研究期間(年度):2016-04-01 - 2020-03-31出典：「内因性免疫による頭頸部ウイルス発癌における内分泌撹乱物質の関与と新規治療法の開発」研究成果報告書　課題番号16H05480（KAKEN：科学研究費助成事業データベース（国立情報学研究所）） （https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-16H05480/）を加工して作

上咽頭癌患者における血清EBV DNA定量とウィルスカプシド抗原に対する抗体の診断的価値

取得学位 : 博士（医学）, 学位授与番号 : 医博甲第1716号 , 学位授与年月日 : 平成17年9月30日, 学位授与大学 : 金沢大

Dual-comb spectroscopy for rapid characterization of complex optical properties of solids

We demonstrate rapid characterization of complex optical properties of solids via dual-comb spectroscopy (DCS) in the near-infrared region. The fine spectral structures in the complex refractive index of an Er:YAG are successfully deduced using the developed system and Fourier analysis. Moreover, simultaneous determination of the refractive index and the thickness is demonstrated for a silicon semiconductor wafer through the use of multireflected echo signals. The results indicate the potential of DCS as a powerful measurement tool for the rapid and full characterization of solid materials