3 research outputs found

    Tunable high-finesse narrow bandpass Fabry – Perot filter

    No full text
    This paper discusses the results of the analysis and experimental characterization of a narrow bandpass optical filter based on the Fabry – Perot interferometer configuration with a variable spacing between the mirrors allowing for a relatively wide spectral tunability. Such a filter, with a high-throughput bandpass and sufficiently large aperture and acceptance angle, is of practical interest for a highresolution spectrometry and remote sensing in the visible and infrared spectral regions. The Fabry – Perot filter (FPF) can be designed in a compact single-assembly architecture that can be accommodated within existing instruments and should provide a stable performance under variable thermal and mechanical conditions, including space and airborne platforms. Possible applications of the filter include high-resolution multispectral imaging, terrain mapping, atmosphere and surface parameters measurements, and detection of chemical and biological agents

    Hydrogen reduction of silicon tetrachloride in low temperature non-equilibrium plasma of induction RF discharge

    Get PDF
    In this work, silicon is obtained by plasma-chemical reduction of silicon tetrachloride in an argon-hydrogen low- temperature nonequilibrium plasma. It is shown that in the investigated range of process parameters, the energy cost of producing one kilogram of silicon is in the range of 150…190 kW/h with a silicon yield of ~ 85 %. This cost reduction in the plasma-chemical process is associated with the transfer of electricity directly into the gas-vapor mixture. In addition, carrying out the recovery process under nonequilibrium conditions leads to the formation of atomic hydrogen in the discharge.ΠžΡ‚Ρ€ΠΈΠΌΠ°Π½ΠΎ ΠΊΡ€Π΅ΠΌΠ½Ρ–ΠΉ ΡˆΠ»ΡΡ…ΠΎΠΌ ΠΏΠ»Π°Π·ΠΌΠΎΡ…Ρ–ΠΌΡ–Ρ‡Π½ΠΎΠ³ΠΎ відновлСння Ρ‚Π΅Ρ‚Ρ€Π°Ρ…Π»ΠΎΡ€ΠΈΠ΄Ρƒ ΠΊΡ€Π΅ΠΌΠ½Ρ–ΡŽ Π² Π°Ρ€Π³ΠΎΠ½-Π²ΠΎΠ΄Π½Π΅Π²Ρ–ΠΉ Π½ΠΈΠ·ΡŒΠΊΠΎΡ‚Π΅ΠΌΠΏΠ΅Ρ€Π°Ρ‚ΡƒΡ€Π½Ρ–ΠΉ Π½Π΅Ρ€Ρ–Π²Π½ΠΎΠ²Π°ΠΆΠ½Ρ–ΠΉ ΠΏΠ»Π°Π·ΠΌΡ–. Показано, Ρ‰ΠΎ Π² дослідТСному Π΄ΠΈΠ°ΠΏΠ°Π·ΠΎΠ½Ρ– ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€Ρ–Π² процСсу Π΅Π½Π΅Ρ€Π³Π΅Ρ‚ΠΈΡ‡Π½Ρ– Π²ΠΈΡ‚Ρ€Π°Ρ‚ΠΈ Π½Π° отримання ΠΎΠ΄Π½ΠΎΠ³ΠΎ ΠΊΡ–Π»ΠΎΠ³Ρ€Π°ΠΌΠ° ΠΊΡ€Π΅ΠΌΠ½Ρ–ΡŽ Π·Π½Π°Ρ…ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ΡŒΡΡ Π² ΠΌΠ΅ΠΆΠ°Ρ… 150…190 ΠΊΠ’Ρ‚/Ρ‡ ΠΏΡ€ΠΈ Π²ΠΈΡ…ΠΎΠ΄Ρ– ΠΊΡ€Π΅ΠΌΠ½Ρ–ΡŽ ~ 85 %. Π’Π°ΠΊΠ΅ зниТСння Π²ΠΈΡ‚Ρ€Π°Ρ‚ Ρƒ ΠΏΠ»Π°Π·ΠΌΠΎΡ…Ρ–ΠΌΡ–Ρ‡Π½ΠΎΠΌΡƒ процСсі ΠΏΠΎΠ²'язанС Π· ввСдСнням Π΅Π»Π΅ΠΊΡ‚Ρ€ΠΎΠ΅Π½Π΅Ρ€Π³Ρ–Ρ— Π±Π΅Π·ΠΏΠΎΡΠ΅Ρ€Π΅Π΄Π½ΡŒΠΎ Π² ΠΏΠ°Ρ€ΠΎΠ³Π°Π·ΠΎΠ²Ρƒ ΡΡƒΠΌΡ–Ρˆ. ΠšΡ€Ρ–ΠΌ Ρ‚ΠΎΠ³ΠΎ, провСдСння процСсу відновлСння Π² Π½Π΅Ρ€Ρ–Π²Π½ΠΎΠ²Π°ΠΆΠ½ΠΈΡ… ΡƒΠΌΠΎΠ²Π°Ρ… ΠΏΡ€ΠΈΠ·Π²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ΡŒ Π΄ΠΎ утворСння Π² розряді Π°Ρ‚ΠΎΠΌΠ°Ρ€Π½ΠΎΠ³ΠΎ водню.ΠŸΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π΅Π½ ΠΊΡ€Π΅ΠΌΠ½ΠΈΠΉ ΠΏΡƒΡ‚Π΅ΠΌ плазмохимичСского восстановлСния Ρ‚Π΅Ρ‚Ρ€Π°Ρ…Π»ΠΎΡ€ΠΈΠ΄Π° крСмния Π² Π°Ρ€Π³ΠΎΠ½-Π²ΠΎΠ΄ΠΎΡ€ΠΎΠ΄Π½ΠΎΠΉ Π½ΠΈΠ·ΠΊΠΎΡ‚Π΅ΠΌΠΏΠ΅Ρ€Π°Ρ‚ΡƒΡ€Π½ΠΎΠΉ нСравновСсной ΠΏΠ»Π°Π·ΠΌΠ΅. Показано, Ρ‡Ρ‚ΠΎ Π² исслСдуСмом Π΄ΠΈΠ°ΠΏΠ°Π·ΠΎΠ½Π΅ ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ² процСсса энСргСтичСскиС Π·Π°Ρ‚Ρ€Π°Ρ‚Ρ‹ Π½Π° ΠΏΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π΅Π½ΠΈΠ΅ ΠΎΠ΄Π½ΠΎΠ³ΠΎ ΠΊΠΈΠ»ΠΎΠ³Ρ€Π°ΠΌΠΌΠ° крСмния находятся Π² ΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π°Ρ… 150…190 ΠΊΠ’Ρ‚/Ρ‡ ΠΏΡ€ΠΈ Π²Ρ‹Ρ…ΠΎΠ΄Π΅ крСмния ~ 85 %. Π’Π°ΠΊΠΎΠ΅ сниТСниС Π·Π°Ρ‚Ρ€Π°Ρ‚ Π² плазмохимичСском процСссС связано с Π²Π²Π΅Π΄Π΅Π½ΠΈΠ΅ΠΌ элСктроэнСргии нСпосрСдствСнно Π² ΠΏΠ°Ρ€ΠΎΠ³Π°Π·ΠΎΠ²ΡƒΡŽ смСсь. ΠšΡ€ΠΎΠΌΠ΅ Ρ‚ΠΎΠ³ΠΎ, ΠΏΡ€ΠΎΠ²Π΅Π΄Π΅Π½ΠΈΠ΅ процСсса восстановлСния Π² нСравновСсных условиях ΠΏΡ€ΠΈΠ²ΠΎΠ΄ΠΈΡ‚ ΠΊ ΠΎΠ±Ρ€Π°Π·ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΡŽ Π² разрядС Π°Ρ‚ΠΎΠΌΠ°Ρ€Π½ΠΎΠ³ΠΎ Π²ΠΎΠ΄ΠΎΡ€ΠΎΠ΄Π°

    Obtaining silicon carbide via chemical vapor, plasma-chemical and sublimation methods

    No full text
    In the present paper the results of studies on obtaining silicon carbide via chemical gas phase, plasma-chemical and sublimation methods are described. The thermodynamic analysis of chemical reactions of silicon carbide in the presence of hydrogen and without was provided. Was found that, without free hydrogen reaction of silicon carbide formation can’t proceed. Established depending on ratio between the various active components of the gas phase SiClβ‚„:C₇Hβ‚ˆ, entering the reactor, morphology of SiC layer. Was shown that, with increasing temperature of the substrate deposition rate increases, reaching a maximum temperature about ~ 1800 K with a steep decreasing at higher temperatures ranges, which is typical of a homogeneous reaction. From source (NbTa)SiC, received via chemical CVD, obtained films of SiC with sublimation method.ΠŸΡ€Π΅Π΄ΡΡ‚Π°Π²Π»Π΅Π½Ρ‹ Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚Ρ‹ исслСдований ΠΏΠΎ ΠΏΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π΅Π½ΠΈΡŽ ΠΊΠ°Ρ€Π±ΠΈΠ΄Π° крСмния химичСским Π³Π°Π·ΠΎΡ„Π°Π·Π½Ρ‹ΠΌ, плазмохимичСским ΠΈ сублимационным ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Π°ΠΌΠΈ. ΠŸΡ€ΠΎΠ²Π΅Π΄Π΅Π½ тСрмодинамичСский Π°Π½Π°Π»ΠΈΠ· химичСских Ρ€Π΅Π°ΠΊΡ†ΠΈΠΉ получСния ΠΊΠ°Ρ€Π±ΠΈΠ΄Π° крСмния Π² присутствии Π²ΠΎΠ΄ΠΎΡ€ΠΎΠ΄Π° ΠΈ Π±Π΅Π· Π½Π΅Π³ΠΎ. УстановлСно, Ρ‡Ρ‚ΠΎ Π±Π΅Π· свободного Π²ΠΎΠ΄ΠΎΡ€ΠΎΠ΄Π° рСакция образования ΠΊΠ°Ρ€Π±ΠΈΠ΄Π° крСмния ΠΏΡ€ΠΎΡ‚Π΅ΠΊΠ°Ρ‚ΡŒ Π½Π΅ ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚. Π’ зависимости ΠΎΡ‚ Ρ€Π°Π·Π»ΠΈΡ‡Π½ΠΎΠ³ΠΎ ΡΠΎΠΎΡ‚Π½ΠΎΡˆΠ΅Π½ΠΈΡ ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄Ρƒ Π°ΠΊΡ‚ΠΈΠ²Π½Ρ‹ΠΌΠΈ ΠΊΠΎΠΌΠΏΠΎΠ½Π΅Π½Ρ‚Π°ΠΌΠΈ Π³Π°Π·ΠΎΠ²ΠΎΠΉ Ρ„Π°Π·Ρ‹ SiClβ‚„:C₇Hβ‚ˆ, ΠΏΠΎΡΡ‚ΡƒΠΏΠ°ΡŽΡ‰ΠΈΠΌΠΈ Π² Ρ€Π΅Π°ΠΊΡ‚ΠΎΡ€, ΠΈΠ·ΡƒΡ‡Π΅Π½Π° морфология SiC-слоя. ИсслСдована ΠΊΠΈΠ½Π΅Ρ‚ΠΈΠΊΠ° процСсса осаТдСния SiC. Показано, Ρ‡Ρ‚ΠΎ с ΡƒΠ²Π΅Π»ΠΈΡ‡Π΅Π½ΠΈΠ΅ΠΌ Ρ‚Π΅ΠΌΠΏΠ΅Ρ€Π°Ρ‚ΡƒΡ€Ρ‹ ΠΏΠΎΠ΄Π»ΠΎΠΆΠΊΠΈ ΡΠΊΠΎΡ€ΠΎΡΡ‚ΡŒ осаТдСния возрастаСт, достигая максимума ΠΏΡ€ΠΈ Ρ‚Π΅ΠΌΠΏΠ΅Ρ€Π°Ρ‚ΡƒΡ€Π΅ ~ 1800 K с Ρ€Π΅Π·ΠΊΠΈΠΌ сниТСниСм Π² области Π±ΠΎΠ»Π΅Π΅ высоких Ρ‚Π΅ΠΌΠΏΠ΅Ρ€Π°Ρ‚ΡƒΡ€, Ρ‡Ρ‚ΠΎ Ρ…Π°Ρ€Π°ΠΊΡ‚Π΅Ρ€Π½ΠΎ для Π³ΠΎΠΌΠΎΠ³Π΅Π½Π½ΠΎΠΉ Ρ€Π΅Π°ΠΊΡ†ΠΈΠΈ. Из ΠΏΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π΅Π½Π½ΠΎΠ³ΠΎ химичСским Π³Π°Π·ΠΎΡ„Π°Π·Π½Ρ‹ΠΌ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ΠΎΠΌ источника (NbTa)SiC сублимационным ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ΠΎΠΌ ΠΏΠΎΠ»ΡƒΡ‡Π΅Π½Ρ‹ ΠΏΠ»Ρ‘Π½ΠΊΠΈ SiC.ΠŸΡ€Π΅Π΄ΡΡ‚Π°Π²Π»Π΅Π½ΠΎ Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚ΠΈ Π΄ΠΎΡΠ»Ρ–Π΄ΠΆΠ΅Π½ΡŒ ΠΏΠΎ ΠΎΡ‚Ρ€ΠΈΠΌΠ°Π½Π½ΡŽ ΠΊΠ°Ρ€Π±Ρ–Π΄Ρƒ ΠΊΡ€Π΅ΠΌΠ½Ρ–ΡŽ Ρ…Ρ–ΠΌΡ–Ρ‡Π½ΠΈΠΌ Π³Π°Π·ΠΎΡ„Π°Π·Π½ΠΈΠΌ, ΠΏΠ»Π°Π·ΠΌΠΎΡ…Ρ–ΠΌΡ–Ρ‡Π½ΠΈΠΌ Ρ– сублімаційним ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄Π°ΠΌΠΈ. ΠŸΡ€ΠΎΠ²Π΅Π΄Π΅Π½ΠΎ Ρ‚Π΅Ρ€ΠΌΠΎΠ΄ΠΈΠ½Π°ΠΌΡ–Ρ‡Π½ΠΈΠΉ Π°Π½Π°Π»Ρ–Π· Ρ…Ρ–ΠΌΡ–Ρ‡Π½ΠΈΡ… Ρ€Π΅Π°ΠΊΡ†Ρ–ΠΉ отримання ΠΊΠ°Ρ€Π±Ρ–Π΄Ρƒ ΠΊΡ€Π΅ΠΌΠ½Ρ–ΡŽ Π² присутності водню Ρ– Π±Π΅Π· нього. ВстановлСно, Ρ‰ΠΎ Π±Π΅Π· Π²Ρ–Π»ΡŒΠ½ΠΎΠ³ΠΎ водню рСакція утворСння ΠΊΠ°Ρ€Π±Ρ–Π΄Ρƒ ΠΊΡ€Π΅ΠΌΠ½Ρ–ΡŽ ΠΏΡ€ΠΎΡ‚Ρ–ΠΊΠ°Ρ‚ΠΈ Π½Π΅ ΠΌΠΎΠΆΠ΅. Π—Π°Π»Π΅ΠΆΠ½ΠΎ Π²Ρ–Π΄ Ρ€Ρ–Π·Π½ΠΎΠ³ΠΎ ΡΠΏΡ–Π²Π²Ρ–Π΄Π½ΠΎΡˆΠ΅Π½Π½Ρ ΠΌΡ–ΠΆ Π°ΠΊΡ‚ΠΈΠ²Π½ΠΈΠΌΠΈ ΠΊΠΎΠΌΠΏΠΎΠ½Π΅Π½Ρ‚Π°ΠΌΠΈ Π³Π°Π·ΠΎΠ²ΠΎΡ— Ρ„Π°Π·ΠΈ SiClβ‚„:C₇Hβ‚ˆ, які Π½Π°Π΄Ρ…ΠΎΠ΄ΡΡ‚ΡŒ Π² Ρ€Π΅Π°ΠΊΡ‚ΠΎΡ€, Π²ΠΈΠ²Ρ‡Π΅Π½Π° морфологія SiC-ΡˆΠ°Ρ€Ρƒ. ДослідТСно ΠΊΡ–Π½Π΅Ρ‚ΠΈΠΊΡƒ процСсу осадТСння SiC. Показано, Ρ‰ΠΎ Π·Ρ– Π·Π±Ρ–Π»ΡŒΡˆΠ΅Π½Π½ΡΠΌ Ρ‚Π΅ΠΌΠΏΠ΅Ρ€Π°Ρ‚ΡƒΡ€ΠΈ ΠΏΡ–Π΄ΠΊΠ»Π°Π΄ΠΊΠΈ ΡˆΠ²ΠΈΠ΄ΠΊΡ–ΡΡ‚ΡŒ осадТСння зростає, Π΄ΠΎΡΡΠ³Π°ΡŽΡ‡ΠΈ максимуму ΠΏΡ€ΠΈ Ρ‚Π΅ΠΌΠΏΠ΅Ρ€Π°Ρ‚ΡƒΡ€Ρ– ~ 1800 K Π· Ρ€Ρ–Π·ΠΊΠΈΠΌ зниТСнням Π² області Π±Ρ–Π»ΡŒΡˆ високих Ρ‚Π΅ΠΌΠΏΠ΅Ρ€Π°Ρ‚ΡƒΡ€, Ρ‰ΠΎ Ρ…Π°Ρ€Π°ΠΊΡ‚Π΅Ρ€Π½ΠΎ для Π³ΠΎΠΌΠΎΠ³Π΅Π½Π½ΠΎΡ— Ρ€Π΅Π°ΠΊΡ†Ρ–Ρ—. Π— ΠΎΡ‚Ρ€ΠΈΠΌΠ°Π½ΠΎΠ³ΠΎ Ρ…Ρ–ΠΌΡ–Ρ‡Π½ΠΈΠΌ Π³Π°Π·ΠΎΡ„Π°Π·Π½ΠΈΠΌ ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ΠΎΠΌ Π΄ΠΆΠ΅Ρ€Π΅Π»Π° (NbTa)SiC сублімаційним ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΠ΄ΠΎΠΌ ΠΎΡ‚Ρ€ΠΈΠΌΠ°Π½ΠΎ ΠΏΠ»Ρ–Π²ΠΊΠΈ SiC
    corecore