Calcul de propriétés thermodynamiques et des coefficients de transport dans un plasma Ar-O2 en non-équilibre thermodynamique et à la pression atmosphérique

s. — For a thermal non-equilibrium Ar-O2 plasma, we compute the numerical densities by a statistical method. Our formalism of transport coefficients, for these kind of plasmas, uses the classical collision integrals. Therefore the collision integrals are determined from selected interaction potentials or from transfer cross-sections (charge and momentum). The transport properties (viscosity, electrical and thermal conductivity) are calculated : — for five values of the O2/(O2 + Ar) ratio, from pure oxygen to pure argon plasma, — for T e (Te is the electronic temperature) varying from 2 000 K to 15 000 K by step of 100 K, — for five values of θ = Te/Th (Th is the heavy particle temperature), θ = 1 (equilibrium), 1.5, 2, 3 and 4. — for the atmospheric pressure. At last, our results are compared to those of the literature.La composition du plasma thermique hors équilibre thermodynamique est calculée par une méthode statistique que nous avons appliqué aux plasmas de mélange argon-oxygène. Notre formalisme de calcul des coefficients de transport, pour ces plasmas, utilisent la définition classique des intégrales de collision. Pour leurs déterminations, nous avons donc sélectionné dans la littérature les potentiels d'interaction ou les sections efficaces de transfert (moment et charge) nécessaires. Les propriétés de transport (viscosité, conductivité électrique et conductibilité thermique) sont calculées : — pour cinq valeurs du rapport O2/(O2 + Ar) de l'oxygène pur à l'argon pur, — pour T e (température électronique) évoluant de 2 000 K à 15 000 K, — pour cinq valeurs du rapport θ = Te/Th (Th température des particules lourdes) : θ = 1 (équilibre), 1,5,2, 3 et 4, — pour la pression atmosphérique. Finalement, nos résultats sont comparés avec ceux de la littérature

Le nitrure d'aluminium : de la poudre au substrat

The aluminium nitride is a material which should replace alumina or beryllia as substrate for power electronic applications. The powder, prepared by carbothermal nitridation, is dispersed in a butanone-2-ethanol azeotrop solvent with a phosphate ester. Electrical conductivity, sedimentation, viscosity have been used to determine which phenomena take place in the defloculation of the suspension. The stability of AlN suspensions is due mainly to an electrostatic mechanism, with a steric contribution. The aluminium nitride tape-casting slip has been sintered at 1 850 °C in a nitrogen atmosphere. Removing of the binder and plasticizer can be performed in the same oven at 650 °C, due to their nature and low concentration. The thermal conductivity of the substrates has been measured and is in the 160 to 200 W/m.K range.Le nitrure d'aluminium est le matériau appelé à remplacer l'alumine ou l'oxyde de béryllium en tant que substrat dans les circuits de puissance en microélectronique. La poudre utilisée préparée par carbonitruration a été mise en suspension dans le milieu azéotropique butanone-2-éthanol en présence d'un ester phosphorique. Conductivité, sédimentation, viscosité ont permis d'appréhender les phénomènes qui permettent de défloculer la suspension. La stabilité est assurée par un mécanisme électrostatique ayant une contribution stérique. Le nitrure est coulé en bande puis fritté à 1 850 °C sous azote. La qualité et la faible teneur du liant permettent de l'éliminer dans le même four à 650 °C. Les conductivités thermiques des substrats sont comprises entre 160 et 200 W/m.K

HIGH RESOLUTION MULTICHANNEL XUV SPECTROMETER WITH A 3-PICOSECOND TIME-RESOLUTION FOR LASER-PRODUCED PLASMAS DIAGNOSTICS

Nous décrivons la réalisation d'un nouveau spectrographe XUV à résolution temporelle dont les performances espérées sont une résolution spectrale de 0.1 Å et temporelle de 3 ps . Cet instrument est constitué d'un spectromètre Schwob-Fraenkel modifié, couplé à une nouvelle caméra électronique à balayage de fente ultra-rapide.A new XUV spectrometer designed to have a time-resolution of 3 ps and a spectral resolution of 0.1 Å is described. It is basically a modified version of a Schwob-Fraenkel spectrometer, which is coupled to a new ultrafast electronic streak camera

REVIEW OF X-RAY LASER RESEARCH AT CEL-V

International audienc