Méthode de détermination des propriétés optiques de couches minces et application à la réalisation de couches de germanium à indices optiques indépendants de l'épaisseur

Nous décrivons une méthode de fabrication de couches minces de germanium dont les indices optiques n et k ne varient pas avec l'épaisseur. Les indices n et k sont déterminés à l'aide de mesures optiques effectuées dans le vide même qui a servi à préparer les lames. Si les couches minces sont obtenues par empilement régulier de couches d'épaisseurs égales et si les paramètres d'évaporation sont maintenus constants, les résultats de nos expériences nous permettent de considérer les couches fabriquées comme homogènes, limitées par deux faces planes et parallèles, caractérisées par des épaisseurs optiques d indépendantes de la longueur d'onde et par des indices optiques indépendants de l'épaisseur

Dépôts de carbone amorphe hydrogènés et deutérés par polymérisation plasma pour la fusion par confinement inertiel

DIJON-BU Sciences Economie (212312102) / SudocSudocFranceF

Méthode de détermination des propriétés optiques de couches minces et application à la réalisation de couches de germanium à indices optiques indépendants de l'épaisseur

This paper describes a method of producing thin films of germanium whose optical constants n and k do not vary with the thickness. The constants n and k are determined with help of optical techniques in the same vacuum which is used in preparing the films. If the thin films are made by a regular piling up of layers of equal thickness and if the evaporation parameters are held constant, the results of our measurements enables us to consider the films produced as homogeneous, limited by two parallel planes, characterized by an optical thickness d which does not depend on wavelength, and by optical constants which are inde-pendant of the thickness.Nous décrivons une méthode de fabrication de couches minces de germanium dont les indices optiques n et k ne varient pas avec l'épaisseur. Les indices n et k sont déterminés à l'aide de mesures optiques effectuées dans le vide même qui a servi à préparer les lames. Si les couches minces sont obtenues par empilement régulier de couches d'épaisseurs égales et si les paramètres d'évaporation sont maintenus constants, les résultats de nos expériences nous permettent de considérer les couches fabriquées comme homogènes, limitées par deux faces planes et parallèles, caractérisées par des épaisseurs optiques d indépendantes de la longueur d'onde et par des indices optiques indépendants de l'épaisseur

Caractérisation expérimentale des propriétés physiques associées à la formation de l'hélium de décroissance dans les tritiures métalliques

DIJON-BU Sciences Economie (212312102) / SudocSudocFranceF

Progress in the interpretation of near-field optics

International audienc

Photon scanning tunneling microscopy

The Photon Scanning Tunneling Microscopy (PSTM) is the photon analogue of the electron Scanning Tunneling Microscope (STM). It uses the evanescent field due to the total internal reflection of a light beam in a Total Internal Reflection (TIR) prism. The sample, mounted on the base of the prism, modulates the evanescent field. A sharpened optical fiber probes this field, and the collected light is processed to generate an image of the topography and the chemical composition of the surface. We give, in this paper, a description of the microscope and discuss the influence of several parameters such as -- polarization of light, angle of incidence, shape of the end of the fiber -- on the resolution. Images of various samples -- glass samples, teflon spheres -- are presented. 8 refs., 7 figs