1 research outputs found
XFEL: The European X-Ray Free-Electron Laser - Technical Design Report
- Author
- Abela R.
- Aghababyan A.
- Altarelli M.
- Altucci C.
- Amatuni G.
- Anfinrud P.
- Audebert P.
- Ayvazyan V.
- Baboi N.
- Baehr J.
- Balandin V.
- Bandelmann R.
- Becker J.
- Beutner B.
- Blome C.
- Bohnet I.
- Bolzmann A.
- Bostedt C.
- Bozhko Y.
- Brandt A.
- Bratos S.
- Bressler C.
- Brinkmann R.
- Brovko O.
- BrĂĽck H.
- Carneiro J. -P.
- Casalbuoni S.
- Castellano M.
- Castro P.
- Catani L.
- Cavalleri A.
- Celik S.
- Chapman H.
- Charalambidis D.
- Chen J.
- Chergui M.
- Choroba S.
- Cianchi A.
- Clausen M.
- Collet E.
- Danared H.
- David C.
- Decking W.
- Dehler M.
- Delsim-Hashemi H.
- Dipirro G.
- Dobson B.
- Dohlus M.
- Duesterer S.
- Eckhardt A.
- Eckoldt H. -J.
- Edwards H.
- Faatz B.
- Fajardo M.
- Fateev A.
- Feldhaus J.
- Filipov Y.
- Floettmann K.
- Follath R.
- Fominykh B.
- French M.
- Frisch J.
- Froehlich L.
- Gadwinkel E.
- GarcĂa-TabarĂ©s L.
- Gareta J. J.
- Garvey T.
- Gel'mukhanov F.
- Gensch U.
- Gerth C.
- Goerler M.
- Golubeva N.
- Graafsma H.
- Grabosch H. -J.
- Graeff W.
- Grimm O.
- Griogoryan B.
- GrĂĽbel G.
- Gutt C.
- Hacker K.
- Haenisch L.
- Hahn U.
- Hajdu J.
- Han J. H.
- Hartrott M.
- Havlicek J.
- Hensler O.
- Honkavaara K.
- Honkimäki V.
- Hott T.
- Howells M. R.
- Huening M.
- Ihee H.
- Ilday F. Ă–.
- Ischebeck R.
- Jablonka M.
- Jaeschke E.
- Jensch K.
- Jensen J. -P.
- Johnson S.
- Juha L.
- Kaerntner F.
- Kammering R.
- Kapitza H.
- Katalev V.
- Keil B.
- Khodyachykh S.
- Kienberger R.
- Kim J. -W.
- Kim Y.
- Klose K.
- Kocharyan V.
- Koehler W.
- Koerfer M.
- Kollewe M.
- Kong Q.
- Kook W.
- Kostin D.
- Kozlov O.
- Kraemer D.
- Krasilnikov M.
- Krause B.
- Krebs O.
- Krzywinski J.
- Kube G.
- Kuhlmann M.
- Laich H.
- Lange R.
- Larsson M.
- Lee R. W.
- Leuschner A.
- Lierl H.
- Lilje L.
- Limberg T.
- Lindenberg A.
- Lipka D.
- Loehl F.
- Ludwig K.
- Luong M.
- Magne C.
- Maquet A.
- Marangos J.
- Masciovecchio C.
- Maslov M.
- Matheisen A.
- Matyushevskiy E.
- Matzen O.
- May H. -J.
- McCormick D.
- McNulty I.
- Meulen P.
- Meyners N.
- Michelato P.
- Mildner N.
- Miltchev V.
- Minty M.
- Moeller W. -D.
- Monaco L.
- Möller T.
- Nagl M.
- Napoly O.
- Neubauer G.
- Nicolosi P.
- Nienhaus A.
- Noelle D.
- Nunez T.
- Obier F.
- Oppelt A.
- Pagani C.
- Paparella R.
- Pedersen H. B.
- Petersen B.
- Petrosyan B.
- Petrosyan L.
- Petrov A.
- Pflueger J.
- Piot P.
- Plech A.
- Ploenjes E.
- Poletto L.
- Prat E.
- Prat S.
- Prenting J.
- Proch D.
- Pugachov D.
- Pöplau G.
- Quack H.
- Racky B.
- Ramert D.
- Redlin H.
- Rehlich K.
- Reininger R.
- Remde H.
- Reschke D.
- Richter D.
- Richter M.
- Riemann S.
- Riley D.
- Robinson I.
- Roensch J.
- Rosmej F.
- Ross M.
- Rossbach J.
- Rybnikov V.
- Sachwitz M.
- Saldin E.
- Sandner W.
- Schilcher T.
- Schlarb H.
- Schloesser M.
- Schlott V.
- Schmidt B.
- Schmitz M.
- Schmueser P.
- Schneider J.
- Schneidmiller E.
- Schotte F.
- Schrader S.
- Schreiber S.
- Schroer C.
- Schuch R.
- Schulte-Schrepping H.
- Schwarz A.
- Schäfer J.
- Seidel M.
- Sekutowicz J.
- Seller P.
- Sellmann D.
- Senf F.
- Sertore D.
- Shabunov A.
- Simrock S.
- Singer W.
- Sinn H.
- Smith R.
- Sombrowski E.
- Sorokin A. A.
- Springate E.
- Staack M.
- Staykov L.
- Steffen B.
- Stephan F.
- Stephenson B.
- Stulle F.
- Syresin E.
- Sytchev K.
- Sytchev V.
- Tallents G.
- Techert S.
- Tesch N.
- Thom H.
- Tiedtke K.
- Tischer M.
- Tolan M.
- Toleikis S.
- Toral F.
- Treusch R.
- Trines D.
- Tsakanov V.
- Tsakov I.
- Tschentscher T.
- Ullrich F. -R.
- van Rienen U.
- Variola A.
- Vartaniants I.
- Vogel E.
- Vogel J.
- Vuilleumier R.
- Wabnitz H.
- Wanzenberg R.
- Wark J. S.
- Weddig H.
- Weiland T.
- Weise H.
- Wendt M.
- Wenndorff R.
- Wichmann R.
- Will I.
- Winter A.
- Witte K.
- Wittenburg K.
- Wochner P.
- Wohlenberg T.
- Wojtkiewicz J.
- Wolf A.
- Wulff M.
- Yurkov M.
- Zagorodnov I.
- Zambolin P.
- Zapfe K.
- Zeitoun P.
- Ziemann V.
- Zolotov A.
- Publication venue
- DESY
- Publication date
- 01/01/2006
- Field of study
No full text
