XFEL: The European X-Ray Free-Electron Laser - Technical Design Report
- Authors
- R. Abela
- A. Aghababyan
- M. Altarelli
- C. Altucci
- G. Amatuni
- P. Anfinrud
- P. Audebert
- V. Ayvazyan
- N. Baboi
- J. Baehr
- V. Balandin
- R. Bandelmann
- J. Becker
- B. Beutner
- C. Blome
- I. Bohnet
- A. Bolzmann
- C. Bostedt
- Y. Bozhko
- A. Brandt
- S. Bratos
- C. Bressler
- R. Brinkmann
- O. Brovko
- H. Brück
- J. -P. Carneiro
- S. Casalbuoni
- M. Castellano
- P. Castro
- L. Catani
- A. Cavalleri
- S. Celik
- H. Chapman
- D. Charalambidis
- J. Chen
- M. Chergui
- S. Choroba
- A. Cianchi
- M. Clausen
- E. Collet
- H. Danared
- C. David
- W. Decking
- M. Dehler
- H. Delsim-Hashemi
- G. Dipirro
- B. Dobson
- M. Dohlus
- S. Duesterer
- A. Eckhardt
- H. -J. Eckoldt
- H. Edwards
- B. Faatz
- M. Fajardo
- A. Fateev
- J. Feldhaus
- Y. Filipov
- K. Floettmann
- R. Follath
- B. Fominykh
- M. French
- J. Frisch
- L. Froehlich
- E. Gadwinkel
- L. García-Tabarés
- J. J. Gareta
- T. Garvey
- F. Gel'mukhanov
- U. Gensch
- C. Gerth
- M. Goerler
- N. Golubeva
- H. Graafsma
- H. -J. Grabosch
- W. Graeff
- O. Grimm
- B. Griogoryan
- G. Grübel
- C. Gutt
- K. Hacker
- L. Haenisch
- U. Hahn
- J. Hajdu
- J. H. Han
- M. Hartrott
- J. Havlicek
- O. Hensler
- K. Honkavaara
- V. Honkimäki
- T. Hott
- M. R. Howells
- M. Huening
- H. Ihee
- F. Ö. Ilday
- R. Ischebeck
- M. Jablonka
- E. Jaeschke
- K. Jensch
- J. -P. Jensen
- S. Johnson
- L. Juha
- F. Kaerntner
- R. Kammering
- H. Kapitza
- V. Katalev
- B. Keil
- S. Khodyachykh
- R. Kienberger
- J. -W. Kim
- Y. Kim
- K. Klose
- V. Kocharyan
- W. Koehler
- M. Koerfer
- M. Kollewe
- Q. Kong
- W. Kook
- D. Kostin
- O. Kozlov
- D. Kraemer
- M. Krasilnikov
- B. Krause
- O. Krebs
- J. Krzywinski
- G. Kube
- M. Kuhlmann
- H. Laich
- R. Lange
- M. Larsson
- R. W. Lee
- A. Leuschner
- H. Lierl
- L. Lilje
- T. Limberg
- A. Lindenberg
- D. Lipka
- F. Loehl
- K. Ludwig
- M. Luong
- C. Magne
- A. Maquet
- J. Marangos
- C. Masciovecchio
- M. Maslov
- A. Matheisen
- E. Matyushevskiy
- O. Matzen
- H. -J. May
- D. McCormick
- I. McNulty
- P. Meulen
- N. Meyners
- P. Michelato
- N. Mildner
- V. Miltchev
- M. Minty
- W. -D. Moeller
- L. Monaco
- T. Möller
- M. Nagl
- O. Napoly
- G. Neubauer
- P. Nicolosi
- A. Nienhaus
- D. Noelle
- T. Nunez
- F. Obier
- A. Oppelt
- C. Pagani
- R. Paparella
- H. B. Pedersen
- B. Petersen
- B. Petrosyan
- L. Petrosyan
- A. Petrov
- J. Pflueger
- P. Piot
- A. Plech
- E. Ploenjes
- L. Poletto
- E. Prat
- S. Prat
- J. Prenting
- D. Proch
- D. Pugachov
- G. Pöplau
- H. Quack
- B. Racky
- D. Ramert
- H. Redlin
- K. Rehlich
- R. Reininger
- H. Remde
- D. Reschke
- D. Richter
- M. Richter
- S. Riemann
- D. Riley
- I. Robinson
- J. Roensch
- F. Rosmej
- M. Ross
- J. Rossbach
- V. Rybnikov
- M. Sachwitz
- E. Saldin
- W. Sandner
- T. Schilcher
- H. Schlarb
- M. Schloesser
- V. Schlott
- B. Schmidt
- M. Schmitz
- P. Schmueser
- J. Schneider
- E. Schneidmiller
- F. Schotte
- S. Schrader
- S. Schreiber
- C. Schroer
- R. Schuch
- H. Schulte-Schrepping
- A. Schwarz
- J. Schäfer
- M. Seidel
- J. Sekutowicz
- P. Seller
- D. Sellmann
- F. Senf
- D. Sertore
- A. Shabunov
- S. Simrock
- W. Singer
- H. Sinn
- R. Smith
- E. Sombrowski
- A. A. Sorokin
- E. Springate
- M. Staack
- L. Staykov
- B. Steffen
- F. Stephan
- B. Stephenson
- F. Stulle
- E. Syresin
- K. Sytchev
- V. Sytchev
- G. Tallents
- S. Techert
- N. Tesch
- H. Thom
- K. Tiedtke
- M. Tischer
- M. Tolan
- S. Toleikis
- F. Toral
- R. Treusch
- D. Trines
- V. Tsakanov
- I. Tsakov
- T. Tschentscher
- F. -R. Ullrich
- U. van Rienen
- A. Variola
- I. Vartaniants
- E. Vogel
- J. Vogel
- R. Vuilleumier
- H. Wabnitz
- R. Wanzenberg
- J. S. Wark
- H. Weddig
- T. Weiland
- H. Weise
- M. Wendt
- R. Wenndorff
- R. Wichmann
- I. Will
- A. Winter
- K. Witte
- K. Wittenburg
- P. Wochner
- T. Wohlenberg
- J. Wojtkiewicz
- A. Wolf
- M. Wulff
- M. Yurkov
- I. Zagorodnov
- P. Zambolin
- K. Zapfe
- P. Zeitoun
- V. Ziemann
- A. Zolotov
- Publication date
- 1 January 2006
- Publisher
- DESY
- Doi
Abstract
Abstract is not available.Similar works
Full text
