Structural and optical properties of indium oxide thin films prepared by an ultrasonic spray CVD process

cited By 153Polycrystalline In2O3 thin films have been synthesized by a modified chemical vapor deposition process using the pyrolysis of an aerosol generated by ultrahigh frequency spraying of a volatile precursor solution. The deposition has been carried out on glass substrates (350-550 °C). X-Ray diffraction has shown that deposited films are polycrystalline without second phases. The morphology of the surface as function of the substrate temperature has been studied using scanning electron microscopy (LEO Stereoscan 440). Transmission and reflection spectra of the sprayed films were examined in the 260-2600 nm spectral range and, for investigated films, the transmission coefficient in the visible and infrared regions exceed 85% and is weakly affected by deposition temperature. The optical band gap values, E g, ranged between 3.57 and 3.68 eV. The Urbach tail parameter E 0, was calculated for films deposited at different temperatures. © 2003 Elsevier Science B.V. All rights reserved

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A LABORATORY ReflEXAFS SPECTROMETER

Nous présentons un spectromètre simple, spécialement construit pour les mesures de ReflEXAFS. Il utilise un tube de rayons-X conventionnel associé à un miroir parabolique. Un monochromateur à deux cristaux (LiF) permet d'obtenir une résolution de 8,5 eV à 8 keV. Le faisceau incident est monitoré par un compteur proportionnel et le faisceau réfléchi est mesuré par un compteur à scintillation (NaI) qui permet d'éliminer les harmoniques par discrimination d'énergie. Le spectromètre est utilisable de 7 à 18 keV. Les spectres relatifs à la surface d'un échantillon de nickel avant et après oxydation thermique sont présentés.A simple spectrometer using a conventional X-ray generator has been constructed for ReflEXAFS measurements at glancing angle. The X-ray source is a sealed X-ray tube with a parabolic mirror. A monochromator with two flat LiF crystals is used. The energy resolution amounts to 8.5 eV at 8 keV. A proportional counter monitors the incident X-ray intensity and a NaI scintillation detector measures the intensity of the reflected beam. This system is free from fluctuations of the incident X-ray intensity and harmonics can be rejected with the energy discrimination. The range of energy is 7 to 18 keV. The ReflEXAFS spectra related to the surface of a nickel sample and a thermally oxided nickel sample are presented

IN-SITU STUDIES OF ELECTROCHEMICAL INTERFACES USING X-RAY RADIATION AT GRAZING ANGLES. APPLICATION TO LIQUID MERCURY

Après un énoncé sommaire des méthodes permettant l'étude in-situ des interfaces électrochimiques au moyen des rayons X, on expose des résultats nouveaux relatifs à la réflexion des rayons X sur la surface du mercure liquide en contact avec sa vapeur ou un gaz inerte et, pour la première fois, en contact avec l'eau ou un électrolyte.After a survey of the in-situ techniques used to probe the structure of electrochemical interfaces, we present new results obtained by specular X-ray reflectivity on the liquid-vapor, the liquid-gas and, for the first time, the liquid-water and liquid-electrolyte interface of mercury

Synthèses et étude par RMN de

La réaction du borohydrure d’uranium III avec des ligands macrocycliques : éthers couronne ou cryptates, conduit à divers composés isolables. L’étude spectroscopique révèle qu’ils sont les premiers composés d’insertion de UIII en solution