Surfaces roughness effects on the transmission of Gaussian beams by anisotropic parallel plates

Influence of the plate surfaces roughness in precise ellipsometry experiments is studied. The realistic case of a Gaussian laser beam crossing a uniaxial platelet is considered. Expression for the transmittance is determined using the first order perturbation theory. In this frame, it is shown that interference takes place between the specular transmitted beam and the scattered field. This effect is due to the angular distribution of the Gaussian beam and is of first order in the roughness over wavelength ratio. As an application, a numerical simulation of the effects of quartz roughness surfaces at normal incidence is provided. The interference term is found to be strongly connected to the random nature of the surface roughness.Comment: 18 pages, Journal of Physics D: Applied Physics, volume 36, issue 21, pages 2697 - 270

Étude des propriétés optiques de certains métaux en couches minces, en liaison avec leur structure électronique

The absorption of very thin gold, silver and copper layers is inqestigated under a vacuum of about 10-6 torr in the spectral region between 0.2 and 0.7 μ. It is shown that the absorption bands, in the ultraviolet region for silver and in the visible part of the spectrum for gold and copper, are due to electron transitions ; the other anormal absorption bands, the position of which in the spectrum depends upon the thickness of the layers are due essentially to the granular structure of the layers.On étudie, sous un vide de quelques 10-6 torr, l'absorption de couches très minces d'or, d'argent et de cuivre dans la région spectrale s'étendant de 0,2 à 0,7 μ. On montre que les bandes d'absorption, dans l'ultraviolet pour l'argent et dans le visible pour l'or et le cuivre, sont dues à des transitions électroniques, tandis que les bandes d'absorption anormales, dont la position dans le spectre dépend de l'épaisseur des couches, sont dues essentiellement à la structure granulaire de ces dernières

RESTITUTION OF SURFACE PROFILES FROM MICRODENSITOMETER ANALYSIS OF ELECTRON MICROGRAPHS OF SURFACE REPLICAS

On présente une nouvelle méthode d'étude des surfaces rugueuses s'appuyant sur une analyse microdensitométrique de micrographies obtenues par la technique des répliques. On en déduit les fonctions d'autocovariance et les spectres de rugosité de différentes surfaces rugueuses. Les résultats sont comparés avec ceux fournis par d'autres méthodes.A new method for studying surface roughness is presented that uses a microdensitometer to analyse electron micrographs of shadowed surface replicas. Autocovariance functions and roughness spectrums are deduced for various rough surfaces. Results are compared with those provided by other techniques

Étude expérimentale d'un phénomène de résonance se produisant dans les couches minces d'argent

We give the curves for the quantities 2 νκ d and (ν 2 — κ2 — εa) d, as functions of the wave length, for very thin films of silver, of thickness d ; these films were formed and examined under vacuum about 6 × 10—6 Torr. The analogy between these curves and the characteristics of resonaters with given a natural frequency and high damping is very clear. The study of the same thin films under normal pressure shows a change of the natural wave length of the resonator of about 500 Å.On a tracé les courbes donnant les quantités 2 νκ d et (ν 2 — κ2 — εa) d en fonction de la longueur d'onde pour des couches très minces d'argent, d'épaisseur d, préparées et étudiées sous un vide de l'ordre de 6 .10—6 Torr. On a mis en évidence l'analogie que présentent ces courbes avec les caractéristiques de résonateurs ayant une fréquence propre déterminée et un grand amortissement. L'étude de ces mêmes couches minces à l'air a montré un déplacement de la longueur d'onde propre du résonateur de l'ordre de 500 Å