1 research outputs found
Electron Microscopy
- Author
- Albert P.
- Allen J. W.
- Am
- Ancker B.
- Anderson R. E.
- Anderson T. F.
- Asunmaa S.
- Atack D.
- Bahr G. F.
- Barrnett R. J.
- Barta E.
- Bassett G.
- Batea L.
- Beattie H. J. Jr.
- Becker J. A.
- Becker J. A.
- Belser R. B.
- Bendler M.
- Bes
- Bes
- Bessen I. I.
- Best W. G
- Bevilacqua E. M.
- Bhattacharya D. L.
- Bierlein T. K.
- Birks L.
- Bishop F. W.
- Blackman M.
- Botty M. C.
- Botty M. C.
- Bradley D. E.
- Bradley D. E.
- Bradley D. E.
- Bradley D. E. J.
- Brock E. G.
- Brockway L. O.
- Brown A. F.
- Buhl O.
- Burnett B. B.
- Caesberg P.
- Calapaj G. G.
- Calbick C. J.
- Campbell J. D.
- Canaya IC.
- Canaya K.
- Cardile A. J.
- Castaing R.
- Caulfield J. B.
- Challice C. E.
- Champaygne E. F.
- Cimura H.
- Cimura H.
- Cimura IC.
- Claesson S.
- Clark G. L.
- Claver G. C. Jr.
- Cling W.
- Comer J. J.
- Comer J. J.
- Coretskaya T. A.
- Cosslett V. E.
- Cosslett V. E.
- Coulomb P.
- Cuff E. L.
- Códa S.
- D'Agostino-Barbaro A.
- Dargent R.
- De Jorg J. J.
- Desikaohary T. V. J.
- Dowell W. C. T.
- Duncumb P.
- Durandeau P.
- Dyke W. P.
- Déo A. R.
- Eastman Kodak Co
- Ehrenberg W.
- Electron Microscope Society
- Electron Microscope Society of America
- Electron Microscope Society of America
- Electron Microscope Society of America Program
- Elliott R. L.
- EMSA
- Engstriim A.
- Engstriim A.
- Farquhar M. G.
- Faure-Fremiet E.
- Feng M.
- Fernán
- Fisher R. M.
- Fitzgerald P. J.
- Frank F. C.
- Freudenthal A. M.
- Frey-Wyssling A.
- Froula H. C.
- Garbor D.
- Geach G. A.
- Glemser O.
- Gomer R.
- Gomer R.
- Goodman J. F.
- Greenfield I. G.
- Greulich R. C.
- Gross J.
- Gustavson IC. H.
- Haanstra B.
- Haguenau F.
- Hale IC. F.
- Hall C. E.
- Hall D. M.
- Halliday J. S.
- Hamilton J. F.
- Harrison L. G.
- Hashimoto JL
- Henke B. L.
- Herrmann J.
- Hibi T.
- Hibi T.
- Hillier J. RCA
- Hirsch P. B.
- Hock C. IV.
- Horne R. W.
- Huber O. J.
- Kassenbeck P.
- Kaufman E. P.
- Kerr J.
- Kirkpatrick P.
- Kirsch P. B.
- Kitaigorodskil I. I.
- Klein
- Lasko W. R.
- Leeds
- Leisegang S.
- Liebmann G.
- Liége
- Locquin M.
- Long J. V. P.
- Luborskyq F. E.
- Luft J.
- Luft J. H.
- M. C. Botty
- Mader S.
- Marburger R. E.
- Mass
- Maver L.
- McCrone W. C.
- McGee J. F.
- McMillan W. R.
- Mendelsohn L. I.
- Miller
- Miller D. C.
- Ming-Shan Sun
- Moe C. A.
- Montel M.
- Moore D. H.
- Moore D. H.
- Moore L. D.
- Morehead F. F.
- Morgan C.
- Morgan C.
- Muller E. W.
- Müller E. W.
- Müller E. W.
- Müller E. W.
- Müller E. W.
- Nagai S.
- Nemkov G. I.
- Nesbitt E. A.
- New York Microscopical Society
- New York Society of Electron Microscopists
- Newberry S. P.
- Newkirk H. W.
- Newkirk J. B.
- Newkirk J. B.
- Nixon W. C.
- Nixon W. C.
- Nixon W. C.
- Noggle T. S.
- Noll W.
- Novikoff A. B.
- Nutting J.
- Oatley
- Oatley C. W.
- Okada S.
- Okada S.
- Padden T. R.
- Page D. H.
- Palay S. L.
- Peck V. G.
- Pfann W. G.
- Philibert
- Philips Electronics
- Picard R. G.
- Pinsker Z. G.
- Poen O. S.
- Preuss L. E.
- Radczewski O. E.
- Radio Corp. of America Front &
- Ranby B. G.
- Recourt A.
- Reisner J. H.
- Richter G. W.
- Riggs O. L.
- Robinson D. L.
- Rochow E. G.
- Rochow T. G.
- Rollins M. L.
- Rose D. J.
- Rouiller C.
- Rowe F. G.
- Samuelson O.
- Sawkill J. J.
- Sayre J. G.
- Schoon T. G. F.
- Schwartz C. M.
- Scott D. B.
- Scott R. G.
- Scott R. G.
- Sears G. W.
- Sestak B.
- Shapiro L.
- Shelyubskil V. I.
- Siegel B. M.
- Sikorski J.
- Smith K. C. A.
- Steele S. R.
- Stromberg R. S.
- Subbarao E. C.
- Suito E.
- Suito E.
- Suito E.
- Swerdlow M.
- T. G. Rochow
- Tachibana T.
- Takagi R.
- Takahashi N.
- Takahashi N.
- Tam Y.
- Teague D. M.
- Teague M.
- Thomas IV. M.
- Till P. EL Jr.
- Tokyo
- Tripp V. W.
- Trubv F. K
- Uyeda R.
- Uyeda R.
- Vanderhofi J. W.
- Viertel
- Von Borries
- Von Borries B.
- Von Borries B.
- Von Borries B.
- Vyckoff R. W. G.
- Walter E. R.
- Walter E. R.
- Watanabe H.
- Watson J. H. L.
- Watson J. H. L.
- Weissmann S.
- White J. C.
- White J. C.
- Williams B. E.
- Willoughby C.
- Wilsdorf H. G. F.
- Wilson D. V.
- Wolter F. J.
- Wyckoff R. W. G.
- Yamamoto S.
- Yokosuka S.
- Young A. P.
- Zaikovskii F. V.
- Ziegler M.
- Ziegler M.
- Ziegler M.
- Publication venue
- 'American Chemical Society (ACS)'
- Publication date
- Field of study
No full text
