4 research outputs found

    Electric Field and Current Transport Mechanisms in Schottky CdTe X-ray Detectors under Perturbing Optical Radiation

    Get PDF
    Schottky CdTe X-ray detectors exhibit excellent spectroscopic performance but suffer from instabilities. Hence it is of extreme relevance to investigate their electrical properties. A systematic study of the electric field distribution and the current flowing in such detectors under optical perturbations is presented here. The detector response is explored by varying experimental parameters, such as voltage, temperature, and radiation wavelength. The strongest perturbation is observed under 850 nm irradiation, bulk carrier recombination becoming effective there. Cathode and anode irradiations evidence the crucial role of the contacts, the cathode being Ohmic and the anode blocking. In particular, under irradiation of the cathode, charge injection occurs and peculiar kinks, typical of trap filling, are observed both in the current-voltage characteristic and during transients. The simultaneous access to the electric field and the current highlights the correlation between free and fixed charges, and unveils carrier transport/collection mechanisms otherwise hidden

    Π‘Ρ‚Ρ€ΡƒΠΊΡ‚ΡƒΡ€Π½Ρ–, Π΅Π»Π΅ΠΊΡ‚Ρ€ΠΎΡ„Ρ–Π·ΠΈΡ‡Π½Ρ– Ρ‚Π° ΠΎΠΏΡ‚ΠΈΡ‡Π½Ρ– властивості ΠΏΠ»Ρ–Π²ΠΎΠΊ CdZnTe Ρ‚Π° ΠΏΡ€ΠΈΠ»Π°Π΄ΠΎΠ²Ρ– структури Π½Π° Ρ—Ρ… основі

    Get PDF
    ДисСртаційна Ρ€ΠΎΠ±ΠΎΡ‚Π° присвячСна комплСксному Π΄ΠΎΡΠ»Ρ–Π΄ΠΆΠ΅Π½Π½ΡŽ структурних, Π΅Π»Π΅ΠΊΡ‚Ρ€ΠΎΡ„Ρ–Π·ΠΈΡ‡Π½ΠΈΡ… Ρ‚Π° ΠΎΠΏΡ‚ΠΈΡ‡Π½ΠΈΡ… властивостСй полікристалічних ΠΏΠ»Ρ–Π²ΠΎΠΊ Cd1-xZnxTe (CZT) для використання Π² Π΄Π΅Ρ‚Π΅ΠΊΡ‚ΠΎΡ€Π°Ρ… Ρ€Π°Π΄Ρ–Π°Ρ†Ρ–ΠΉΠ½ΠΎΠ³ΠΎ Π²ΠΈΠΏΡ€ΠΎΠΌΡ–Π½ΡŽΠ²Π°Π½Π½Ρ, Π²ΡΡ‚Π°Π½ΠΎΠ²Π»Π΅Π½Π½ΡŽ Π²ΠΏΠ»ΠΈΠ²Ρƒ Π΅Π»Π΅ΠΌΠ΅Π½Ρ‚Π½ΠΎΠ³ΠΎ складу Π½Π° Ρ„Ρ–Π·ΠΈΡ‡Π½Ρ– властивості ΠΏΠ»Ρ–Π²ΠΎΠΊ, Π²ΠΈΠ·Π½Π°Ρ‡Π΅Π½Π½ΡŽ ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€Ρ–Π² основних пасткових Ρ†Π΅Π½Ρ‚Ρ€Ρ–Π², Ρ‰ΠΎ Π²ΠΏΠ»ΠΈΠ²Π°ΡŽΡ‚ΡŒ Π½Π° проходТСння струму Π² ΠΌΠ°Ρ‚Π΅Ρ€Ρ–Π°Π»Ρ–. УстановлСні взаємозв’язки ΠΌΡ–ΠΆ Π΅Π»Π΅ΠΌΠ΅Π½Ρ‚Π½ΠΈΠΌ складом ΠΏΠ»Ρ–Π²ΠΎΠΊ CZT Ρ‚Π° Ρ—Ρ… структурними, субструктурними, ΠΎΠΏΡ‚ΠΈΡ‡Π½ΠΈΠΌΠΈ, Π΅Π»Π΅ΠΊΡ‚Ρ€ΠΈΡ‡Π½ΠΈΠΌΠΈ властивостями ΠΌΠΎΠΆΡƒΡ‚ΡŒ Π±ΡƒΡ‚ΠΈ використані для подальшого створСння Π΄Π΅Ρ‚Π΅ΠΊΡ‚ΠΎΡ€Ρ–Π² Ρ€Π°Π΄Ρ–Π°Ρ†Ρ–ΠΉΠ½ΠΎΠ³ΠΎ Π²ΠΈΠΏΡ€ΠΎΠΌΡ–Π½ΡŽΠ²Π°Π½Π½Ρ Ρ‚Π° Ρ–Π½ΡˆΠΈΡ… ΠΏΡ€ΠΈΠ»Π°Π΄Ρ–Π² ΠΎΠΏΡ‚ΠΎΠ΅Π»Π΅ΠΊΡ‚Ρ€ΠΎΠ½Ρ–ΠΊΠΈ. Π‘Ρ‚Π²ΠΎΡ€Π΅Π½ΠΎ ΠΏΡ€ΠΎΡ‚ΠΎΡ‚ΠΈΠΏΠΈ Ρ‡ΡƒΡ‚Π»ΠΈΠ²ΠΈΡ… Π΄ΠΎ Ρ€Π°Π΄Ρ–Π°Ρ†Ρ–ΠΉΠ½ΠΎΠ³ΠΎ Π²ΠΈΠΏΡ€ΠΎΠΌΡ–Π½ΡŽΠ²Π°Π½Π½Ρ Π΄Π΅Ρ‚Π΅ΠΊΡ‚ΠΎΡ€Ρ–Π² Π½Π° основі товстих ΠΏΠ»Ρ–Π²ΠΎΠΊ CZT. Показано, Ρ‰ΠΎ Π²ΠΈΠΌΡ–Ρ€ΡŽΠ²Π°Π½Π½Ρ фоточутливості ΠΌΠΎΠΆΠ΅ Π±ΡƒΡ‚ΠΈ використанС для ΠΎΡ†Ρ–Π½ΡŽΠ²Π°Π½Π½Ρ Π΄Π΅Ρ‚Π΅ΠΊΡ‚ΠΎΡ€Π½ΠΈΡ… властивостСй полікристалічних ΠΏΠ»Ρ–Π²ΠΎΠΊ CZT Π· ΠΌΠ΅Ρ‚ΠΎΡŽ подальшого Ρ—Ρ… використання як Π΄Π΅Ρ‚Π΅ΠΊΡ‚ΠΎΡ€Ρ–Π² Ρ€Π°Π΄Ρ–Π°Ρ†Ρ–Ρ—. Π£ΠΏΠ΅Ρ€ΡˆΠ΅ ΠΏΡ€ΠΎΠ²Π΅Π΄Π΅Π½ΠΎ модСлювання процСсу Ρ€Π΅ΠΊΠΎΠΌΠ±Ρ–Π½Π°Ρ†Ρ–Ρ— Π½Π΅Ρ€Ρ–Π²Π½ΠΎΠ²Π°ΠΆΠ½ΠΈΡ… носіїв заряду Π² Π΄Π΅Ρ‚Π΅ΠΊΡ‚ΠΎΡ€Π½ΠΈΡ… структурах Π½Π° основі ΠΏΠ»Ρ–Π²ΠΎΠΊ Ρ‚Π²Π΅Ρ€Π΄ΠΈΡ… Ρ€ΠΎΠ·Ρ‡ΠΈΠ½Ρ–Π². Π£ Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚Ρ– модСлювання Π²ΠΈΠ·Π½Π°Ρ‡Π΅Π½ΠΎ ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΈ основних пасткових Ρ†Π΅Π½Ρ‚Ρ€Ρ–Π², Ρ‰ΠΎ Π²ΠΏΠ»ΠΈΠ²Π°ΡŽΡ‚ΡŒ Π½Π° проходТСння Π΅Π»Π΅ΠΊΡ‚Ρ€ΠΈΡ‡Π½ΠΎΠ³ΠΎ струму Π² ΠΌΠ°Ρ‚Π΅Ρ€Ρ–Π°Π»Ρ–.ДиссСртационная Ρ€Π°Π±ΠΎΡ‚Π° посвящСна комплСксному исслСдованию структурных, элСктрофизичСских ΠΈ оптичСских свойств поликристалличСских ΠΏΠ»Π΅Π½ΠΎΠΊ Cd1-xZnxTe (CZT) для использования Π² Π΄Π΅Ρ‚Π΅ΠΊΡ‚ΠΎΡ€Π°Ρ… Ρ€Π°Π΄ΠΈΠ°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½ΠΎΠ³ΠΎ излучСния, ΠΈΠ·ΡƒΡ‡Π΅Π½ΠΈΡŽ влияния элСмСнтного состава Π½Π° физичСскиС свойства ΠΏΠ»Π΅Π½ΠΎΠΊ, ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½ΠΈΡŽ ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€ΠΎΠ² основных Π»ΠΎΠ²ΡƒΡˆΠ΅Ρ‡Π½Ρ‹Ρ… Ρ†Π΅Π½Ρ‚Ρ€ΠΎΠ², Π²Π»ΠΈΡΡŽΡ‰ΠΈΡ… Π½Π° ΠΏΡ€ΠΎΡ‚Π΅ΠΊΠ°Π½ΠΈΠ΅ Ρ‚ΠΎΠΊΠ° Π² ΠΌΠ°Ρ‚Π΅Ρ€ΠΈΠ°Π»Π΅. УстановлСныС взаимосвязи ΠΌΠ΅ΠΆΠ΄Ρƒ элСмСнтным составом ΠΏΠ»Π΅Π½ΠΎΠΊ CZT ΠΈ ΠΈΡ… структурными, субструктурными, оптичСскими, элСктричСскими свойствами ΠΌΠΎΠ³ΡƒΡ‚ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ ΠΈΡΠΏΠΎΠ»ΡŒΠ·ΠΎΠ²Π°Π½Ρ‹ для дальнСйшСго создания Π΄Π΅Ρ‚Π΅ΠΊΡ‚ΠΎΡ€ΠΎΠ² Ρ€Π°Π΄ΠΈΠ°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½ΠΎΠ³ΠΎ излучСния ΠΈ Π΄Ρ€ΡƒΠ³ΠΈΡ… ΠΏΡ€ΠΈΠ±ΠΎΡ€ΠΎΠ² оптоэлСктроники. Π˜Π·Π³ΠΎΡ‚ΠΎΠ²Π»Π΅Π½Ρ‹ ΠΏΡ€ΠΎΡ‚ΠΎΡ‚ΠΈΠΏΡ‹ Ρ‡ΡƒΠ²ΡΡ‚Π²ΠΈΡ‚Π΅Π»ΡŒΠ½Ρ‹Ρ… ΠΊ Ρ€Π°Π΄ΠΈΠ°Ρ†ΠΈΠΎΠ½Π½ΠΎΠΌΡƒ ΠΈΠ·Π»ΡƒΡ‡Π΅Π½ΠΈΡŽ Π΄Π΅Ρ‚Π΅ΠΊΡ‚ΠΎΡ€ΠΎΠ² Π½Π° основС толстых ΠΏΠ»Π΅Π½ΠΎΠΊ CZT. Показано, Ρ‡Ρ‚ΠΎ Π²ΠΎΠ·Π±ΡƒΠΆΠ΄Π°ΡŽΡ‰Π΅Π΅ свСтовоС ΠΈΠ·Π»ΡƒΡ‡Π΅Π½ΠΈΠ΅ Π²ΠΈΠ΄ΠΈΠΌΠΎΠ³ΠΎ Π΄ΠΈΠ°ΠΏΠ°Π·ΠΎΠ½Π° ΠΌΠΎΠΆΠ΅Ρ‚ Π±Ρ‹Ρ‚ΡŒ использовано для ΠΎΡ†Π΅Π½ΠΊΠΈ Π΄Π΅Ρ‚Π΅ΠΊΡ‚ΠΎΡ€Π½Ρ‹Ρ… свойств поликристалличСских ΠΏΠ»Π΅Π½ΠΎΠΊ CZT с Ρ†Π΅Π»ΡŒΡŽ дальнСйшСго ΠΈΡ… использования Π² качСствС Π΄Π΅Ρ‚Π΅ΠΊΡ‚ΠΎΡ€ΠΎΠ² Ρ€Π°Π΄ΠΈΠ°Ρ†ΠΈΠΈ. Π’ΠΏΠ΅Ρ€Π²Ρ‹Π΅ ΠΏΡ€ΠΎΠ²Π΅Π΄Π΅Π½ΠΎ ΠΌΠΎΠ΄Π΅Π»ΠΈΡ€ΠΎΠ²Π°Π½ΠΈΠ΅ процСсса Ρ€Π΅ΠΊΠΎΠΌΠ±ΠΈΠ½Π°Ρ†ΠΈΠΈ нСравновСсных носитСлСй заряда Π² Π΄Π΅Ρ‚Π΅ΠΊΡ‚ΠΎΡ€Π½Ρ‹Ρ… структурах Π½Π° основС ΠΏΠ»Π΅Π½ΠΎΠΊ CZT. Π’ Ρ€Π΅Π·ΡƒΠ»ΡŒΡ‚Π°Ρ‚Π΅ модСлирования Π±Ρ‹Π»ΠΈ ΠΎΠΏΡ€Π΅Π΄Π΅Π»Π΅Π½Ρ‹ ΠΏΠ°Ρ€Π°ΠΌΠ΅Ρ‚Ρ€Ρ‹ Π΄ΠΎΠΌΠΈΠ½ΠΈΡ€ΡƒΡŽΡ‰ΠΈΡ… Π»ΠΎΠ²ΡƒΡˆΠ΅Ρ‡Π½Ρ‹Ρ… Ρ†Π΅Π½Ρ‚Ρ€ΠΎΠ², Π²Π»ΠΈΡΡŽΡ‰ΠΈΡ… Π½Π° ΠΏΡ€ΠΎΡ‚Π΅ΠΊΠ°Π½ΠΈΠ΅ элСктричСского Ρ‚ΠΎΠΊΠ° Π² ΠΌΠ°Ρ‚Π΅Ρ€ΠΈΠ°Π»Π΅.The PhD thesis is devoted to the complex study of structural, electrophysical and optical properties of polycrystalline Cd1-xZnxTe (CZT) films for application in radiation detectors, determination of the chemical composition effect on physical properties of the films, determination of the parameters of free-carriers trap centers influencing the current flow in the material. The established relationships between the chemical elemental composition of CZT films and their structural, microstructural, optical, and electrical properties can be used for the further development of radiation detectors and other optoelectronic devices. The prototypes of radiation detectors based on thick CZT polycrystalline films have been manufactured. The modeling of the recombination process of nonequilibrium charge carriers in detector structures based on CZT films was carried out for the first time. As a result of modeling, the parameters of the main trap centers, which influence the flow of electric current in the material, have been determined
    corecore