Optimal Area Allocation for Yield Enhancement of DAC

Práce seznamuje s metodami návrhu pro zvýšení výtěžnosti a omezení chyb ve shodných strukturách. Systematické a náhodné chyby jsou shledány zdrojem neshod mezi strukturami. Je představen model náhodných chyb za využití log-normálové hustoty pravděpodobnosti. Pomocí nové metodologie založené na celočíselném pogramování (celočíselné optimalizaci) je navržena optimalizace parametrické výtěžnosti integrovaných obvodů. Je představen algoritmus generování optimální topologie. Topologie je demonstrována na R-2R D/A převodníku a výsledky jsou porovnány s jivým řešením.Recent research in yield enhancement techniques and mitigation of device mismatch is presented. Systematic and random mismatch is studied and identified as the cause of device mismatch. Model based on log-normal PDF is introduced. Optimization of IC parameter yield is suggested and conducted with help of a new methodology based on mathematical programming. An algorithm for the impact based area allocation of critical matched devices is shown as well as algorithms for common centroid layout of different sized devices. Newly developed algorithms are presented on binary weighted R-2R DAC as it is a common IC and comparison to other solutions is given