Caracterización multiescala de diodos rectificadores en condiciones de operación para mejorar su fiabilidad

Abstract

Tesis Doctoral inédita leída en la Universidad Autónoma de Madrid, Facultad de Ciencias, Departamento de Física Aplicada. Fecha de Lectura: 16-12-2024Esta tesis tiene embargado el acceso al texto completo hasta el 16-06-2026El desarrollo de este trabajo también fue posible gracias a los proyectos PID2021-124585NB-C33 y PID2020- 114192RB-C41 financiados por MCIN/AEI/10.13039/501100011033 y la ayuda RYC-2013-14436 financiada por MCIN/AEI/10.13039/501100011033 y RYC2021- 031236-I financiada por MCIN/AEI/10.13039/501100011033 y por la “Unión Europea NextGenerationEU/PRTR”. Se agradece también a The European Synchrotron Radiation Facility (The ESRF) y el CSIC por la financiación de los experimentos: A25-02-940, A25-02-997, A25- 02-1030, MA-5391 y A25-02-1074, así como al Centro de Microanálisis de Materiales (CMAM), de la Universidad Autónoma de Madrid (UAM) por la financiación de los experimentos IMP019/22 y IMP013/2