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Medición simultánea en dos dimensiones por interferometría holográfica digital utilizando dos láseres y una cámara 3CCD

By Tonatiuh Saucedo Anaya and Felipe Puch Ceballos

Abstract

Se presenta un arreglo en Interferometría Holográfica Digital (IHD) para medir simultáneamente en 2D micro deformaciones en la superficie de objetos ópticamente rugosos. En el arreglo se usa una cámara 3CCD color y dos fuentes de luz láser de 458nm y 633nm que permite grabar simultáneamente dos hologramas digitales. El arreglo se prueba en una placa metálica la cual es microscópicamente deformada al ser calentada ligeramente por un cautín. Los resultados experimentales muestran el potencial metrológico del sistema para caracterizar cantidades mecánicas en la estructura del objeto

Topics: Science, Q, Science (General), Q1-390, Social Sciences, H, Social sciences (General), H1-99
Publisher: Universidad De La Salle Bajío
Year: 2013
OAI identifier: oai:doaj.org/article:21bcf02a1bd14155855f0ac95f000772
Journal:
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