Skip to main content
Article thumbnail
Location of Repository

Измерение динамических параметров микросхем, находящихся в удаленной испытательной камере

By Б. Н. Лисенков, В. А. Чеховский, В. Л. Дятлов and Н. В. Грицев
Publisher: БНТУ
Year: 2014
OAI identifier: oai:rep.bntu.by:data/14837

Suggested articles


To submit an update or takedown request for this paper, please submit an Update/Correction/Removal Request.